受託測定の製品一覧
- 分類:受託測定
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SEM装置に搭載されたFIBとTOF型質量分析器を用い、微小箇所の形状観察と元素イメージングを同時に行うことのできる手法です。
- 受託測定
真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます
- 受託測定
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
- 受託測定
- 受託解析
TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化(TG)、吸熱・発熱の熱挙動(DTA)を同時に評価します。
- 受託解析
- 受託測定
ミクロンレベルの加工位置精度を持つウルトラショートパルスレーザーを使用して、低ダメージで速やかに試料を作製することができます。
- 受託解析
- 受託測定
揮発性成分を分析対象とし て、固定相に対する気体の吸着性あるいは分配係数の差異等を利用して成分を分離する手法
- 受託測定
- 受託解析
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
「多くの元素を感度よく測りたい!」というご要望にお応えします。 主成分から微量成分まで70元素以上の同時分析が可能です。
- 受託測定
質量分析法におけるイオン化法の1種であり、試料分子の開裂(フラグメンテーション)を抑制で きるソフトイオン化法です。
- 受託測定
導電性膜でコートされたプローブを用いサンプル表面に交流電圧を印加させることにより、サンプル表面を振動させ電気機械的情報を得ます
- 受託測定