更新日： 集計期間:2026年04月01日～2026年04月28日
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レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応！異物や傷、クラック等の検査も可能
『レンズ外観検査装置』は、高速高解像度カメラと照明系を工夫して 小型レンズの（スマホ含む）の外観検査を高速高精度で行います。 異物や傷、クラック等の検査も可能。手動でサンプルを搭載し、検査は 自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより 圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。 また、インラインにも容易に対応致します。 【特長】 ■レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応 ■異物や傷、クラック等の検査も可能 ■高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現 ■インラインにも容易に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最終の両面検査で安心の品質保証を実現！課題を解決しました
当社で取り扱う、基板実装向け両面検査ソリューション『DSIシリーズ』 をご紹介します。 デュアルレーン装置を活用し、一般的な両面検査ラインの 課題を解決すると伴に、大幅に作業も向上。 また、デュアルレーンモデルの検査装置を使用する事で、基板の 搬送時間がキャンセル出来、片面検査装置2台分の検査が可能です。 【特長】 ■片面検査装置2台分の検査が可能 ■ライン長は約3.5m ■作業時間(移動時間)の短縮に繋がる ■基板供給・収納装置付近の空マガジン置き場は不要 ■工場の単位面積当たりの生産性の向上に繋がる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能ラインセンサカメラを搭載可能！検査対象物の大きさや色、素材により適した照明を選択
『HIE-111』は、ハニカム（ハチの巣）構造体の目詰まりを、高精度で 検出するハニカム構造体検査装置です。 高性能ラインセンサカメラを搭載可能。レンズ収差の影響を受けず、 全領域を高精度に検査できます。 池上通信機独自の高度な画像処理技術と光学系により、目詰まり検査の他、 セル数カウントやセル径の計測なども行えます。 【特長】 ■高性能ラインセンサカメラを搭載可能 ■レンズ収差の影響を受けず、全領域を高精度に検査可能 ■検査対象物の大きさや色、素材により、適した照明を選択、システム アップが可能 ■タッチパネルの採用により、直感的な操作性を実現 ■記録した画像をもとに検査シミュレーションが行える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
スマートフォン、タブレット関連検査装置。 カバーガラスにも対応可能。 FPD業界に幅広く実績有り。
小型ガラスパネル外観検査装置は、コンベアで搬送される小型ガラスパネル（スマホ～タブレットサイズ）を画像検査する装置です。1次元カメラを使用し、1枚ずつ移動するワークを撮像、外観検査します。表面と裏面の同時検査仕様や、あらゆる工程へのインライン組み込み等、様々な要望に対応致します。微細な傷や表面不良を検出する照明条件を有し、オプションで透過光を追加する事も可能です。不良を検出したワークについてはNGデータを管理します。オプションでマーキング機構を搭載する事も可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
生地用専用光源による鮮明な画像で高精度な検査を実現！
『Metal-vision(R)2』は、標準4000画素、最高8000画素の画像解像度で、 より厳しい品質要求の金属印刷に対応した印刷品質検査装置です。 サイズ地・アルミ地等、通常の照明ではうまく撮影できない板でも 高コントラストで撮像し、検査の精度と安定度を両立。 表裏の検査データーをシート単位で管理する上下統合ワークフローにより、 品質管理の大幅な合理化を実現します。 【特長】 ■金属地専用に設計された専用照明 ■表裏検査データーを統合管理するワークフロー ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
NG箇所も一目で確認可能！表・裏・側面の異物、成形不良検査をすることができます
『IGシリーズ』は、製品の異物・欠け・成形不良を自動で外観を 検査できる装置です。 防滴仕様IP54相当に対応。NG発生時に画面上にNG製品の画像を表示し、 NG箇所も一目で確認する事が可能です。 また、品種設定の変更履歴を残す事が出来る為、以前の設定に戻すことが できます。 【特長】 ■全周検査の小スペース化を実現 ■防滴対応 ■NG画像表示 ■レシピ管理設定 ■ストロボ検査 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
サイズが小さいにも関わらず、高精度な検査を実施！常識を超える搬送検査装置
『STS330』は、工場内などの広いスペースは必要なく室内の小スペースに 設置し、使用して頂くことが可能な高精度オフライン印刷品質検査装置です。 操作性もタッチモニター方式となっており専門的な知識も必要なく簡単に 使用して頂くことが可能。 サイズが小さいにも関わらず、高精度な検査を実施。分解能は0.1mmとなり、 僅かな欠陥まで逃さずキャッチします。 【特長】 ■室内の小スペースに設置し、使用できる ■操作性はタッチモニター方式 ■専門的な知識も必要ない ■簡単に使用して頂くことが可能 ■分解能は0.1mmとなり、僅かな欠陥まで逃さずキャッチ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂ペレット異物検査装置 IMAGE7000.PE
樹脂ペレットの練り込み異物を高速かつ高精度に検出・除去する検査装置 ■□■特徴■□■ ■高速画像処理技術と粉粒剤異物検査装置の振動搬送技術に新開発、 整列搬送技術を加え、高速・高精度な樹脂ペレット異物検査装置 ■表面層異物及び内部練り込み異物の検査が、独自の 照明・画像処理技術により同時に行うことができる ■透明ペレットの検査が可能 ■独自の整列搬送方式にて、PEWtypeで300万個/hr以上の検査ができる ■WINDOWSオペレーター対話方式による、簡単な操作60品目の品種登録機能 ■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
プリンタ接続、オフライン検査どちらも可能！簡単操作で判り易い画面の検査装置
当社が取り扱う『バーコードラベル検査装置』のご紹介です。 印刷ラベルの品質・差異・欠陥・位置ズレなどを自動検出。 通常のシンボル検査に、ISO/IEC15416対応 (1Dシンボル/合成シンボル)の グレード判定も対応します。 高速な画像処理エンジン「HALCON」を採用し、独自のAI処理を付加して 印刷ラベルの高度な検査を実現しました。 【特長】 ■通常のシンボル検査に、ISO/IEC15416対応のグレード判定も対応 ■印刷抜け、欠け、太り、汚れ、にじみ、 かすれを中心に差異を検出 ■ラベル位置、印刷位置の位置ズレ計測(プレ印刷分離検査可能) ■検査ログ・画像保存機能 ■高精度・高速な画像処理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
RGB照明による半田フィレット検査が可能な基板外観検査装置と3D外観検査装置を保有！
当社が保有する『実装検査装置』をご紹介します。 「22Xシリーズ」は、アングルカメラが8方向で、独自の画像検査技術による 有極性部品と部品識別表示確認が可能なマランツエレクトロニクス社製の 基板外観検査装置です。 「VT-S730H」は、高さ計測に適した位相シフト方式＋はんだ表面の状態に 影響を受けずに形状を捉えるカラーハイライト方式といった3Dと2Dの技術を 組み合わせ、検査項目に合わせて好適な検査を実施するオムロン社製の 3D外観検査装置です。 【保有設備】 ■基板外観検査装置「22Xシリーズ」 ■3D外観検査装置「VT-S730H」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小物部品や製品の最終検査工程で、設置したその日から外観検査に威力を発揮します！
『ZARA-KEN 7』は、考える目を持つ使える外観検査機です。 小物の製品や部品から微細な精密部品まで、外観検査が可能。 簡単操作でマスター登録が完了、複雑な設定がなく、即、戦力になります。 異品・不良品を自動判別し、分別するオプション設計や、 大量検査に応える既設ラインへの組込みにも対応します。 【特長】 ■ワークをランダムに配置し、接触させずに搬送する直進フィーダー ■視差を低減する特殊光学系を採用 ■見やすい検査結果表示画面 ■広い撮像エリアと、高い分解能のセンサーで 高速検査が可能に ■One Actionマスター登録、様々なワークの検査段取り変更が容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
卓越したはんだフィレット検査性能！より歩留まりのよい製造ラインを構築することが可能
『NVI-G350』は、実装工程における貴社の課題を業界最高レベルの検査 パフォーマンスで解決する基盤外観検査装置です。 長年の経験により蓄積したお客様の多様なニーズをノウハウとして成熟。 検査装置として製造不良品の流出を食い止める役割を果たすのはもちろんのこと、 部品搭載位置などの傾向を数値的に管理し、容易に分析することが可能と なっております。 【特長】 ■対象物の形状を高速かつ正確に再現 ■広い範囲の3D・2D画像を効率よく取得 ■自動バックアップ機構 ■プログラム作成時間を当社従来比で1/2に短縮 ■虚報対策にかかる作業負担を大幅に軽減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高解像度カメラによってPTPブリスターシートの欠陥が高精度に検出可能
『PTPブリスター外観検査システム PVIS BP』は、高解像度カメラと 独自特許技術照明による高精度な検査を行います。 画像処理システムV-IPUによりオールインワンシステム(全機能集約)を実現。 PTPブリスターシートの様々な欠陥が独自技術による3ステージ検査で検出します。 また、従来カメラごとにCPUが1台ずつ必要だったものを一般的なCPUの 10数倍の処理能力を持つCPUに集約。培ってきた技術でその処理能力を 最大限に高めることにより大幅な省スペース・省電力化を実現しました。 【特長】 ■独自技術による3ステージ検査 ■画像処理照明電源の集約による省スペース化 ■装置全体の小型化 ■超高性能画像処理システムV-IPU搭載 ■独自の画像処理システム ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品を対象とした外観検査機を一貫して設計、製造しています。
株式会社ヒューブレインの信州松川事業所は、電子部品を対象とした外観検査機を一貫して設計、製造しています。画像処理ユニットは自社製品を搭載、画像検査ロジックはすべて自社開発で、多様なニーズに短期間で対応が可能です。スクリーニング室を2部屋設け、画像検査の成否を大きく左右する照明テストなどを徹底して行います。画像検査に適したハンドラーをご提供致します。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
これ一台で様々な製品の検査ができる！ 全周＋上面検査が可能な汎用型外観検査装置
IKZ-01は、アナモル社の外観検査AI「NuLMiL」を搭載した汎用型外観検査装置です。 ターンテーブルにより、製品全体360°の全周検査が可能となっています。 上方向と横方向のダブル照明により上面・側面の見えにくい欠陥を鮮明に映し出します。 小ロット多品種製造に対応していて、これ1台でさまざまな製品の外観検査が可能です。 ※コンベア搬送対応、ロボットアーム対応などの自動機構成のご提案も可能です。 【特長】 ■360°検査が可能 ■ダブル照明で見えにくい欠陥もハッキリ ■小ロット多品種製造対応、様々な製品の外観検査が可能 ※現在資料ダウンロードしていただいた方限定で無償検証を行っております。 是非、この機会に下の『PDFダウンロード』ボタンから資料の製品の詳細をご覧ください。
産業資材・食品用フィルム製造ラインに好適！検査能力はそのままに、お求めやすい価格のコンパクトモデル
『Mujiken+ LT』は、産業資材・食品用フィルム製造ラインに 適した無地表面品質検査装置です。 連続的に搬送されているウェブの表面上の汚れ、異物、キズ、しわ、 ピンホールなどの品質にかかわる問題を高速で検査し、 不良品の流出を未然に防止します。 「Mujiken」シリーズのコンセプトはそのままに、機能を限定、 簡単操作を実現しました。 また、ステージなどの枚葉検査でもご使用いただけます。 【特長】 ■お求めやすい価格のコンパクトモデル ■システムレイアウトが自由自在 ■産業資材・食品用フィルム製造ラインに好適 ■早期に欠陥原因の手がかりがつかめる ■生産材の無駄を削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモデル。Wafer上の欠陥とムラを同時に検査することが可能。
PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。
株式会社トキナーは光学技術を通じ、社会に貢献します。
チップLEDを高密度実装により高輝度なフラット照射を実現しました。
鏡面材料の表面形状を高速・高精度で3D可視化
鏡面材料(半導体ウェハ、HDD用磁気ディスクなど)の表面形状を高速・高精度で3D可視化するフラットネス検査装置となります。 この装置は、鏡面材料にパターン照明を投影し、その反射光をカメラで撮影、画像処理によってパターンの変化量を演算することで、μm（マイクロメーター）オーダーの精度で歪みや反りなどの表面形状を三次元的に測定します。フィゾー干渉計による測定結果とも高い相関性を示しており、信頼性の高いデータ取得が可能です。さらに、ワンショット撮像により広範囲の表面形状を瞬時に検査できるため、インラインにも適した検査ソリューションとなります。
高速・高容量の圧倒的な検査パフォーマンス！様々な集計機能も標準で搭載しております
『Mujiken Express』は、シート表面の外観検査を高速で行う検査装置です。 ウェブ（シート）状であれば被測定物、基材を選ばず、多様な製品の 外観検査が可能。高機能フィルムはもちろん、一般フィルム、紙、箔など、 検出が困難だった無地素材の欠点を高精度に抽出します。 23インチワイドタッチモニタを採用したことで、検出した微細な欠陥を 遠くからでも大きくハッキリ確認することができるようになりました。 【特長】 ■スピーディなデータ分析を実現 ■自社製画像処理ボードと超高速カメラで高速ライン対応 ■CoaXPress インターフェースの採用 ■大型ワイドタッチモニタの採用 ■充実の周辺機器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンベア上の製品位置や向きの把握に最適です。
画像処理に問わず、マシンビジョン検査装置（設備）においては、検査が満足に出来ることが条件となります。最初からあまり多くの品種、検査項目を全て網羅しようとすると、設備導入納期、及びコストに響き、更にはマシンビジョン検査装置（設備）とし不完全なものになる事もあります。今回は「画像処理情報を元にロボットがピッキングできるように、コンベア上のプラスチック容器の位置や向きを把握できるようにしてマシンビジョン検査ピッキング装置を導入したい。」というお客様の相談内容を例に、事例「位置決め」をご紹介致します。詳しくはお問い合わせください。
円筒内面を高精度に”のぞく”！非接触・高速内面検査装置NOZOC
NOZOCは、ワークを回転させずに円筒内面を高精度に撮像し、欠陥検査を自動化する内面検査装置です。 小型・軽量のため製造ラインに容易に組み込め、PLC（SLMP）やIO制御に対応し、自動化・省人化を強力に支援します。 撮像画像および判定結果は自動保存でき、トレーサビリティ確保にも貢献します。 種類は細径タイプから標準タイプまでラインアップされ、内径Φ5～150mm、深さ最大約200mmまで対応。 傷・打痕・鋳巣・バリ・異物などの欠陥検査に加え、面積・サイズ・ピッチ・色の測定にも対応します。 用途に応じて複数光源を選択でき、金属・樹脂・ガラスなど多様な素材に適応。ソフトウェアの高速化（従来比200%）により、タクトを妨げず生産性を維持しながら高精度検査を実現します。
接続可能なカメラ台数が最大２４台まで接続できる様に改良された表面検査装置！
デジタル高機能演算装置搭載にて目視限界欠陥の検出も 可能にした表面検査装置 ■□■特徴■□■ ■面視野検査、2次元デジタル演算機能により目視に近い検査能力を発揮 ■超高速CCDカメラ、検査物別の専用照明、高速デジタル演算チップ、 コンピューター等の 先端技術をシステム化する事によって 開発された高精度高速検査システム ■階調比較処理、点、画、線、3ラインの並列パイプライン演算処理、 2次元デジタル演算機能を搭載 ■3次評価方式による安定検出が可能で、欠点を濃度（レベル）分別 →幅分別→形状分別の3モード評価にて簡易分別 ■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
卓上型目視検査装置のスタンダードモデル！
『NVS400DM』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気・光学的特性検査に最適な LED高温ハンドラ！
『LED 高温ハンドラ』は、自動供給された照明用LEDデバイスを 設定温度条件下で積分球を使用し、所定のテスターを接続することにより 電気・光学的特性検査を行う装置です。 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
Lサイズ基板対応で610×510mmまで検査可能！２つのカメラで不良を見逃しません！
『NVS400DL』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
狙った欠陥を確実にキャッチ！パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化
『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明＋複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎に複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程を一つの機械で全て対応。
半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目視で欠陥やゆがみなどを検査しますが、それら加工製品の数量が増加すれば、目視検査での見落としや、人件費が膨大に膨れます。 その見落としと、人件費を削減するために、半導体、金属エッチング加工製品の検査工程にPrestigeを導入し、検査工程の見落としから費用の削減までを可能に。 【特長】 ● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能で、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適化照明 ● カメラアングル可変式を採用、明視野～暗視野像の検査 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8/12インチ対応 ● オプション機能により、ウェハ裏面検査に対応
ラインカメラ表裏面検査仕様！黒点異物や気泡異常などシート製品の異物を自動外観検査
『シート外観検査装置』は、シートの微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させることができる検査装置です。 検査基準のコントラストに合わせる事ができ、検査中にNG箇所の画像のみを 表示することが可能。 また、エンコーダパルス撮像手法で、生産速度が変わっても検査画像に 影響しない為、誤検知をすることがありません。 【特長】 ■エンコーダパルス撮像 ■スクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示することができる ■履歴情報を残すことで過去の設定などをさかのぼって閲覧することが可能 ■照明輝度自動追従機能搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
