更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな測定メニュをご用意しております。
「紫外可視近赤外分析光度計による分光透過率・反射率測定」 紫外可視から近赤外域までの測定範囲をカバーし、物性の分光特性を解析します。 ●測定応用例 ガラスやプラスチック材料を用いた光学部品の透過率、反射率、及び製品の光学特性の測定 「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性（透過散乱測定、反射散乱測定）を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定
園芸用・農作物用の人工照明や自然照明の放射照度の測定に適した、ハンドヘルドタイプ及びベンチトップタイプの照度計／分光照度計
■PAR(光合成有効放射(Photosynthetically Active Radiation))と呼ばれる400～700nmの光、紫外光及び近赤外光の光照度の測定に最適 ■照度(W/m²)、分光照度(mW/m²/nm)及び光量子密度(µMol/m²/s)の測定が可能
バイアルの形状、厚みの自動検査用途に最適 - 高速・高精度光センサ
色収差共焦点センサによるバイアル測定のアプリケーション資料です。 高速・高精度が特長のプレシテックの光センサで、厚み・形状検査の自動化を実現します。 シングルポイント、デュアルポイント、ラインセンサなどのラインナップがあります。 数nmからのZ分解能、最大70kHzの高速測定が可能です。 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
最大測定範囲150µm、高精度なナノ変位制御に対応
D-050/D-100は、PI社が提供する2電極静電容量センサーで、最大150µmの測定範囲と0.01nmの分解能を実現。 干渉計より高分解能かつ非接触方式のため、ナノメートルスケールの測定に最適です。 パラレル計測に対応し、多軸制御におけるリアルタイム補正も可能。 直線性は0.01%以下（デジタルコントローラー使用時）、バンド幅は最大10kHz。 クリーン環境、半導体製造、計測機器への組込みに適しています。
NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力光で、類まれない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
〇コンパクトで軽量(176mm x 44mm 設置面積、0.4kg) 〇幅広いスペクトルレンジ：350-2300nm(オプションで250-3500nm可能) 〇特許取得済みのコモンパス構造で、堅牢なデザイン。振動の影響を受けません。 〇無制限のスペクトルバンドを連続スペクトルとして提供 〇アライメント済みで、既存のセットアップに簡単に取り付け可能。ターンキーにて使用可能。 〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーによって、高スループット実現 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇スキャンレンジとスペクトル範囲をユーザーにて設定可能。 ユーザーは簡易的な測定からスタートし、スペクトルを確認後、データ取得時間を延長してSN比を上げ、スペクトル分解能を1nmまで下げることが可能。 ※モデルと波長により異なります。
食品・塗装・インクなどの色彩測定に好適！ハンディタイプの分光色差計のご紹介
『NF555』は、軽量・コンパクトで持ち運びが可能なハンディ型 分光色差計です。 400nm～700nmの波長範囲を出力波長20nm間隔で測定。 「ペン方式」「マウス方式」「ステープラ方式（オプション）」と 1台で測定方法は3種類から選択でき、多様なサンプル測定に対応します。 【特長】 ■基準値設定は2種類 ■サンプルに合わせて測定径は2通りから選択 ■見やすいカラー液晶表示 ■測定方式は3種類から選択可能 ■データー出力はBlutoothからでも可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
低比表面積評価にKrが用いられる理由？
Krを用いて低比表面積を測定できるのか？ 吸着断面積は、Kr(0.202 nm2)、N2(0.162 nm2)とKr分子のほうが 25％も大きく、低比表面積測定に向いていません。 理由は、吸着温度・蒸気圧にあります。 定容量法においてガス吸着量を計算する場合、導入したガス量と 吸着しなかったガス量の差から計算します。 当社のホームページにて、詳しく紹介しています。ぜひご覧ください。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多彩なファイバーセンサーと検量線作成機能で、微小なサンプルの微量な水分･成分も迅速かつ精密に測定!
◇使用波長範囲900nm～1700nm、最大3項目を同時に測定 ⇒測定に使用する波長が多く、読み取れるデータが多い分、食品サンプル中の水分や成分（タンパク質/脂質/糖質など）測定だけでなく、フィルムの厚さなどサンプルの定量測定が可能。 ◆最小測定径φ3mmのファイバーセンサを含む8種類のセンサと、検量線チャンネル最大100チャンネルで多種多様なサンプルに対応 ⇒8種類のセンサで、食品や樹脂ペレットなどの固体から溶液中の水分･成分測定まで、幅広いサンプルに対応。検量線作成機能でサンプルに合わせた目盛データを作成、より精密な測定が可能。 ◇最短1秒間隔の連続測定、トリガ機能で測定タイミングを外部出力により制御可能。 ⇒センサプローブを製造ラインや配管（窓越し）に設置して、リアルタイムの成分測定が可能。トリガ機能で、サンプルが流れているときだけの成分値を確実にモニタリング。 当社では本製品のデモ試験も承っております。 ご要望の際はご連絡ください。
色彩と濁度を同時に測定！ 一台でハ－ゼン色数（APHA）・ASTM色数・ヘ－ズ・濁度・分光透過率・吸光度など測定が可能。
『TZ-7700』は、一台で分光透過率・色彩値・石油製品色・ヘーズ(濁度)・ 色汚染度(排水着色度)の5種類の測定が行える測定器です。 白色LEDを採用し、400nm～700nmの波長範囲を出力10nm間隔で測定。 今まで複数の測定器使用が必要だった作業が一回の測定で計測が可能です。 ◇試験管やディスポセルでの測定もできます（オプション） 【特長】 ■色彩と濁度を同時測定 ■白色LEDを採用した分光方式 ■標準の光以外に他光源下での色彩測定が可能 ■大型開放型スライド式扉採用 ■見やすい大型カラー液晶表示採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。
SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1台で輪郭形状測定とRz 2 μm 以上の表面粗さ測定が可能。 高速・高精度に測定、素早く簡単に測定タスクを切替え！
MarSurf シリーズに新しく登場した MarSurf CD 140/280 は、 測定⼿順を⾼速化しシンプルな操作を追及しました。 ● 新クランプシステム → さまざまな形状の部品を素早く取り付け可能 ● CNC機能搭載のZ軸 → 全自動測定をサポート （オプション：CNC駆動によるTY軸の自動操作も可能） ● 測定開始点への⾼速ポジショニング：Z⽅向最⼤ 50 mm/s --- X⽅向最⼤ 200 mm/s ● マグネット式プローブアームホルダー → 工具不要でプローブアームを素早く付け替え ● チップ内蔵プローブ → プローブ交換後の校正作業が不要、自動プローブアーム検出 ※PDFダウンロード時に表示される『興味を持ったきっかけ』の欄は株式会社イプロスのAIによって表示されております。
HAXPES：硬X線光電子分光法
HAXPESでは、試料表面から深い位置まで（～約50nm）の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルクの中まで進んでいるような材料の評価に有効です。
強い反射光やゴーストフレアの原因となる反射率を測定！凹凸のある黒物部品も可能
当社で行った、「反射率測定」の解析事例をご紹介いたします。 部品表面の反射率が高いことで有害なゴーストが発生していることが多く、 測定面の反射率を見ることでコートや表面処理改善に役に立ちます。 反射防止コートが施されたレンズのような透明なものや凹凸のある 黒物部品も可能。指定サンプルや測定箇所のご相談もお受けいたします。 【事例概要】 ■測定項目：波長380～780nm間の反射率 ■測定器：顕微分光測定機「Olympus製 USPM-RU」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
粒径、粒子径分布を求める！水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定の例
動的光散乱法により、液中に分散したナノメートルレベルの粒子を分離する ことなく、粒子径・粒度分布を測定することが可能です。 水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定の例を紹介します。 溶液中の粒子は粒子径に依存したブラウン運動をしており、粒子に光照射した ときに生じる散乱光のゆらぎは、粒子径に依存します。このゆらぎを観測、 解析することで、粒径、粒子径分布を求めることができます。 【アルミナ測定結果・考察】 ■アルミナは、強アルカリ条件から中性に近づくにつれ、等電点に近づく ■粒子表面の電荷が小さくなる ■粒子間の反発が小さくなる ■粒子の凝集が起こっていることが窺える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOCの増減や水質変動を瞬時に高精度で検出可能！メンテナンスフリーで、ランニングコストも低減。
紫外線照射量、サンプル水量、測定アルゴリズムを制御・応用し、 サンプル水の酸化前後の導電率量の増減を指標としてTOC（全有機炭素）の測定を行います。 従来は、バッチ方式による測定やポンプ等の駆動部を使用した構造を主体とした測定技術が主流でしたが、 各測定技術のデメリットを補うことにより、 瞬時のTOCの増減や水質変動を精度良く検出することが可能となり、更にはフリーメンテナンス、ランニングコストの低減をも実現することが可能となりました。 ※詳しくはPDFダウンロードまたはお気軽にお問い合わせください。
