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電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載！
『TOMOS-60XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 【用途】 ■観察：電子ペーパーの電気泳動、粒子、流体、フィルターなどの表裏同時観察 ■表裏位置ずれ計測：水晶振動子、ＭＥＭＳなどのアライメントマーク、貫通穴の表裏位置ずれ計測 ■表裏寸法計測：水晶振動子、半導体線幅パターンなどの表裏寸法計測 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。
撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能！(視野9mm x 7mm）
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴など、電子部品の表裏を 同時に撮影が可能です。 また、表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.010mm精度で測定できます。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
電子部品・プリント基板の表裏を同時に観察できる低倍率広視野顕微鏡。キズ検査やアライメントマークの位置ずれ測定に好適！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
顕微鏡表裏の光軸ずれ､対物レンズ倍率のバラツキ､カメラのθずれを画像で補正！
当社で取り扱う、両面顕微鏡システム『TOMOSシリーズ』について ご紹介いたします。 4インチステージの「TOMOS-50」、6インチステージの「TOMOS-60」を はじめ、広視野リング照明付きの「TOMOS-50R1」などをラインアップ。 水晶振動子、MEMS、電子部品などの表裏を同時に撮影します。 表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能です。 【TOMOS-50/60 特長】 ■水晶振動子、MEMS、半導体ウエハ、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.3μm精度で測定可能 ■表裏顕微鏡の光軸ずれ、レンズ倍率誤差、カメラθずれを高精度に 画像処理補正 ■オートフォーカス機能、電動XYステージにも対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
光学顕微鏡より遥かに高分解能！ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に適しています
「卓上走査型電子顕微鏡」は、真空中に細く絞った電子線で試料表面を 走査し、試料から出てくる情報を検出して拡大表示させる顕微鏡です。 光学顕微鏡より遥かに高分解能で、ミクロでの表面観察や表面凹凸の 確認に好適。 また、表面観察のほかに、X線検出器を用いたEDS元素分析により、 試料表面にどんな元素がどの程度含まれているかを確認することが可能です。 【特長】 ■加工が難しい試料やそのまま観察したい試料等に有効 ■最大W100mm×D100mm×H40mmまでの試料を試験台にセットできる ■ユーセントリックホルダを活用することで、試料の傾斜・回転が可能 ■ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に好適 ■線検出器を用いたEDS元素分析により、試料表面にどんな元素が どの程度含まれているかを確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
組成観察や立体的な観察が可能！絶縁物試料でも前処理なしでそのまま観察できます
『Miniscope TM4000 Series』は、「使い勝手が良く、簡単に像が出せる 電子顕微鏡があったら」そんなお客様のニーズから生まれた卓上顕微鏡です。 カメラナビによる高スループット化・UVD-CL像観察対応。 さらに、最大設定倍率100,000倍・レポート機能対応です。 TM4000PlusIIとTM4000IIがございます。お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■簡単・スピーディ ■前処理不要 ■高感度4分割反射電子検出器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
