原子間力顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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原子間力顕微鏡 - メーカー・企業12社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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原子間力顕微鏡のメーカー・企業ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  2. パーク・システムズ・ジャパン株式会社 東京都/試験・分析・測定
  3. 日本カンタム・デザイン株式会社 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 東京都/試験・分析・測定
  5. 5 株式会社東陽テクニカ 神奈川県/試験・分析・測定 慶應義塾大学理工学部中央試験所・ 東陽テクニカ産学連携室 ナノイメージングセンター

原子間力顕微鏡の製品ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. 【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  2. 原子間力顕微鏡(AFM) 日本カンタム・デザイン株式会社
  3. 【新発売!】原子間力顕微鏡『Park NX7』 パーク・システムズ・ジャパン株式会社
  4. 4 環境制御機能搭載・超高性能AFM/SPM Cypher ES オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
  5. 4 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』 パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡の製品一覧

31~36 件を表示 / 全 36 件

表示件数

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【新発売!】原子間力顕微鏡『Park NX7』

【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品!当社が取り扱う原子間力顕微鏡をご紹介!

『Park NX7』は、Park Systemsが持つ新技術がすべて搭載されており、 かつお手頃な価格でお求め頂けます。 当製品は細部に至るまで上位モデル同様に設計されており、 研究を促進することが可能。 また、ボーイングのないフラットな直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、  サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【アプリケーション例】原子間力顕微鏡(AFM)の実験

8チャネルのSpectrum製DigitizerNETBOXがAFMの進化を推進するために必要な高い精度を提供。総合カタログ付き

イギリス・ニューカッスル大学 プレシジョンメカトロニクス研究室での 原子間力顕微鏡(AFM)の実験のアプリケーション例についてご紹介いたします。 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope)は、材料科学における重要な ツールであり、表面の機械的スキャンに使用されます。 表面の原子とナノスコピック針の先端の間に作用する力が測定・計算され、 ナノメートルの何分の1かのオーダーの分解能が得られます。 【概要】 ■AFMテクノロジー ■高精度のマルチチャンネルデジタイザ ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • その他電子部品

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AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2

老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現

柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【分析事例】GaN基板の表面形状分析

AFMによるステップ-テラス構造の可視化

ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は、パワーデバイスや通信・光デバイスなどの幅広い分野で用いられています。デバイスを作製するうえで、ウエハ表面の形状と粗さはデバイス性能に大きく影響します。GaNウエハを成長させる際、支持基板との格子不整合などによる応力の影響で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス幅、ステップ高さ、表面粗さ、オフ角を評価した事例を紹介します。 測定法:AFM 製品分野:パワーデバイス、 電子部品、 照明 分析目的:形状評価、 構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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シミュレーションで実験計測が難しい生体分子構造や動態を調べる

キーワード: 分子シミュレーション 生体分子 統合モデリング 自由エネルギー計算

 様々な疾患も含めた多くの生命現象がタンパク質などの生体分子によって引き起こされており、生命現象の理解や疾患の根本的な治療にはミクロな領域での分子構造やダイナミクスを観察することが重要です。分子動力学シミュレーションは、原子解像度を持つ生体分子モデルを計算機の中に再構築し、物理法則によって分子を動かすことでミクロな振る舞いを「直接」観測することができる技術です。コンピュータの計算能力と相まって近年では計算顕微鏡と呼ばれるまでに発展し、実験を補完する手法として盛んに利用されています。  ただし、創薬や材料開発へ貢献するには「計算時間がかかりすぎる」「モデル精度の限界」という二つの課題があります。1 つ目の課題に対して、我々は効率的なアルゴリズムを導入することで、次世代抗体などのループ構造を短い時間で予測できるよう取り組んでいます。二つ目の課題に対して我々は、統計数理・機械学習による手法を導入して、実験データとシミュレーションを統合してより精度の高い観測を実現する手法開発に取り組んでいます。

  • その他

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