更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EMC評価・対策 ■表示不良解析 ■信頼性試験 ■パネルの評価・解析 ■パネルの構造解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
欠陥部分や歪の傾向などを視覚的に把握する事も可能！形状解析や寸法測定などの解析、評価を代行します
当社は、「形状比較評価」や、「3次元寸法・幾何公差測定」を 行っております。 「形状比較評価」では、3DスキャンしたデータとCADモデルを比較する 事で、形状や加工精度を確認することが可能。 「3次元寸法・幾何公差測定」では、ノギスやマイクロメーターなどの アナログ計測器では出来ない寸法測定、断面解析、形状や姿勢などの 幾何公差を測定する事が可能です。 また、お客様がお持ちの3Dスキャンデータを当社がお預かりし、形状解析や 寸法測定などの解析、評価を代行する「受託解析サービス」も行っております。 【サービス内容】 ■形状比較評価 ■3次元寸法・幾何公差測定 ■受託解析サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に！
磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で 観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【解析フロー】 1.磁場顕微鏡による異常検出 2.3次元X線顕微鏡による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
動的特性についての詳細な構造解析を行うことが可能！クリアなユーザーインターフェイス
『ODS Project』はTPA Projectの構造解析パッケージの一部で、 実測データと測定点ライブラリーを利用することにより振動パターンを 同定し指定した実稼働状態でアニメーション化する実稼働振動形状解析です。 すべての情報を一元的に俯瞰することができ、自動で解析と アニメーション化を行い、すぐに評価を開始することが可能。 また、Time Domain Animation Project(TDA)を利用して非定常的な 構造における振動形状のアニメーション化と解析を行うことが可能です。 【主なフィーチャー】 ■選択したチャンネルをカラーバンドと2Dダイアグラム上に表示し 分析できるオートスペクトル ■追加収録した空気伝搬チャンネルの為のFFTダイアグラム ■アニメーション化する形状の保存と選択の為のShape Table ■MPC値自動計算(モード位相共線性) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小差異解析ワークフローを提案！膨大な成分の中から差の原因となる化合物を特定
材料分析における主な事例として、発生ガス分析、組成分析、分子構造 解析等があります。 当社では、高分子材料の発生ガス分析、熱分解生成物分析、添加剤分析、 劣化解析などに有用なGC-TOFMSを提供。分析目的に合わせた2つのシリーズを ラインアップしております。 お客様の様々なニーズに応じた材料解析手法をご提案しております。 【ラインアップ】 ■Pegasus BT ■Pegasus BT 4D ■Pegasus HRT+ ■Pegasus HRT+4D ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「分析・解析・評価」を通じた課題解決で様々な製品開発に貢献します。
あらゆる材料分野で蓄積してきた信頼性の高い分析・解析技術と、広範囲な業界のお客様からの課題をもとに専門家の視点での分析調査をご提供しています。 ■事業内容■ ○化学成分分析 ○物理分析(表面解析) ○物理分析(構造解析) ○有機分析 ○試料作製 ○EVモーターの分解調査；部品の取り出しから材料分析まで ○ミクロ・硬さ調査 ○材料分析 ○環境測定・分析 ○労働安全衛生 ○受託調査 ※会社案内ご希望の方は、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
豊富な装置と知見！化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします！
液晶材料には様々な種類があり、LCDパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶（LCP）の分子構造を解析した事例をご紹介。 当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。 【事例内容】 ■FT-IR分析による分子構造解析 ■XPS（ESCA）分析による表面官能基（分子団）の把握 ■GC-MSによるLCD用液晶材料分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
COMPO像により組成の違いを識別！酸化状態や微量な腐食原因元素の分布の解析に有効
当社では、XRDとEPMAによる構造分析と元素マッピングを行っております。 FE-EPMAを用いて、微小部の微量元素の検出・分布を明らかにして、 XRDから鉄酸化物の構造決定を行うことが可能。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【詳細】 ■電子像観察(COMPO) ■元素組成・元素分布：FE-EPMA ■結晶構造解析：XRD ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介！
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料と目的に応じた分析手法をご提案！液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介
液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR：主成分分析 ■EDX：元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析（劣化解析）ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複合解析で活性化率に関する評価が可能
SIMSによる不純物濃度分布とSRAによるキャリア濃度分布を比較することで、ドーパントの活性化状態がわかるだけでなく、整合しない領域には未知の不純物の存在、構造的な問題の内在が示唆されます。 Profile Viewerを用いれば、お手元でSIMSのデータとSRAのデータを重ね、解析することが可能です。 一例として、市販のダイオードチップについて、パッケージ開封後のダイオードチップ表面中央部と外周部（図1）および裏面について、SIMSとSRAを行った事例をご紹介します。
高分子、プラスチック、複合材料等を主な対象とした各種の分析を行います。
高分子の構造解析、分子量測定、組成分析の他、熱分析、レオロジー等の熱的特性、重金属をはじめとする各種元素分析、溶出試験、その他の各種分析試験を行うサービスです。また、長年のノウハウを活かし、各種配合材料 (コンパウンド、電子材料、塗料、接着剤等) の成分分析・全組成分析を行います。
エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数（屈折率・消衰係数）や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. エリプソメトリーについて ３. PVA膜スピンコート直後の経時変化 ４. シリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価 ５. おわりに
Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察
リチウムイオン二次電池の電極は、正極・負極ともに活物質・導電助剤・バインダから構成されています。 電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このうち、充填度やボイドを観察する方法として完全ドライ雰囲気で加工・観察が出来るFIB-SEM観察が非常に有効です。更に三次元的な観察(Slice & View)を行うことで電極の様子を直接的に評価することが出来ます。
他元素を波形解析することでLiの結合状態別存在比を算出出来ます
リチウムイオン二次電池において、SEI層(固体電解質界面)は電池の寿命に大きく関わる要素であり、そこに含まれるLiの化学種を知ることは重要です。Li自身はケミカルシフトが小さく直接の評価が困難ですが、結合相手元素（C、O、F、P）を波形解析で状態分離することにより、Liの結合状態別存在比を算出することが出来ます。サイクル試験前後のLiの状態評価をしたところ、試験後では試験前に比べて、Li2CO3、 Li-POxFyの存在比が増加することが判りました。
