受託解析
弊社の長年蓄積したノウハウを活かして、お客様のニーズに応じた受託解析を行います。
弊社の経験豊富な技術者が適切に対応いたします。 ○解析業務を行う人手や時間がない。 ○業務にCAEを導入したいので、教育を含めたサポートをしてほしい。 ○モデル化や解析手法など技術的な課題で困っている。 など、ぜひご相談ください。
- 企業:株式会社エヌ・エス・ティ
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年08月13日~2025年09月09日
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弊社の長年蓄積したノウハウを活かして、お客様のニーズに応じた受託解析を行います。
弊社の経験豊富な技術者が適切に対応いたします。 ○解析業務を行う人手や時間がない。 ○業務にCAEを導入したいので、教育を含めたサポートをしてほしい。 ○モデル化や解析手法など技術的な課題で困っている。 など、ぜひご相談ください。
驚くほど簡単操作で利用できる FEM知識不要のプレス解析 。実機による試し打ちを減らしプレス型作成の工期・コストを低減 。
【簡単操作】 解析を実行するための準備は、ブランクの設定、工程の組み立ての操作だけ 【高速計算】 計算速度は、一般的な演算加速 に加えて独自の 手法により 非常に高速 【ざっくりから詳細まで】 シェル要素の解析で 、ざっくりと成形工程で発生する事象を把握 。続いてソリッド要素の解析で 、成型過程の詳細を正確に予測 【スプリングバックとスプリングフォワード】 成形によるスプリングバックだけでなく、トリム・カット工程によるスプリングバックも計算 スプリングバック変形を考慮した金型形状を求めるスプリングフォワードも計算 【トリム適正化】 ブランクの材料取りを適正にするための機能 。ブラ ンクの初期形状と成形後の目標形状を入力して適正なブランク形状を算出 【CADインターフェイス】 成型に必要な金型形状はCADデータを利用。業界標準のPara SolidやStep形式に加え、Siemens NXや Dassault CatiaV5も読み込み
Windows環境での最高クラスのFEAソリューション
Femapは、世界的に評価の高い、CADに依存しないWindowsネイティブの、高度なエンジニアリング有限要素解析(FEA)用プリ/ポストプロセッサです。
光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察!詳細な構造の解析や元素分析等が可能
市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電池の詳細構造観察を写真を用いてご紹介しております。 【解析概要】 ■Liイオン電池の全体構造及びSEM観察 ■極低加速FE-SEMによるLiイオン電池の詳細構造観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・観察を行います。
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨- 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析- IR-OBIRCH解析:~100mA/10V ~100uA/25V まで対応 エミッション解析:~2kV まで対応 *低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応 ■リーク箇所のピンポイント断面観察-SEM・TEM- 予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/元素分析を実施可能
マイクロスコープやFE-SEMにて破面解析を行うことで、破壊現象の推定が可能!
機械部品として使用される金属材料は、使用方法や使用環境によって 壊れてしまう事があります。 マイクロスコープやFE-SEM(電界放出型走査電子顕微鏡)にて破面解析を 行うことで、破壊現象の推定を行うことができます。 当資料では、SNCM420(ニッケルクロムモリブデン鋼)が使用されている ピニオンシャフトで発生した折損についての解析事例を紹介いたします。 【掲載内容】 ■概要 ■検査事例 ■評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。
SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応!
当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-(D,S)間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の 発光を検出。 発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが 認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
キャンサーパネルを使用してシーケンシングを実施!多様なサンプルのDNAから解析可能
当社で行っている『キャンサーパネルシーケンス解析』をご紹介します。 キャンサーパネルを使用し、腫瘍抑制遺伝子などの全エキソン またはホットスポット変異を、High depthでシーケンシングできます。 多様なサンプル(Formalin-Fixed Paraffin-Embeded〔FFPE〕等)の DNAから解析が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせ下さい。 【プラットフォーム】 ■HiSeq /MiSeq system ■Ion Torrent/Proton ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
遠隔電磁駆動方式(EMSメソッド)のEMSレオメータ「レオボックス」は、少量かつ密閉で粘性解析ができるシステムです
レオボックスプラスは、特許技術「EMS(遠隔電磁回転駆動)メソッド」により、測定プローブを遠隔に制御&検知することで、他の粘度計・レオメータでは難しい密閉測定を可能としました 【機器と遠隔・独立・非接触・少量】 ・測定セルを機器に載せるだけで測定が可能 ・測定毎の機器洗浄は不要 ・ディスポーサブル測定セルで血液・血漿等のバイオハザードにも対応可 ・密閉測定容器で揮発性・臭気性試料にも対応可 ・約0.5mL~の少量 【アプリケーションに応じて各種測定プローブを選択可能】 ・極低粘度域用(0.5~100mPa・s) ・低粘度域用(10~100mPa・s) ・中高粘度域用(100~25,000mPa・s/1,000~1,000,000mPa・s) 【コンパクト設計かつ高い拡張性】 ・測定部は10x10x10cmの世界最小サイズクラス ・測定部と制御部を最長2mまで離すことが可能(ドラフタ内設置) ・高温高圧環境下での粘性測定にも対応可(超臨界流体粘性測定など) ・インラインでの測定にも対応可(インク・培養液など粘性の経時変化測定など)
Simcenter Nastranによるローターダイナミクス!!!
◆◆掲載内容◆◆ ○ローターダイナミクス(Simcenter Nastran)による 安定性解析<脱水槽の挙動> ○キーワード) ローターダイナミクス 脱水槽 洗濯機 ガタつき 危険速度 ○事例概要 洗濯機で脱水すると、脱水槽が激しくガタついた後、安定した回転になります。これは危険速度を通過するためで、静粛性などの検討に不可欠な要素です。本解析例では、脱水槽をモデル化し、停止状態から定常回転状態( 秒速5 回転) までの運動を時刻歴で計算してみました。 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
Unity、iOS/iPadOS、Androidに対応!マーカレスでお手軽モーションキャプチャが可能な姿勢推定AIエンジン
『VisionPose Single3D』はカメラ1台で3D座標を取得し、人の骨格情報をリアルタイムに検出する姿勢推定AIエンジンのSDK(ソフトウェア開発キット)です。 キャリブレーション不要で手軽にモーションキャプチャが可能。 2D画像から3D座標を推定する技術を利用し、2D座標で最大30キーポイント、3D座標で最大17キーポイントの骨格情報を検出します。 解析から得た骨格データは、用途やジャンルを問わず商用利用や研究・開発に利用できます。 ■特長 ・カメラ1台で3D座標を手軽に取得 ・Unity、iOS/iPadOS、Android対応 ・商用利用を含め、用途に制限無し ・すぐに使える2つのアプリを標準添付 └リアルタイム骨格可視化サンプルアプリ「BodyAndColor」 └動画&静止画解析アプリ「VP Analyzer」※iOS/iPad版とAndroid版を除く ・追加学習が可能 ※追加学習はオプションです
故障・不具合発生メカニズム調査から改善策の提案・効果検証まで、専門エンジニアがトータルサポート!
ユーロフィンFQLは、半導体やプリント基板・コネクタなどの回路部品から OEM・ODM製品まで、様々な製品の故障解析に対応します。 “故障解析を行いたいが、十分な設備を保有していない” ”メーカの故障解析レポートに疑問が残る” などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【当社にお任せください】 ■調査プラン:故障現象の把握や、使用状況の確認解析方法の立案 ■非破壊解析:非破壊で異常個所の絞り込み ■破壊解析 :異常発生個所の観察・分析により原因推定 ■結果まとめ:解析結果のまとめ、改善のご提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
熱疲労評価用の材料データベース作成から熱疲労解析のプロセスまでを一貫して提案します!
TMF試験や材料特性試験などの全ての試験メニューのコーディネート、 Abaqus用の材料カード作成、FEMFAT heat用の材料データベース作成を 行っています。 自動車業界をはじめとした各業界、疲労解析に課題を持っている方などに 好適な解析です。 詳細はダウンロード資料をご参照の上、お問い合わせください。 【特長】 ■各種の試験計測 ■CADデータからのモデル作成 ■CFD解析の実施 および 実機相関確認と合わせ込み ■伝熱解析の実施 および 実機相関確認と合わせ込み ■熱疲労解析の実施 および 実機相関確認 ■すべての結果レポートと解析データを納品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Ion PGM次世代シーケンサーによる解析を承ります!
瑞輝科学生物株式会社では、次世代シーケンサーによる受託解析サービス を行っています。 シーケンシングから得られた配列データと公共データベースの検索結果を 基に、「クラスター解析・ヒートマッピング」「自己組織化マップ」 「積上げ横棒グラフによる細菌叢のプロファイリング」といったような 解析結果を作成します。 その他、PCRや定量リアルタイムPCRによる各種検査や、試験法の開発 支援なども行っております。 ご相談案件がございましたら、お気軽にお問い合わせください。 【受託内容】 ■細菌叢解析(16Sメタゲノム) ■環境生物叢解析(16S/18Sメタゲノム) ■アンプリコンシーケンス ■細菌/真菌 RNA-seq(遺伝子発現解析) ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。