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顕微鏡(結晶) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

46～58 件を表示 ／ 全 58 件

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【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

mm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測定事例

当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0.00583 μmという結果となりました。 また、SiC単結晶,SUS316Lのポリシング面の測定では、SiC単結晶 Sa 0.000458 μm、SUS316L Sa 0.000302 μmという結果となりました。 【白色干渉顕微鏡 特長】 ■非接触＆面測定 ・測定対象材質を問わない ・3D計測で面粗さ・線粗さに対応 ■広い測定範囲＆高分解能測定 ・mm単位を超える広い面内測定範囲 ・高さ分解能0.01nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 三次元測定器

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単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察

単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察

走査型電子顕微鏡（SEM）　■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット

単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面を走査型電子顕微鏡（SEM）で観察しました。 PCD（ダイヤモンド焼結体）の刃先表面も観察し、比較しました。 表面の微細な凹凸の違いがはっきりと確認できました。 この違いが加工にどのように影響するか。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他機械要素
  • 加工受託

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高機能材料の解析に『Materials Studio』

高機能材料の解析に『Materials Studio』

高機能材料などの解析シミュレーション はじめ、さまざまなタイプの材料に対応した材料開発シミュレーションソフトウェア

『Materials Studio』 量子力学(密度汎関数法)、古典力学(分子動力学計算)、 メソスケール(散逸粒子動力学計算など)、統計、分析/結晶化ツールを備えた 次世代材料開発向け分子モデリング/シミュレーションツール群。 【特長】 ■材料開発を効率化するシュミレーションソフト 　　業界・分野を問わず、研究、開発、設計、製造に従事される方にご利用いただけます ■さまざまなタイプの材料に対応 ■一つのGUI画面上で、結晶構造の作成、計算条件設定、計算結果表示の 　全てを行うことが可能 【事例】 　トライボケミカル(潤滑)反応 CFRP(炭素系素材)などの解析 　結晶成長や薄膜形成、燃料電池、潤滑剤などの研究開発 　触媒、ポリマーや混合物、金属や合金、電池や燃料電池など ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他
  • 画像解析ソフト

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SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測定事例もご紹介

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材：単結晶GaN（サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ） ■面方位：C面（0001）±0.5° ■GaN膜厚：4.5±0.5μm ■測定条件：後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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イオンミリング加工の受託サービス｜JTL

イオンミリング加工の受託サービス｜JTL

イオンミリング法によるCP加工でダレのない断面試料を作製します。

イオンミリング法による断面加工で、高倍率の観察に必要な精密試料調整を実施致します。 従来の研磨紙・研磨剤を用いた機械研磨では、研磨時の応力によりダレが発生したり、ボイドが潰れたり、割れが発生することがありました。 そういった現象が起きやすい試料でも、非常に弱いイオンビームで研磨加工を行うことにより、微小領域の高倍率観察・分析や結晶方位解析(EBSD)が実施可能な断面試料を作製するとができます。

  • その他の各種サービス
  • 加工受託
  • 表面処理受託サービス

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SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観察可能です。

GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。

  • 受託解析

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価

CIGS薄膜太陽電池のZnO/CdS/CIGSの多結晶へテロ接合界面をSSRM法で分析し、局所的な抵抗分布を計測しました。真空環境下で測定することで、測定表面の吸着水を除去し、高空間分解能を得ることができます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。

  • 受託解析

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【導入事例】高分解能観察と分析機能の両立を実現したFE-SEM

【導入事例】高分解能観察と分析機能の両立を実現したFE-SEM

最大200nAの照射電流は、各種マイクロアナリシスに対応！分析能力も強化

広視野全体像から表面微細構造まで、短い時間で多くの情報を取得できる 「FE-SEM」を導入した事例をご紹介いたします。 表面微細構造、組成、結晶学的情報、形状情報など多彩な イメージング能力を装備。 複数の二次電子信号や反射電子信号が同時に取得でき、これまでより 短い時間で多くの情報を得られるようになりました。 【事例概要(抜粋)】 ■導入製品：HITACHI製SU7000 ・電子源：ZrO/Wショットキータイプエミッター ・二次電子分解能：0.8nm(加速電圧 15kV)、0.9 nm(加速電圧 1kV) ・加速電圧：0.1～30kV ・倍率：20～2,000,000倍(装置スペック) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 分析機器・装置

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［AFM］原子間力顕微鏡法

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能

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  • 受託測定
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共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』

共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』

【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立！コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム

『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する ブルカーならではの高性能システムです。 一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、 性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。 当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な 統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。 また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。 試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の 手順をステップごとにガイドします。 【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト＆堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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【ブログ】微生物解析技術の劇的な進歩　～微生物研究のこれまで～

【ブログ】微生物解析技術の劇的な進歩　～微生物研究のこれまで～

なぜ今さら微生物なのか。それは微生物の利用に新たな可能性が見出されたからです

微生物が初めて認識されたのは17世紀後半、オランダの織物商人によって 顕微鏡が発明された時でした。 長い間、微生物に関する研究の流れは大まかに、特定の条件(主に寒天培地)で 培養できる微生物を獲得し、特長を各種解析装置で解析するという流れでした。 光学顕微鏡や電子顕微鏡を利用した形態解析や1977年に開発されたサンガー法を ベースに改良された手法によりDNA配列を読む遺伝子情報解析、タンパク質を 精製したのち結晶を形成させX線を照射しそれにより形成された回折格子から 逆算してタンパク質の構造を明らかにするタンパク質結晶構造解析など様々な 解析技術が開発され、コツコツと地道に研究が進められてきました。 ※ブログの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 　詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【ナノ材料の小部屋】ブラックカーボン添加による明瞭な構造色(2)

【ナノ材料の小部屋】ブラックカーボン添加による明瞭な構造色(2)

フォトニック結晶の評価では照明が重要に！お役に立ちそうな文献情報をご紹介

試料の構造色を示す写真は、デジタルカメラとデジタル顕微鏡 (KEYENCE VHX-500)で撮影しました。 角度依存性には、2種類の照明を使用。 一つ目(拡散光)は、照明光は特定方向からは来ない照明で、試料は いくつかのシーリングライトと壁からの二次散乱で照らされます。 二番目のタイプは、ファイバー経由での照明(Olympus,LG-PS2)。 照明光は通常方向からおよそ50度傾けた方向から照らします。 二次粒子におけるシリカ粒子の配列は、電子顕微鏡で評価しました。 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 　詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

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断面サンプル研磨の受託サービス｜JTL

断面サンプル研磨の受託サービス｜JTL

ご要望に応じた分析用・観察用の断面サンプルを作製致します。

はんだ接合部断面・溶接部断面の観察や、異物断面の分析、ASSY品の内部の確認などに必要な試料の前処理加工、「対象物の切断→樹脂包埋→研磨」までの試料調整を実施致します。 試料調整だけのご依頼はもちろん、調整後の観察や分析まで一括で承ります。 ・ポリエステル樹脂 大きい製品を埋めるときに使用 樹脂中に塩素を含まない ・アクリル樹脂 透明度が高い 傷が付きにくい ・エポキシ樹脂 硬化収縮率が小さく、ヒビが入りにくい（カタログ値0.5％） 耐熱／耐水／耐薬品／耐候性に優れている 非着体に対し、接着力が優れている 樹脂中に微量に塩素が含まれている ・ポリッシャー 断面サンプル作製時間が短い。（鏡面研磨までの工程が少ない） 主に樹脂材／鋼材などの研磨に使用。 ・精密ポリッシャー 研磨圧力、研磨時間を設定することが可能。 超硬・セラミックなどの硬質材を研磨してもダレを抑えることが可能。

  • その他の各種サービス
  • 加工受託
  • 塑性加工機械(切断・圧延)

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