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試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象 を利用して、試料表面を削り取る方法
IP法は、エネルギーおよび方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 CP法（Cross-section Polish）とも言われます。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス（MSTではAｒ）が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分（Ni、P）は検出下限以下でした。 ■特徴 ・広域（約500μｍ～1mm）断面加工が可能 ・機械研磨ダメージの影響がない ・表面汚染がほとんどない ・大気非暴露、冷却加工が可能
高分子鎖に重元素を結合させることで、高分子由 来の構造や形態のコントラストを高め、電子顕微鏡でより明瞭に観察することができます
染色剤は主に3種類あり、観察対象によって使い分けます。 ・四酸化オスミウム（OsO4） 不飽和系高分子材料の?CH=CH-（二重結合）に選択的に反応します。 ・四酸化ルテニウム（RuO4） ポリオレフィン等の飽和系高分子材料の非晶質部に架橋反応します。 ・リンタングステン酸（ H3[P(W3O10)4]・xH2O 略称：PTA） -CONHの官能基を含むポリアミドなどと反応します。
サンプル冷却でセパレータ断面形状を正確に評価
電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、断面加工時に冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。
価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます
放射光を用いた軟X線発光分光（SXES）は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度（pDOS）を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、 1. バルクの情報が得られる 2. 絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3. 検出下限が低い（＜1atomic%） などが挙げられ、特に軽元素(B、C、N、O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。
ご指定の濃度・温度にて溶媒和のミクロな構造が得られます
リチウムイオン電池に用いられる電解液は一般的に溶媒と電解質塩から構成され、マクロには均一系と考えられますが、ミクロな視点から見ると溶媒和などの現象が起こっています。高性能な電池材料の設計にむけて、リチウムイオン溶媒和の局所的な構造や正極、負極へ挿入する際の反応などを理解することは重要です。本資料ではリチウムイオン電池電解液に対して分子動力学シミュレーションによって、リチウムイオン溶媒和のミクロな構造を評価した事例を紹介します。
電解液に含まれる各種成分の定性・定量分析
リチウムイオン二次電池の電解液には、電気伝導率の向上のため、比誘電率の高い溶媒と粘度の低い溶媒が組み合わされて用いられます。また、添加剤や電解質（支持塩）にはLiイオンの輸送のほか、電極表面に被膜を形成する機能があり、様々な性能が求められております。電解液そのものをICP-MSで、 電解液加熱時の揮発成分をGC/MSで、また、電解液の乾固物をTOF-SIMSで評価することにより、溶媒、電解質、添加剤など各種成分の定性・定量分析を行った事例を紹介いたします。
【無料プレゼント】迅速な分析が可能に！FT-IR測定についての技術資料
「ALPHA II」をグローブボックス内に設置することで、迅速な分析が 可能となります。 分析の操作性と効率が向上することはもちろん、試料をその場で分析 できるため、試料を大気暴露させるリスクから解放され信頼性と 精度の高いデータの取得が実現されます。 当資料では「ALPHA II」を用いた、グローブボックス内におけるFT-IR測定の 実験条件について詳しくご紹介しています。 【掲載内容】 ■実験条件 ■測定例 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ・FIBによるパターン描画 ・FIBによる微小対象物の断面作製 他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ■FIBによるパターン描画 ■FIBによる微小対象物の断面作製 ■ナノレベル高精度加工 ■AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができます この事例ではDSCを用いた 「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はDSCの他、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析の各事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
DSC測定による科学的な分析で板チョコの中央部と外周部では「溶け方が異なる」ことがわかります
示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測定することで、同一試料内での熱履歴の違いを測定することが可能です。 皆様の身近なチョコレートの分析を行っています。 この事例はその第3弾「チョコレートのDSC測定定2（製品間の比較）」です。 板チョコの中央部と外周部での溶け方を違いを確認可能ですのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 他の食品でも実績がありますのでお気軽にご相談いただければ幸いです。 ●事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内V型の結晶に揃える作業）で「何が重要か」が分析でわかります
示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測定することで、同一試料内での熱履歴の違いを測定することが可能です。 DSCを用い融解挙動を測定することにより、熱履歴と結晶型の関係を把握することが可能です。製造条件の検討、品質管理に応用できます。 この事例ではDSCを用いた皆様の身近なチョコレートの分析を紹介しています。 その第4弾「チョコレートのDSC測定4（最適生成条件の検証）」です。 チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内、。V型の結晶に揃える作業)で重要なことが分かります。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます
物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります 弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術があります その技術を活用して材料特性を把握していただければ幸いです この事例ではその技術の一例として 「シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 以下に他の事例も多数ありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html
DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます。他食品でも応用可能な本技術を存分に味わってみてください
でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます その他事例もありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html
DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です。通常長時間かかる評価に活かせます
弊社ではDMA測定の結果にWLF則(時間-温度重ね合わせの定理)を適用することにより、実際には測定していない周波数領域での弾性率等を推測できます(マスターカーブの作成) その技術を活用して材料特性を把握してみませんか この事例ではその技術の一例として 「ゴムの長時間変形(クリープ試験)の結果予測」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 以下にその他事例もありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html
【高電圧、大電流のアプリケーションに最適】現状リードタイム24週【IGBT】
BOURNSは新たにMOS構造のゲート入力と、 出力スイッチとして機能するバイポーラ・パワー・トランジスタを 組み合わせたIGBTをリリースしました。 TGFS 技術を採用することで、コレクタエミッタ間飽和電圧V CE(sat)の低減と、 スイッチング損失の低減を図った動作特性を実現。 サンプル依頼は正規代理店のセイワまで、お気軽にお問合せください。
