テスタのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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テスタ - メーカー・企業333社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年11月26日~2025年12月23日
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テスタのメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社フクダ 東京都/試験・分析・測定
  2. タカヤ株式会社 岡山県/産業用電気機器
  3. 株式会社コスモ計器 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 株式会社東洋精機製作所 東京都/試験・分析・測定
  5. 5 株式会社昭和 愛知県/サービス業

テスタの製品ランキング

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  1. 「総合製品案内」「技術資料」/ フクダのリークテスト 株式会社フクダ
  2. インジェクターテスター(試験機)|CarbonZapp製 株式会社昭和
  3. 【新モデル】フライングプローブテスタ APT-T400J タカヤ株式会社
  4. 4 ノードソンDAGE ボンドテスター(接合強度試験機) オーヨー株式会社
  5. 5 汎用型差圧式エアリークテスター|FLA-0201 series 株式会社フクダ

テスタの製品一覧

136~150 件を表示 / 全 1182 件

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実装技術専門誌 エレクトロニクス実装技術 特集記事公開

国内唯一の実装技術専門誌『エレクトロニクス実装技術』に掲載された特集記事の公開許可を頂きました。こちらよりご覧いただけます。

特集内容  ■BGA実装基板検査の最新動向   フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査    アンドールシステムサポート株式会社 / 谷口 正純 氏    タカヤ株式会社 / 柳田 幸輝 概要 BGA(Ball Grid Array)部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板(以下、BGA実装基板と呼ぶ)を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG(ジェイタグ)バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。 1,はじめに 2,BGA実装基板の検査と課題 3,電気検査の可能性 4,インサーキットテスト 5,JTAGバウンダリスキャンテスト 6,ハイブリッドテスト 7,まとめ

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欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」に タカヤフライングプローブテスタの特集記事を掲載いただきました。

2023年10月に発行されました欧州の電子業界雑誌「EPP」に、タカヤ フライングプローブテスタの紹介記事を掲載頂きました。 タカヤ株式会社および欧州代理店のシステック・ヨーロッパ社は、ドイツ シーメンス社様と長年にわたるパートナーシップを結んでおります。 シーメンス社様の世界フラッグシップ工場「SIEMENS Karlsruhe」では、現在12台のタカヤ フライングプローブテスタが稼働しており、実装基板の信頼性を確保しています。 APT-1600FD-Aの両面同時検査、新ソフトウェアによる検査プログラムの自動セットアップ、自律型搬送システムAMR(Autonomous Mobile Robot)を用いた基板の自動搬送によって 5日/24時間の完全無人検査を実現されています。 また、OPC UAなどの最新インターフェース規格に対応しており、MESシステムとの連携はもちろんのこと 稼働率のモニタリング・不良統計に基づいた検査プログラム自動切り替え環境を構築されております。 関連リンク、ダウンロードページより是非ご覧ください。

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『おかやまテクノロジー展 OTEX2023』出展製品のご紹介

『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』ご来場ありがとうございました。出展製品のカタログをご覧いただけます。

2023年11月7日(火)~8日(水)コンベックス岡山で開催の『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』にて、弊社ブースへお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 「もう一度、展示内容をじっくり見たい」「関連カタログやパネルを手元で見たい」というご要望にお応えできるよう、タカヤブースでご紹介した製品カタログ・展示パネルを公開しています。ぜひご覧ください。

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低抵抗測定モード(0.1mΩ~)【開発中】

タカヤフライングプローブテスタのご紹介です。低抵抗(0.1mΩ~)の測定にチャレンジしています。

タカヤでは、お客様からのさらなるご要望にお応えするため フライングプローブテスタの印加パラメータを調整し、 より低抵抗(0.1mΩ~)を測定できる 独自モードの開発を進めております。*分解能:0.001mΩ フライングプローブテスタは、手で測るタイプの低抵抗計と比較すると 測定プローブから本体までの測定線が長い(5メートル程度)ため、 外部ノイズの影響を考慮したマシン設計が必要ですが、我々は、この点において知見がございます。 また、手でプローブを持って測る場合は、 測定対象にプローブコンタクトする際の力加減・角度・位置が一定ではないため 測定結果のばらつきが発生したり、対象物に与える打痕・ダメージが課題になる可能性がありますが、 弊社のプローブシステムは、ダメージレスコンタクト・高精度コンタクトに定評がございます。 手作業による測定の不確かさを払しょくしたい・測定に手間がかかりすぎているなど、 お困りごとがありましたら 是非お声掛けください。テストトライから喜んでお受けいたします。

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【展示会情報】第38回 ネプコン ジャパン 出展製品のご紹介

「第38回 インターネプコン ジャパン」エレクトロニクス製造・実装展 ご来場ありがとうございました。

当日出展しておりました製品の情報をこちらよりご覧いただけます。 〇産業機器事業部  ・フライングプローブテスタ APT-1600FD-A(実装基板検査装置)   前後装置を連動させた無人連続検査   OPC-UA(OPC Unified Architecture)   MES(製造実行システム)と連動   稼働状況をリアルタイム情報収集・管理 〇RF事業部/ソリューション事業部  ・RFID持出管理システム  ・RFID UHF帯 常時監視システム  ・RFIDを活用した作業実績収集/半導体ICタグ読取  ・RFID×IoT データデバイス「RFID 実績収集システム」  ・バーコードから簡単置換え HIDリーダ・キー入力ツール

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第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料を公開しています。

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日(水)~ 15日(金)に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容 -------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現!

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。 テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。 高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 2025年7月31日(木)、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された 「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において、 本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞いたしました。 審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、 当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞!】【第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 受賞!】

タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

EMS企業様が抱える課題をタカヤのフライングプローブテスタが解決します。

【EMS企業様への導入実績】 ・基板の試作段階から電気的な検査を行うことで、量産前の品質保証を実現。 ・基板設計や部品選定の最適化を早期に行い、後工程での不良削減に寄与。 【お客様がかかえられていた課題】 治具の再作成コスト: 治具式テスタでは、試作や設計変更のたびに専用の治具を再作成する必要がある。 設計変更のたびに治具の修正が求められ、コストや時間が大幅に増加していた。 設計変更への対応力不足: 従来の検査方法では柔軟な設計変更対応が難しい。 リードタイムが長く、試作段階での迅速な検証が難しい場合があった。

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【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

医療機器向け大型基板の検査(バウンダリースキャンとの連携)に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

外観検査・非接触スキャン・物理プロービングを組み合わせた検査体制で、医療機器分野での厳しい信頼性基準を満たし、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・インライン検査での全数検査を実現し、製品品質を保証。 ・バウンダリースキャン技術との連携により、大型基板や複雑な設計基板での不良検出能力を強化。 【お客様がかかえられていた課題】 APT単体での限界: フライングプローブテスタは電気特性検査に優れるが、BGAやQFPなどピン接続が隠れた部品ではプローブの物理的アクセスが困難。 高密度基板ではプロービングだけでカバーしきれない部分が発生。 AOIでの制約: BGAや大型コンポーネントの下部にある不良(ハンダブリッジや接続不良)を検出できない。 多層基板の内部接続や微小短絡は検知できない。 大型基板では視野を超える部分が発生し、全域を効率的に検査するのが難しい。 大型基板や複雑設計の課題: 大型基板では、AOI・APTの双方で検査時間が増加しやすく、生産性が低下。 高密度実装基板での全数検査には、物理プロービングや非接触検査を組み合わせた効率的な検査体制が必要。

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【導入事例】ライティング(LED照明)向け基板検査

ライティング(LED照明)向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

カラーセンサーを活用した自動検査により、目視検査の限界を克服し、品質安定化と効率化を実現します。自動化により作業者の負担を軽減し、一貫性のある検査基準を確立することで、製品の信頼性向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・目視検査から自動検査への移行を実施。 ・カラーセンサーを用いた精密な自動検査で、品質の安定化を達成。 【お客様がかかえられていた課題】 作業者の負担: 目視検査では作業者のスキルや経験に依存するため、長時間作業に伴う疲労や集中力低下が問題。 作業者の負担が増大すると、検査精度が低下するリスクが高まる。 判定基準のばらつき: 目視検査では、人による主観的な判定が混在し、品質基準にばらつきが生じる。 一貫性のない判定が、不良品の流出や過剰検査を引き起こす原因となる。 LED特性の確認難易度: LEDの色味や輝度など、微細な特性の判定が目視では困難。 正確な数値基準に基づく検査が求められる。

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「第21回 JPCA賞(アワード)」奨励賞 を受賞しました。

超精密基板や新素材を使用した高機能基板の検査が可能、プリント回路基板実装検査の新しい基準を確立、業界への貢献を期待

タカヤ株式会社は、「新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの開発」において、その技術的独自性と将来性が高く評価され、一般社団法人 日本電子回路工業会が主催する「第21回 JPCA賞(アワード)」にて 奨励賞を受賞いたしました。 JPCA賞(アワード)は、電子回路技術および関連産業の発展に寄与する優れた製品・技術を顕彰する制度であり、同工業会が主催する展示会「JPCA Show 2025(電子機器トータルソリューション展2025)」の出展者を対象に実施されています。 本賞では、応募された技術・製品に対し『独創性(独自性・オリジナリティ)』『産業界での発展性・将来性』『信頼性』『時世の適合性』といった観点から、学術界・電子回路業界・専門誌編集者などの有識者で構成される選考委員会による厳正な審査が行われます。2025年は 5件の優れた技術・製品が「第21回 JPCA賞(アワード)」として選出されました。当社は昨年に続き、2年連続での受賞となります。 このたびの受賞にあたり、選考委員の皆様をはじめ、日頃よりご支援・ご協力を賜っております関係者の皆様に心より御礼申し上げます。

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i-PRO株式会社様公式ウェブサイトにご掲載いただきました。

装置内部の状態を“見える化”。高精細ネットワークカメラで保守支援を効率化

このたび、i-PRO株式会社様の公式ウェブサイトにて、タカヤ株式会社の事例をご紹介いただきました。 当社では、フライングプローブテスタの開発において、装置内部の状況を遠隔から把握し、トラブル発生時の初動対応を迅速化する仕組みの構築を課題としておりました。 この課題を解決するため、最新モデルであるAPT-2400FおよびAPT-2600FDには、i-PRO株式会社製ネットワークカメラを標準搭載しています。 カメラの搭載により、装置内部の状態をリアルタイムで監視できるため、トラブル対応の迅速化や、検査工程における品質管理の高度化を実現しました。 今回の事例では、 カメラ標準搭載に至った背景 製品選定の理由 運用上の工夫 搭載による効果 について、開発担当者の視点から詳しくご紹介いただいております。 下記関連リンクよりご覧ください。

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CW/Pulse I-Lテスター SEC-7000

両極性に対応する万能タイプのシステム

LDをCW~Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

  • その他計測・記録・測定器

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高輝度LEDテスター

各社分光計測器の制御インターフェイスを標準装備

LEDの電気的・光学特性を測定し、任意のパラメーターで選別あるいは合否判定をする目的のテスター

  • その他計測・記録・測定器

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