受託サービスの製品一覧
- 分類：受託サービス
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多種で高度な解析が可能！複雑な有限要素モデリングが可能なプリポスト統合型
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- 構造解析
- その他解析
35年の実績を生かし、数値解析の「匠」が一人一人に役立つシミュレーション技術をご提供！
- 受託解析
- 受託解析
- 解析サービス
全世界の様々な分野で使用！建設分野での解析機能をご紹介します！
- 受託解析
- 構造解析
- その他解析
建設分野において使用されている解析機能や解析事例をご紹介します！
- 受託解析
- 構造解析
- その他解析
RoHS分析、SVHC分析、ハロゲン分析など、様々な環境規制に対応したサ－ビスを！高品質、低価格のSGSレポートをご提供！
- 受託解析
- 受託検査
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ディスクリート半導体のIOL試験
当社では「ディスクリート半導体のIOL試験」を行っています。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)は ファンによる強制冷却も行います。 また、試験実施前に代表サンプルを使用し、試験温度条件に到達するように 調整を行います。加熱時の電流/時間、冷却時のファン能力/ 稼働タイミングなどを調整することが可能です。
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）
PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA）光回路（PIC)の設計を行うソフトウェアです。
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計測器のキャリブレーション・バリデーションサポート
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あなたはアメリカ市場ではNRTL（国家認定試験機関）の認証が有効であるという事をご存知ですか？
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計装専門企業だから安心。メーカを問わず一括サービス対応が可能です。
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