測定器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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測定器 - メーカー・企業1218社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年04月01日~2026年04月28日
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測定器のメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社キーエンス 大阪府/産業用電気機器
  2. マール・ジャパン株式会社 神奈川県/試験・分析・測定
  3. 大栄無線電機株式会社 東京都/商社・卸売り
  4. 4 トリイ株式会社 愛知県/その他
  5. 5 株式会社シロ産業 大阪府/産業用電気機器

測定器の製品ランキング

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  1. 【OPIE'26出展】レンズ測定:光学式3D形状粗さ測定機 マール・ジャパン株式会社
  2. VR-6000シリーズ ワンショット3D形状測定機 株式会社キーエンス
  3. MCS8A型 8入力 マルチストップTDC (80ps 分解能) 大栄無線電機株式会社
  4. 4 全窒素・全りん/COD測定装置レンタルサービス『NP-Rent』 トリイ株式会社
  5. 5 全自動 画像寸法測定器『IM-X1000シリーズ』 株式会社キーエンス

測定器の製品一覧

751~780 件を表示 / 全 3849 件

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原反形状測定機

多機能性フィルムなど、幅広くご使用が可能です!

ハマノ精機の原反形状測定機は、原反の直径の変位量を接触して測定します。 多機能性フィルム等幅広くご使用いただけます。

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  • 測定器

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【デモ機貸し出し可能】デジタル線幅測定機

デモ機貸し出し可能!プリント配線板の導体幅や絶縁間隔を測定する新ツール!

『AccuLine II』は、プリント配線板の導体幅(トップ・ボトム)や絶縁間隔を 測定できるデジタル線幅測定機です。 スタンドアローンで、導体幅(最大900μm、最小30μm)の自動測定が可能。 TH径(最大 700μm)の手動測定もできます。 また、操作性や測定ターゲット合わせ、メモリ機能が大幅に改善しました。 「アドバンスタイプ」「ベーシックタイプ」「マニュアルタイプ」の3種類を ラインアップしており、お客様の用途に合わせてお選びいただけます。 【特長】 ■スタンドアローン ■自動測定・手動測定が可能 ■導体のボトム・トップ幅を同時測定 ■3.5インチカラーLCD搭載 ■設定により合否判定を表示可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 測定器

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【デモ機貸し出し可】網点測定器『AccuDot(アキュドット)』

デモ機貸し出し可能!高い性能と操作性で信頼できる成果を!

『AccuDot(アキュドット)』は、ハンディ型の網点測定装置です。 大型のカラーLCDを装備。測定部の実画像が装置上に表示されるので、版の 網点はもちろん、印刷物の網点の拡大画像も確認できます。 また、モード切替えにより左右どちらの手での操作にも対応可能。 言語選択もできます。 さらに当製品は、ご使用方法・用途に合わせて「ベーシック」「アドバンス」の 2タイプをご用意しております。 ご購入後のアップグレードも可能となっております。 【特長】 ■ハンディタイプ ■カラーグラフィックLCD ■対話型アシスト機能搭載 ■簡単アップデート ■モデル選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 試験機器・装置
  • 測定器

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EMC測定器 SESD 270<オプション>

タイプは水平カップリングプレーン・グラウンドプレーンです!

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SESD 270』をご紹介します。 タイプは、水平カップリングプレーン・グラウンドプレーンで、 対応規格はIEC/EN 61000-4-2,-4-4,-4-5,-4-6,ISO 10605と なっております。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:水平カップリングプレーン・グラウンドプレーン ■対応規格:IEC/EN 61000-4-2,-4-4,-4-5,-4-6,ISO 10605 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 SESD 280/281<オプション>

タイプはシリコンシート!対応規格はIEC/EN 61000-4-2, ISO 10605

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SESD 280/281』 をご紹介します。 タイプはシリコンシートとなっており、 対応規格はIEC/EN 61000-4-2, ISO 10605です。 掲載カタログにて詳細をご紹介しておりますので、 ダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:シリコンシート ■対応規格:IEC/EN 61000-4-2,ISO 10605 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 SESD 3036<オプション>

ESDシミュレータハンギング用フック!EMC関連製品のご紹介

当社で取り扱う、『SESD 3036』をご紹介します。 Schloeder GmbHシュレーダーのEMC関連製品(オプション)で、 タイプはESDシミュレータハンギング用フックです。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:ESDシミュレータハンギング用フック ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 SESD 30 T 1000<オプション>

EMC関連製品(オプション)のご紹介!バランサー付きサポートアーム

当社で取り扱う、『SESD 30 T 1000』をご紹介します。 Schloeder GmbHシュレーダーのEMC関連製品(オプション)。 タイプはバランサー付きサポートアームとなっております。 掲載カタログにて、詳細をご紹介しておりますので、 ダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:バランサー付きサポートアーム ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 CWG 520<オプション>

対応規格はIEC/EN 61000-4-4,IEC/EN 61000-4-5!3相カップリングネットワーク

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『CWG 520』 をご紹介します。 タイプは3相カップリングネットワークで、 対応規格はIEC/EN 61000-4-4,IEC/EN 61000-4-5です。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様(一部)】 ■タイプ:3相カップリングネットワーク ■対応規格:IEC/EN 61000-4-4,IEC/EN 61000-4-5 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • その他ネットワークツール
  • 測定器

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EMC測定器 SFT 415<オプション>

タイプはキャパシティブカップリングクランプ!EMC関連製品のご紹介

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SFT 415』 をご紹介します。 タイプはキャパシティブカップリングクランプ。 対応規格はIEC/EN 61000-4-4です。 製品の詳細は、掲載カタログにてご覧いただけます。 【仕様】 ■タイプ:キャパシティブカップリングクランプ ■対応規格:IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 SFT 430<オプション>

対応規格はIEC/EN 61000-4-4!高電圧用ケーブルのご紹介です

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SFT 430』 をご紹介します。 対応規格はIEC/EN 61000-4-4となっており、 タイプは高電圧用ケーブルです。 そのほか、製品の詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:高電圧用ケーブル ■対応規格:IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 ST 450-Set<オプション>

バーストインパルスの独立検証に必要!対応規格はIEC/EN 61000-4-4

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『ST 450-Set』 をご紹介します。 タイプはアッテネータで、対応規格はIEC/EN 61000-4-4。 50+1000Ω アッテネータ,ジェネレータやカップリングクランプ (SFT415)でのバーストインパルスの独立検証に必要です。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:アッテネータ ■対応規格:IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 SFT 470<オプション>

磁界用プローブセット!対応規格はIEC/EN 61000-4-4となっております

当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SFT 470』 をご紹介します。 当製品のタイプは磁界用プローブセットで、 対応規格はIEC/EN 61000-4-4です。 その他、詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ:磁界用プローブセット ■対応規格:IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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EMC測定器 EMV-SOFT<オプション>

EMC関連製品のオプション!Schloeder EMC機器用ソフトウェアをご紹介

当社で取り扱う、『EMV-SOFT』をご紹介します。 Schloeder GmbHシュレーダーのEMC関連製品(オプション)。 Schloeder EMC機器用ソフトウェアとなっております。 製品の詳細は、掲載カタログにてご覧いただけます。 【仕様】 ■タイプ:Schloeder EMC機器用ソフトウェア ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • ソフトウェア(ミドル・ドライバ・セキュリティ等)
  • 測定器

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自動計測ソフト事業

三次元データとして表示・出力が可能!生産ラインとPCアプリケーションとの接続経験が豊富!

『自動計測ソフト事業』では、非接触式の機械を用いて、様々な部品・ 製品の計測に対応したソフトウェアの開発を行っております。 三次元センサで多角的に自動計測を行い、結果は三次元データとして 表示・出力することが可能。 これまで、部品の歪みなどの誤差測定や座標計測を可能とするソフトウェアの 開発実績があり、生産ライン(NC、ロボット等生産装置、各種測定機器)と PCアプリケーションとの接続の経験が豊富です。 【特長】 ■非接触式機械を用いて様々な部品・製品の計測に対応 ■多角的に自動計測を行い三次元データとして表示・出力 ■部品の歪み誤差測定や座標計測などのソフトフェア開発実績 ■計測器とPCの接続・PCによる装置制御 ■PLC NCデータ収集 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • ソフトウェア(ミドル・ドライバ・セキュリティ等)
  • 測定器

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高精度測定器『ロジツール LGTシリーズ』

【デモ機貸出OK】高精度ながらロープライスを実現!パソコンで簡単にデータの編集が可能な測定器

『ロジツール LGTシリーズ』は、パソコンと接続して使用する、測定データを簡単に表示・取得・保存可能な高精度測定器です。 バッテリー駆動で、測定データを保存しパソコンで簡単にデータの編集ができます。 コンパクトな設計なので机の上でも場所をとらず、PCの近くで手軽に使用可能です。 【特長】 ■表示、操作部をPC接続型の1つの機能に特化した測定器 ■高精度ながらロープライスを実現 ■PC接続型のユニット ■コンパクトな設計 ■無償コントロールソフトにて操作可能(Webサイトよりダウンロード) ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【製作事例】製品硬度測定機

良いモノづくりは、機械へのこだわりから!フルオーダーメイドの生産設備を提供

当社で行なった、製品の厚さ/硬さの計測を行う「製品硬度測定機」の製作をご紹介いたします。 クライアント様の要望を正確にヒアリングし、使い勝手に合わせた機械を提案するのが当社の強みです。 また、高い技術力と豊富なノウハウの蓄積を継続して、社会に貢献してまいります。 ご用命の際は、お気軽に当社までお問い合わせください。 【製品詳細】 ■製品の厚さ/硬さの計測を行う ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【資料】振動対策のきほん

機械・設備・装置の振動にお困りの方必見!「3つの見える化」で分かる振動対策の手順

本資料では、振動対策の手順や基本をご紹介しております。 「障害振動を数値で見える化し許容振動基準を明確化」「対策製品の効果を 見える化し確実な製品選定」「対策効果の見える化」といった見える化に ついて掲載。 その他にも、見える化をサポートするサービスについてや、難しい振動要素 も簡単に解説しております。 【掲載内容(一部)】 ■見える化 01/障害振動を数値で見える化し許容振動基準を明確化 ■見える化 02/対策製品の効果を見える化し確実な製品選定 ■見える化 03/対策効果の見える化 ■セルフ振動測定サービス/振動測定機を貸出・解析レポート作成をご提出 ■技術者派遣測定/技術者派遣で現地測定・解析レポートまで対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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直角測定器 直角測定器

クリタテクノのオリジナル商品!! 自社設計で開発まで行っております。

クリタテクノより「直角測定器」のご案内です。

  • 距離関連測定器
  • 測定器

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制御弁、コントロールバルブ用 NDXデジタルスマートポジショナー

【TIIS防爆検定合格品】簡単取付け構造、自動校正、大容量スプールで低空気消費。耐振性、非接触構造型スマートポジショナ

バルメット社では回転弁(ボール/バタフライ)・グローブ弁・スマートデジタル製品の 幅広いラインナップを揃えております。 <特長> ーコンパクト設計 ーフィードバックレバーリンケージ不要 ー誤動作防止用前面に蓋を用意 ー簡単取付け構造 ーオートキャリブレーション ー前面設置操作パネル ー非接触構造でレバー類の磨耗や位置ずれの回避 ー大容量スプールのため低空気消費量  スプール容量80Nm3/h、 空気消費量0.1Nm3/h <実績> 2016 & 2017年NDX 世界販売台数 2016年 約 5,000 – 6,000 台 2017年 約 3,000 台 現行モデルND9000の販売台数 2016年 約50,000台、2017年 約25,000台 <用途> 石油化学(リファイナリー) パルプ・製紙 (約 80%) 採鉱 / ファルマ / 食品&美容 / オフショアプロジェクトなど ※詳しくはカタログをダウンロード又はお問合せください

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光学三次元測定器|OPS-1000

従来方式に比べ100倍以上の最小受光感度を持つ超高感度モデル!

『OPS-1000』は、高速波長可変レーザーの技術を干渉計測に 応用した光学三次元測定器です。 最大10万点/秒の高速測定により製造工程での全数自動検査を 可能にします。同軸計測により複雑な形状でも容易に 測定できます。 最小受光感度100dB、ダイナミックレンジ70dBを実現。 三次元測定器では世界最高レベルの性能を 実現しております。 【特長】 ■超高感度 ・最小受光感度100dB、ダイナミックレンジ70dB ■高速測定 ・最大10万点/秒の高速測定により製造工程での全数自動検査が可能 ■同軸計測 ・同軸計測により複雑な形状でも容易に測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【資料】しるとくレポNo.63#回路図の理想と現実(2)

回路図にない寄生インピーダンスもプロなら見抜くことができます!

★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、回路図上には見えない寄生成分の他にも重要な 見えない要素「インピーダンス」についてご紹介します。 インピーダンスとは交流抵抗のことで、通常は単線50Ω、差動100Ωに 規定されていることが多いです。 高周波回路の設計ではインピーダンスは重大な問題になります。 回路図にない寄生インピーダンスもプロなら見抜くことができます。 興味をお持ちの方は是非一度ご連絡下さい。 【掲載内容】 ■LT-spiceで作成した回路図の一例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他半導体
  • コネクタ
  • 測定器

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[XRR]X線反射率法

XRR:X-ray Reflectivity

XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 (2~300nm 程度) ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能(Rms = 5nm 以下) ・非破壊で分析が可能 ・約10×20mm の広い範囲の平均情報を得ることが可能

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[EBIC]電子線誘起電流

試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手法

SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に取り出すことができます。 この起電流をEBIC(Electron Beam Induced Current)と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可視化することが可能です。 ・pn接合部や結晶欠陥(転位、積層欠陥など)の評価が可能。 ・SEM像と重ねることで、接合や結晶欠陥の位置を特定可能。

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[OBIRCH]光ビーム加熱抵抗変動法

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定可能。 ・DC電流経路を可視化。 ・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。

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【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度・ガラス転移温度調査

DSC(示差走査熱量)測定による熱物性評価

二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC(示差走査熱量測定法)を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度(Tg)を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました(図1)。これは昇温加熱により樹脂の重合(硬化)が起きたためです。更に、硬化後の樹脂を室温まで空冷した後、再度DSC測定したところ、樹脂のガラス転移に起因するベースラインの吸熱側へのシフトが確認され、Tg は約116℃でした(図2)。

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【分析事例】SiCダイオードのフォトルミネッセンスマッピング測定

SiC中積層欠陥の検出事例

SiCはパワーデバイス用途向けなどに近年盛んに研究・利用が進んでいます。SiCは種々のポリタイプを持つため、積層配置が乱雑になる積層欠陥などが容易に発生するという問題を持ちます。この欠陥の検出法の一つとして、試料を光で刺激した際に放出される光を分析するフォトルミネッセンス(PL)法があります。 マッピング測定を行い欠陥起因の発光を検出した事例を紹介します。

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【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

通常、SIMS測定では数mm角で表面が平坦なチップを用いて分析を行いますが、1mm 角以下の小さなチップや特殊な形状の試料についても固定の前処理を施すことで分析が可能です。 微量成分を調べたい試料の中には、微小チップやワイヤー状試料など、通常では分析には適さない形状のものがあります(図1)。このような試料では固定を行った後に分析を行います(図2)。他にも試料の断面や側面、特殊な形状の試料においても前処理を施すことで分析が可能となる場合があります。

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SRAの深さ換算について

SRA:広がり抵抗測定法

SR測定は試料を斜め研磨して、その試料面に2探針を移動させながら接触させ、直下の電気抵抗を測定します。 ある測定点における試料表面からの深さは三角関数の定義より、試料の斜め研磨角度をθとした時のSinθの値(ベベルアングル) とベベルエッジからその測定点までの距離の積より求められます。 尚、ベベルエッジから距離は【X-step 】×【測定点数】となります。

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【分析事例】in-situXAFSのRuO2触媒化学状態評価

着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能

in-situ XAFSは、試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、試料の化学結合状態・局所原子構造が評価できます。そのため、触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペクトルの形状から、100℃~200℃の間でRuO2がRuに還元されることが確認されました。

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絶対PL量子収率測定

絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能

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