受託解析の製品一覧

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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医療規格「60601-1」等を取得した抗菌プラスチック筐体タッチパネルPCとタッチ・モニター及びBOX型PCの総合カタログ

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小型・薄型・軽量の医療用10型ワイド・パネルPC『WMP-109』をリリース ~Windows 11系列のOS搭載可-小型医療機器向けに最適~

台湾の産業用及び医療用コンピュータ業界でリードするWincommではこの度、小型・薄型・軽量(1.3kg)の医療用10型ワイド・パネルPC『WMP-109』をリリース致しました。 本製品のCPUには新世代のIntel Alder Lake-N N97を搭載し、10型では待望のWindows 11系列のOSも搭載可能なモデルとなります。 新世代のIntel N97 CPUはPassmarkは「5677」となり、従来モデルの『WMP-105(Celeron N3350 - Passmark: 1158)』と比較しますと約5倍の性能となります。

試料の吸熱/発熱の度合いを観察!温度範囲は-90℃~550℃まで可能です

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現いたします

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ラマン分光法による深さ方向への測定!多層膜の表面から各層の材料分析が可能です

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冷却(クライオ)イオンミリング断面加工例(ゴム製品)

プルバックカーのタイヤの接着部について、手法別に断面を作製し 観察した事例をご紹介いたします。 作製した断面のSEM観察を実施するとゴム内部に存在しているフィラーが 確認されました。液体窒素による割断や機械研磨では大小のフィラーの 分散状態や接着界面の様子が明瞭でないことがわかりました。 なお、冷却(クライオ)イオンミリングによって作製された断面ではゴム内に 含まれるフィラーの分散状態やプラスチック基材との接着界面の様子を明瞭に 観察することができます。

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応!

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です!

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LCD部品、製品の品質状態を確認!液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します!

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COG実装の導電粒⼦形状観察

COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします!

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介!

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。

最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします!

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高温時におけるポリマー溶融の遮断機能について確認しました!

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ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析

ICP発光分析による正極材活物質の組成分析についてご紹介します。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与します。 ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分析が可能。 LIB正極材等の組成分析だけでなく、試料に含まれる添加剤や不純物の 定性・定量分析、RoHs指令物質等の定量分析など、様々な分析に適用できます。

濃度の変化をCの変化として検出!dC/dV信号も取得でき、拡散層の解析に有効です

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パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分析と合わせ品質向上に協力致します

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パワーモジュールパッケージ樹脂のひずみ測定

当社にて、基板に実装された状態のパワーモジュールと、実装していない 状態のパワーモジュールの表面にそれぞれひずみゲージと温度計を貼り付け、 ひずみ測定を実施した結果をご紹介いたします。 実装モジュールではやや温度変化が遅く、呼応してひずみの変化も 遅い様子が観察されました。実装されることで、モジュールへの熱の 伝わり方が遅くなっているためと考えられます。 アイテスでは温度サイクル試験や温湿度サイクル試験を行い、その際に 実装部品に生じるひずみを同時に測定することが可能です。お気軽に ご相談ください。

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適!試作から評価まで対応致します

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パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流:最大14mA ■試験数量:最大8個(電源独立) ■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談) ■測定内容:リーク電流のモニタリング ■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)

試料と基準物質の温度差をDTA信号として出力!温度を一定のプログラムによって変化させる

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます!

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3D形状測定機(VR-6200)による基板変形観察

「3D形状測定機による基板変形観察」についてご紹介いたします。 プラスチックやPCB基板の曲げ試験を参考にPCB基板に圧力を加え、 変化状態を3D形状測定機(VR-6200)で計測。 カラーパレットやラインプロファイルで測定結果が確認できるため、 加圧により凹んだ形状や量を視覚的に確認することが可能です。

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm~)の結晶化度評価が可能!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

ガスクロマトグラフィー質量分析法「GC-MS」による液晶パネルの成分比較を掲載!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたします

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当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

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広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

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光学フィルムの光透過特性

株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 のぞき見防止フィルムの角度による光透過性を測定し、断面の観察と ラマンによる分析を組合わせて、機能発現のメカニズムを調べました。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、 断面観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することが 出来ました。 アイテスでは材料物性からその機能発現メカニズムまで一貫して 評価・分析に対応いたします。

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります!

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します!

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他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます!

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パワーデバイス故障箇所・Slice&View 三次元再構築

FIB-SEMのSlice&View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice&View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

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「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

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検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

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外観観察及び計測サービス

当社でご提供する「外観観察及び計測サービス」について ご紹介いたします。 信頼性試験前後の外観観察やはんだ接合部観察、また各種部品の 寸法測定や凹凸測定など、多様な装置を取り揃えてご要望に対応。 観察前処理もお任せください。 当社には、IPC-A-610認証IPCスペシャリストが在籍しております。 国際規格に則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに 対応いたします。

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します!

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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます!

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COG実装の導電粒⼦形状観察

COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能!銅張積層板表面の黒点分析をご紹介します

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!デバイスの劣化状況の推移もモニタリング

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パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流:最大14mA ■試験数量:最大8個(電源独立) ■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談) ■測定内容:リーク電流のモニタリング ■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)

研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!

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「富岳」等スパコンを用いた大規模解析の実績有!計算機利用技術にも長けております

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損傷原因を把握し、再発防止対策に!金属などの各種材料の破断や腐食による損傷など、その要因について調査解析します。

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損傷調査を行うことで損傷原因を究明し再発防止につなげる!

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トラブル原因の究明および対策を立案し、必要に応じて材料評価試験もご提案します!

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ドライブレコーダーやスポーツの試合から自作のデータセットを作成!

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糞便検体を送るだけで、有機酸(短鎖脂肪酸)分析と腸内細菌叢(マイクロバイオーム)解析が可能。室温で保管できる採便キットも販売中!

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糞便中有機酸(短鎖脂肪酸)分析と細菌叢・菌類叢(マイクロバイオーム)解析が可能。採取した糞便を室温で保存可能な採便キットも販売中

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タンパク質の世界を徹底解明!生物学的な研究、医学や環境科学などさまざまな分野で活用

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ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。

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FE-EPMAによる相分析により、材料中の各相の分布を可視化し、微細な相構造を明らかにすることが可能です。

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GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観察可能です。

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軟窒化化合物層の相分布 の評価が可能です。

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歪量の評価には EBSD や XRD (X-Ray Diffraction) が有用な分析手法です。

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EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。

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EBSDを用いて電磁鋼板の用いて配向性を定量化し、磁気特性との関係を調べます。

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EBSDによりフェライト磁石の配向の評価が可能です。

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大同分析リサーチは長年培った材料分析技術でお客様のモーター開発の御支援を行います。

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EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

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共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調査が可能!ラマン分光分析装置を使用

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何らかの原因でCuメッキが異常成長!その上にNiメッキが施されたと推察!

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低放射、高温強度、耐照射性!大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いも可能です!

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mm オーダーの広い領域の結晶構造や結晶方位を高精細に評価可能です。

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EBSDにより焼入れ組織の定量評価が可能です。

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粉末の粒度分布測定が可能です。

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粉体の流動特性を多面的に測定することができるため、複雑な粉体挙動を理解することができます。

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