更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
16～20 件を表示 ／ 全 20 件
光電子のエネルギーおよび強度を測定することにより、原子の同定・定量が可能！
「X線光電子分光(XPS)」は、数nmレベルの極表面の組成分析が行える 表面分析手法です。 材料を構成する各元素の電子状態(化学結合・価数・混成・電子相関)も 評価可能であり、中和銃を用いることで絶縁物表面も測定可能であるため、 種々の材料表面の解析に広く利用されています。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【特長】 ■数nmの最表面の組成分析(Li～)が可能 ■感度は、0.1atomic％程度 ■電子状態分析(化学結合・価数・ギャップなど)が可能 ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、数十～数百µmφ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
材料の最表面をXPS（X線光電子分光法）によって評価することで、お客様の材料評価を支援いたします。
X線光電子分光法（XPS）は、様々な分野の開発、品質管理において不可欠なツールです。お客様の製品の性能向上、不良原因の究明、そして次世代材料の開発に、XPSをご活用ください。XPSは、試料の極表面（数nm）にX線を照射し、そこから放出される光電子のエネルギーを精密に分析することで、以下の情報を明らかにできます。 (1)構成元素の特定: リチウム（Li）からウラン（U）までの幅広い元素を分析できます。 (2)深さ方向分析: アルゴンスパッタリングを併用することで、表面から深さ方向の元素組成を評価できます。薄膜の膜厚評価や界面分析に有効です。 (3)大気非暴露分析: 特殊な装置を用いることで、大気に曝すことなく試料を分析できます。これにより、大気中の成分による表面汚染や変質の影響を防ぎ、真の表面情報を取得できます。 (4)絶縁物の測定: 幅広い材料の分析が可能です。
![[HAXPES]硬X線光電子分光法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/e31/2001512026/IPROS13284235485210605376.jpg?w=280&h=280)
HAXPESは、XPS（X線光電子分光）の励起光に硬X線を用いた分析手法です。
HX-PES、HXPESとも呼ばれます。 高エネルギーなX線励起により通常のXPSよりも数～約10倍深い、50nm程度までのバルク状態評価、ダメージレスな界面の結合状態評価を行うことができます。 この装置はGaKα線源（9.25keV）を搭載した実験室機のため、試料作製から測定までのタイムラグを短縮可能です。 ・バルク敏感（～50nm程度）な状態評価 ・非破壊での埋もれた界面の結合状態評価 ・深い内殻軌道を用いた評価（XPSで重畳するオージェピークの回避、分裂のない1s軌道を用いた解析） GCIB（Gas Cluster Ion Beam）によるスパッタを併用した測定や角度分解測定、Al線源（1.49keV）、中和銃、大気非暴露測定などのオプションも備えています。 ・GCIBによるダメージレスなスパッタクリーニング※デプスプロファイルは原則不可 ・Al線源や角度分解測定を用いた結合状態の深さ方向比較 ・大気非暴露下での評価
2 種類の金属箔を XPS 装置内で加熱し、加熱による金属元素の化学状態変化を評価した事例を紹介します。
【分析試料】 (1) Cu 箔：大気中で加熱して変色させた Cu 箔を分析に供しました。 (2) Ag 箔：大気中腐食により変色した Ag 箔を分析に供しました。 【分析方法】XPS 分析 XPS；単色化 AlKα線（アルバック・ファイ製 PHI5000 VersaProbe II） 各試料とも室温で測定後、そのまま装置内（真空下）で 500℃に加熱し、加熱後に再度測定しました。 【まとめ】 XPS 分析を行うことで、真空下での試料の温度上昇に伴う化学状態の変化を評価することが可能です。 また、カネカテクノリサーチが保有する X 線光電子分光（XPS）装置は、今回行った加熱前後での XPS 測定の他に、加熱しながらの XPS 測定も可能であるため、反応速度が遅ければ、化学状態が変化していく様子を評価することも可能です。
極表面の化学組成・結合状態・価数などの情報を得ることができる！
XPS分析の錠剤への応用についてご紹介いたします。 X線光電子分光(XPS)は、X線を試料に照射した際に放出される電子を観測し、 試料内に存在した電子の情報を取り出す分析手法で、極表面の化学組成・ 結合状態・価数などの情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■数nmの最表面の組成分析(Li～)が可能 ■感度は、0.1atomic％程度 ■電子状態分析(化学結合・価数・ギャップなど)が可能 ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、数十～数百μmφ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
