更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
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不要な放射を捕捉し分析するための重要な機能を実装。
R&S RTO/RTE デジタル・オシロスコープは、電子設計におけるEMI問題を 分析する貴重なツールです。 高入力感度、高ダイナミックレンジ、強力なFFT実装は、不要な放射を捕捉し 分析するための重要な機能です。 【アプリケーション】 ■簡単セットアップ ■広い捕捉帯域幅と周波数領域での分かりやすいナビゲーション ■スペクトルコンポーネントの色分けされた表示による、 オーバーラップFFTの実装 ■相関時間 - 周波数解析のためのゲートFFT ■周波数マスクを使用した散発的なイベントの捕捉 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AIで人や物の動きを時間的に集計し滞留時間をヒートマップ表示。画像、映像の高度な定量分析が可能です。
AIを用いることで、人や物の動きを時間的に集計し、滞留時間をヒートマップ表示することができます。これにより、画像や映像に対する高度な定量的分析が可能になります。 例えば、ある場所における人々の移動パターンを可視化することができます。また、映像中の物体の動きを追跡し、その変化を時間的に把握することもできます。 これらの機能を用いることで、さまざまな分析や可視化が可能になり、人々の生活やビジネスに多大な役立ちをもたらすことが期待されます。
故障解析ほか、耐環境性（温湿度、ガス、塩水）のみならず、機械的性能、物理的性能、電気的性能に着目した評価試験を実施
電気部品であり機構部品。その両方の機能を併せ持ったコネクタには、耐環境性（温湿度、ガス、塩水）のみならず、機械的性能、物理的性能、電気的性能に着目した評価試験を実施することが求められます。ユーロフィンFQLでは、製品の出来栄え評価、規格に応じた長期信頼性評価、を受託します。故障解析も受託しています。
調査業務を変革！AIを活用した交通量調査解析サービスです
『Livestyle eye』は、AIによってカメラ映像から自動で人や車を 解析することにより、人の手動カウントにて行っていた従来の 交通量調査に比べ、圧倒的な量と質の情報を提供するサービスです。 1台のカメラでさまざまな方向の「人」と「車」の流れを同時に解析。 集計対象の属性を認識して属性毎のカウントと動向分析が可能です。 【活用シーン】 ■イベント会場等での集客数、混雑状況分析 ■道路通行量（車種/移動方向）、渋滞状況の分析 ■観光スポットや旅客ターミナルでの通行人数・属性調査 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます！
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【解析内容】 ■初期解析 ・現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、不良症状に合わせて実施 ・セルパネルや周辺回路などの大まかな箇所から、細かいところまで絞り込み ■詳細解析(別途解析費用が発生) ・初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析など好適な手法 をご提案 ・原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シミュレーションによって拡散の経路・障壁を求めることが可能です
半導体の電気的、光学的、磁気的特性は系に含まれる欠陥や不純物による影響を強く受けるため、 設計通りの物性を得るためには欠陥や不純物の挙動を理解し、制御する必要があります。しかしながら、原子レベルのミクロな挙動を実験的な手法から評価するのは難しいため、計算シミュレーションを用いたアプローチが有効となります。本資料ではNEB（Nudged elastic band）法を用いた第一原理計算によって、シリコン結晶中の金属不純物（Fe）について、拡散の経路・障壁を評価した事例を紹介します。
フルセットのメニューはもちろん、免疫沈降部分のみなどのスポットのサービスも提供！
『プロテオーム解析（IP-MS）』は、免疫沈降および共免疫沈降タンパク質を 質量分析で解析するサービスです。 培養細胞で発現させたタグ付きのタンパク質・内在性タンパク質・タグ化化合物と 相互作用するタンパク質を、それぞれに対する抗体による免疫沈降と質量分析 （IP-MS）で解析します。 IP-MSは、その難易度の高さゆえに成功率が最も低い実験のひとつですが、 LabDroid「まほろ」による操作（細胞溶解・磁気ビーズを用いた高精度免疫沈降・ 酵素による断片化とその後処理）によって高い精度と再現性を実現します。 【特長】 ■免疫沈降および共免疫沈降タンパク質を質量分析で解析 ■LabDroid「まほろ」による操作によって高い精度と再現性を実現 ■細胞培養から質量分析測定・解析までを一貫して行う ■研究者のみなさまのご都合に合わせたご相談にも対応 ■免疫沈降部分のみなどのスポットのサービスも提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
食品DNAで付加価値を見える化！環境DNA分析で生物多様性を評価します！
『原料プロファイリングサービス』は、シーケンサー(NGS)による 遺伝子解析により、複数の生物種からなる材料を一斉に遺伝子解析し、 その原料となっている生物種を特定します。 DNA解析が可能な検体であれば、様々な用途に活用可能。 複数の解析プログラムを利用して、出力データのクオリティフィルタリング および系統解析を実施します。 食品検査会社としての経験を活かし、DNA抽出に好適な細胞壁破砕を行い、 損傷したDNA、少量のDNAからでも効率的にDNAを抽出します。 【特長】 ■食品DNAで付加価値を見える化 ■環境DNA分析で生物多様性を評価 ■原材料のオーセンティック確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSD：電子後方散乱回折法
薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。
キーとなる革新的なプロセス技術の研究・製造コストの最適化・歩留まりの改善！
プロセスは、デバイスの原価、品質、性能の決定に役立ち、また設計上の欠点を補うことも多くあります。 TechInsightsは、10人のプロセス専門家をスタッフとして抱え、140年以上にわたって蓄積されたデバイス構造解析の集合的専門知識をご提供します。 デバイスにはCMOS、バイポーラ、BiCMOS、GaAs、SiGe、銅、低誘電体、SOI、歪シリコン、MEMS、TFTが含まれますが、これらに限定されるものではありません。 TechInsightsの専門的技術によって収集されたデータを使用し、お客様の製品または競合製品の構造、材料組成、限界寸法、および製造プロセスに関する情報を、プロセス解析レポートとしてご提供します。 【対応問題例】 ○メモリ（フラッシュ、DRAM、SRAM、FeRAM）を論理デバイスに埋め込む方法 ○より進んだプロセス世代に移行する際のリスクを軽減する方法 ○主要競合製品はどのようなトランジスタ性能を持っているか ○RFデバイスはCMOSにどのように組み込まれているか 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。
X線CTと画像解析技術により、毛髪の定量評価が可能です
ヘアカラーや紫外線、加齢などの影響によりダメージを受けた毛髪は構造変化が起こっており、これらの構造変化を計測することはヘアケア製品の研究開発に重要です。 本事例では、X線CTを用いて毛髪の構造を観察しました。さらに、得られたCT断面像を画像解析することで、コルテックス部分の空隙体積、キューティクル間隔をヒストグラム化しました。このように、X線CTと画像解析を組み合わせることで、毛髪の三次元構造を定量的に評価することが可能です。 測定法： X線CT、計算科学・AI・データ解析 製品分野：バイオテクノロジ・医薬品・化粧品 分析目的：形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能
有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし実用化が進みつつあります。発光層では発光効率を高めるために、ホスト分子中にゲスト分子がドーピングされています。今回、有機EL表示素子において赤色画素の発光層材料の同定を行いました。また、新規に段 差計を用いた発光層の膜厚評価や発光層中におけるゲスト材料の定量を行いました。発光層中のゲスト分子の定性・定量ならびに発光層の膜厚の評価が可能となりました。 測定法：TOF-SIMS・TEM・XPS 製品分野：ディスプレイ 分析目的：組成評価・同定・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
破断面の起点、進行方向の解析により破壊の原因が究明できます
樹脂や金属の部品に破壊（亀裂や破断）が発生した時、 なぜ破壊が発生したのか？ 原因を特定したい時に破面解析が有効です。 破壊された部品に残された形状に潜む特徴を観察することにより、 「どの場所から」起点 「どの方向に」進行方向 「どの様な力が」働いて 破壊したのかを推定します。 例として、ネジの破断面の解析を紹介いたします 破断面の起点、進行方向の解析を行いました これらの解析により破壊原因が究明できます
多変量解析を用いた試料間比較により、製品特性や劣化成分を評価します。
品質管理の一環として、産地や品種に特徴的な成分、ロット間で不良原因となっている成分などについて調べたい場合、複数の試料間での比較が必要になります。LC/MS測定で得られたデータを多変量解析を用いて統計的に処理することで、多数の成分の中から試料に特徴的な成分を見つけることができます。今回は多変量解析の一つである主成分分析（PCA分析）を用いて、リンゴの品種が異なるリンゴジュース3製品間で特徴的な成分について調査した事例をご紹介します。
