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エスタカヤ電子工業株式会社

設立1979年8月
住所岡山県浅口郡里庄町里見3121-1
電話0865-64-4131
  • 公式サイト
最終更新日:2022/10/17
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半導体パッケージングサービス COF実装サービスのご紹介

大量生産から少量試作まで対応可能。製品開発、材料調達、組み立て、電気特性検査に一貫対応

当社は、COF(Chip On Film)の実装サービスを手掛けています。 生産性に優れたリールtoリール工法による自社開発設備をはじめ 一貫設備を多数保有しており、ディスプレイ用途に限らず、 COFの製品特徴(フィルム折り曲げ性、微細配線ピッチ対応、薄型対応)を生かし、 多様化するお客様のご要望に対応可能です。 【サービスの特長】 ■微細配線ピッチ製品の量産化が可能 (量産実績:22umピッチ、試作実績:18umピッチ) ■複数ICの実装、補強板貼付け、部品実装、穴あけ、個片化、  各種信頼性試験の実施など、様々なニーズに対応 ■月産1200万個の製造実績 ※お気軽にお問い合わせください。

  • その他半導体

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太陽光パネル専用有機汚れ除去剤『PV SPクリーナー』

樹液・花粉・鳥糞・煤煙などの有機物汚れを除去するための洗浄剤

『PV SPクリーナー』はpH11.3のマイルドな処方でありながら優れた洗浄能力をもちます。 工場や自動車からの煤煙・油脂汚れ、山間部の樹液・花粉・鳥糞などの有機物汚れに対し、独自の洗浄成分が汚れに浸透し浮かせることで短時間で効率的な洗浄が可能です。 【特徴】 ■洗浄成分の残渣がほぼ0 ■高い安全性 ■少ない使用量でコスト低減 ■パネル部材への高い安全性 ※製品の詳細はカタログをご覧ください。 ※無償サンプルもご用意しております。詳しくはお問い合わせください。

  • 洗浄剤

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ウェハ加工及びバンプボンド用ウェハ2D+3D自動検査

人が行う官能外観検査から、設備による全自動検査へ!完全なトレーサビリティを導入

当社では、半導体パッケージサービスとして、ウェハ加工及び バンプボンド用ウェハ2D+3D自動検査を行っております。 設備によるバンプの2D(チップ表面状態/ダイシング状態検査)と 3D(バンプボンド測定)の技術を組み合わせた全数検査が可能。 ウェハ受入検査から後検査まで一貫対応しており、完全な トレーサビリティを導入しております。 【特長】 ■一貫した製造・検査ライン ■完全なトレーサビリティ ■ウェハ起因か工程起因かを切り分けることが可能 ■後工程への不良流出の抑止が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他の各種サービス

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【ウェハ加工受託サービス】レーザーグルービングやリブカットなど

【実績多数】様々なウェハ加工が可能。ベアダイ出荷~パッケージ組み立て、出荷方法も選択できます。

Low-kウエハなど脆弱チップもダメージフリーでダイシング加工が可能なレーザーグルービングをはじめ、様々な加工が可能です。 長年の経験により実績多数ございます! お困りのことがございましたらお気軽にご相談ください。 ・バックグラインド加工 ・レーザーグルービング/ブレードでのダイシング加工 ・ウェハのリブカットTAIKO※1 ・ベアダイ出荷~パッケージ組み立ても可能です。 ・出荷方法もご選択可能です。 《トレイ、ダイシングテープ、エンボステープ(リール)包装 等》 対応可能ウェハ径6~12インチ(リブカットは8インチのみ)

  • ウエハー

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ICウェハ加工サービス

ウェハ加工受託サービス

・バックグラインド加工 ・レーザーグルービング/ブレードでのダイシング加工 ・TAIKO※1ウェハのリブカット ・ベアダイ出荷~パッケージ組み立ても可能です。 ・出荷方法もご選択可能です。 《トレイ、ダイシングテープ、エンボステープ(リール)包装 等》 お困りのことがございましたらお気軽にご連絡ください。 ※1 TAIKOは株式会社ディスコの登録商標です。 TAIKOプロセス 「TAIKOプロセス」とは、従来のバックグラインディングとは異なり、ウェーハを研削する際、ウェーハ最外周のエッジ部分(約3 mm程度)を残し、 その内周のみを研削して薄化する技術です。この技術の導入により、薄ウェーハの搬送リスク低減や反りの低減などが実現します。 (https://www.disco.co.jp/jp/solution/library/grinder/taiko_process.html を参照)

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カメラモジュールのマニュアルテストを自動化『DXシリーズ』

ワーク搬送部を共通化!検査内容に合ったテストユニットを提案!カメラモジュールテストの自動化へ設計開発からアフターフォローまで対応

『DXシリーズ』は、搬送部と検査部を分離した構造の、フルオート テストハンドラです。 カメラモジュールの検査内容に合わせて、様々なテストユニットの 提案も可能。「DX1533」をはじめ、「DX1327」、「DX2299」といった テストユニットをご採用いただいています。 CSP/BGA/QFN/QFPなど、他のパッケージにつきましてはご相談のもと ご提案させていただきます。 【特長】 ■様々なワーク・検査内容にあわせてテストユニットの構成が可能 ■ワーク搬送部を共通化 ■ハンドラ外形 W1760×D1230×H2280 (mm) ■テスユニット外形:W940×D700×H1000 (mm) ■処理能力:300~500 (UPH) ■デモ機貸し出し可能 ■様々な機種に対応 ■モデルチェンジしてもアフターフォローが充実 カメラモジュールテストの自動化に向けての設計開発から量産導入のアフターフォローまで行います。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 試験機器・装置

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【設備導入】はんだジェットシステム

試作開発費用と手間を軽減!

☑ 手作業による はんだ付けのバラツキを解消 ☑ 低熱ストレスでの はんだ付けを可能にします ●新規設備導入により、高額なマスクを作ること無く 簡易的に はんだ付けが行えます! ●はんだボールをレーザーで溶融させて、N2で飛ばして端子に着弾させる事も可能です! ●局所加工が可能になるので、フラックスが不要で、基板全体への熱負荷が不要になります!

  • その他半導体

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【設備導入】大型パーツ対応 マルチモジュールボンダー

多様なサイズ 高精度 フレキシブルな対応が可能に!

■様々な顧客要望に対応するマルチモジュールボンダーを導入致しました。 【対応例】   ・イメージセンサ:1型、フォーサーズ、APS-C、フルサイズ ・パッケージ:大型イメージセンサ、大型カメラモジュール、ラインセンサーなど  ※上記以外のサイズ、パッケージも対応できますので、ご相談ください。 ■表面実装(SMT)、基板切断、ワイヤボンドなど他工程との組み合わせ対応も承ります。 ■各種解析も社内で対応可能です。

  • ボンディング装置

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フリップチップ実装の受託

ウエハーサイズは最大12インチに対応。チップサイズ0.5mm以下の相談も可。様々な形状のスタッドバンプ形成に対応

当社では、一般的なワイヤーボンディングとの比較で 実装面積を小さくできる『フリップチップ実装』を受託しています。 スタッドバンプの形成では、仕様に応じて形状にカスタマイズ可能。 最大12インチの大型ウエハーにも対応できる設備を完備しています。 豊富なノウハウを保有し、チップサイズ0.5mm以下の相談にも対応OK。 当社では、フリップチップ以降の工程を含めたご提案も可能です。 【特長】 ■6インチ・8インチ・12インチのウエハーに対応 ■スタッドバンプは2段バンプの形成が可能 ■ベアウエハーやテープマウントウエハーのほか  リコンストラクトウエハーに対応 ■バンプのレベリングに対応 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • 基板設計・製造

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『半導体後工程受託製造サービス(OSAT)』

国内でウェハ加工からパッケージング・検査・組立まで一貫対応。1品種あたり、数千個/月~対応可能

当社では、ウェハテストからモジュール実装まで、ワンストップで対応する 『半導体後工程受託製造サービス(OSAT)』を提供しています。 製品や部材情報をもとに、お客様のニーズに合わせた製造方法をご提案し、 LSIデバイスやモジュール製品などの開発から量産化までサポート。 一部工程のみの受託や、電子機器の組み立てにも対応可能です。 【特長】 ■国内対応のため納品までスピーディーで、やり取りもスムーズ ■多品種少量生産の要望にも対応 ■車載用、医療機器向けの基板実装も可能 【受託内容例】 ◎ウェハ加工 ◎COF ◎BGA ◎イメージセンサー ◎カメラモジュール組立 ◎SMT基板実装 など ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • 製造受託

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ウエハテスト / ファイナルテスト

量産テスト(CP test / FINAL test) 及び、テスト開発(テストプログラム、ボート) を対応します。

CP(Wafer) testからFINAL testまで、組み立てと一貫した半導体製品のテストに対応します。 ロジック関連(LCDドライバー、プリンタードライバーなど)、アナログ関連などの多種多様な半導体製品の テスト及びテスト開発を提供いたします。 弊社保有テスタで使用可能な場合、対応致します。

  • ウエハー

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CP(Wafer) Test / FINAL Test

量産テスト(CP test / FINAL test) 及び、テスト開発(テストプログラム、ボート) を対応します。

CP(Wafer) testからFINAL testまで、組み立てと一貫した半導体製品のテストに対応します。 ロジック関連(LCDドライバー、プリンタードライバーなど)、アナログ関連などの多種多様な半導体製品の テスト及びテスト開発を提供いたします。 弊社保有テスタで使用可能な場合、対応致します。

  • ウエハー

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電子部品の表面実装(SMT)

クリーンルーム内での表面実装! 各種パッケージ組立との一貫生産も承ります。

■ クラス10000の環境で表面実装を行っています。 ■ 印刷、ディスペンス、ピン転写により、製品にあわせた半田および接着剤の供給方式を選択します。 ■ 部品サイズ:0402,部品間距離:0.13mm、基板厚0.5mm以下のFPCの生産実績あり。 ■ レーザーはんだ(局所はんだ)の対応可能。 ■ 個片基板への表面実装も対応します。 ■ 自動外観検査機、フラックス洗浄、アンダーフィル、基板切断、マーキングなど表面実装後の対応も行います。   また、各種パッケージ組立と合わせた一貫対応も可能ですので、ご相談下さい。 ■ 各種解析も社内で対応可能ですので、お問合せ下さい。

  • 基板設計・製造

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フリップチップ実装

ベアチップのフリップチップ及びガラスのチップへの実装

フリップチップ構造は、ワイヤーボンディングに比べて実装面積を小さくできます。 ベアチップをフレキ基板、リジット基板、セラミック基板へフリップチップ実装を行います。 フリップチップの工法は、GGI(Gold to Gold Interconnection)、ACF/ACP(Anisotropic Conductive Film/Paste)以外にも多数の工法が御座いますので、ご要望の工法をご提案いたします。 ガラスをベアチップに実装をご提案いたします。 フリップチップ以降の工程もご要望の工程をご提案いたします。

  • その他半導体

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COF(Chip On Film)実装サービス

大量生産から少量試作まで、製品開発・材料調達、組立~電気特性検査まで 一貫でのCOF実装サービスを提供します。

COFとは、Chip On Filmの頭文字で、ドライバICをフィルム状基板に電気的導通を取りながら機械的な固定も行う実装です。多くはディスプレイのドライバIC実装に使用され、微細配線ピッチ基板に高精度でICを実装します。 生産性に優れたリールtoリール工法による自社開発設備を含む一貫設備を多数保有しており、ディスプレイ用途に限らず、COFの製品特徴(フィルム折り曲げ性、微細配線ピッチ対応、薄型対応)を生かし、多様化するお客様の幅広いご要望に応じた対応が可能です。 【特徴】 ■微細配線ピッチ製品の量産化に向けた技術開発  量産実績:22umピッチ 試作実績:18umピッチ ■ドライバICの実装だけではなく、お客様の幅広いご要求に対応  複数ICの実装、補強板貼付け、部品実装、穴あけ対応、個片化対応、各種信頼性試験の実施

  • その他半導体

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スタッドバンプ形成

お客様のご仕様に合わせて各種スタッドバンプ加工の対応を行います。

スタッドバンプ加工は、フリップチップ実装技術では、必要なものです。 弊社では、ウエハー1枚からでもスタッドバンプを形成いたします。2段バンプの加工も可能です。 レベリングの対応を行います。 ウエハーサイズは最大12インチまで対応可能です。 個片チップ、ベアウエハー、テープマウントウエハー、リコンストラクトウエハーの対応を行います。

  • ウエハー

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ウエハー加工、ベアダイ出荷

半導体ウエハーの加工委託、ベアダイ出荷委託は当社へお任せください!

半導体ウエハーのアセンブリ加工だけでも対応しております。 ・対応可能なウエハー径:6~12インチ ・ウエハーのバックグラインド加工(裏面研磨加工)のみ、レーザーグルービング/ブレードでのダイシング加工後の  出荷も可能です ・裏面研磨後のウエハー厚み分布を非接触、非破壊で測定 ・シャトルウエハーから任意のダイのみをピックアップし、ベアダイ出荷~パッケージ組立も可能です ・ウエハーテストの結果をマップでご提供いただければ、インクレスでの対応も可能です ・ダイの表裏面状態を各々 自動外観検査機で全数検査を行います ・ベアダイ出荷の場合、トレイまたはダイシングテープ、エンボステープ(リール)包装での出荷を選択いただけます 【事業内容】  ■半導体ウエハー御支給後の加工、出荷対応  ■ウエハー表裏面の自動外観検査  ■ダイ開発に伴う後半工程に於ける評価、解析

  • 基板設計・製造

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特殊モールド成型【プリモールド中空パッケージ】

“特殊な手法でパッケージング!高い機能性を実現!”

●プリモールド中空パッケージ  モールド樹脂でキャビティをあらかじめ形成し、内部が中空になっているパッケージです。  セラミックス基板などのキャビティタイプ基板よりも低コストでのパッケージが可能です。

  • 専用IC

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特殊モールド成型【部分露出モールド】

“特殊な手法でパッケージング!高い機能性を実現!”

●部分露出モールド  モールド樹脂の一部を開口し、半導体表面を露出させたパッケージです。  露出形状は部品の用途に合わせた形状にカスタマイズ可能です。

  • 専用IC

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特殊モールド成型【透明樹脂モールド】

“特殊な手法でパッケージング!高い機能性を実現!”

●透明樹脂モールド  透明モールド樹脂を使用したパッケージです。光をセンシングするデバイスに最適です。  高い透明性と耐候性を実現しています。

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半導体後工程の組立&テスト(OSAT)

国内でのPKG開発、OSAT委託はエスタカヤ電子工業株式会社へお任せください!

エスタカヤ電子工業株式会社では、半導体後工程のPKG開発、評価、解析までの事業を展開しております。 PKGの設計から製造、テスト、各種設備開発、信頼性試験、開発までを国内の社内インフラで一貫対応しております。 国内の岡山県の工場内で、MOLD、BGA、FBGA、LCC(QFN)、COF、MODULE、セラミックPKG、ベアダイ出荷などの 多様なPKG群をバラエティ豊かに設計開発、生産可能です。 また30年以上の豊富な知識から、プロセスを跨いだ新たなPKG開発のご提案も可能です 【事業内容】  ■半導体PKGの設計、製造  ■信頼性評価調査解析(AEC-Q100対応可能)  ■製造設備の開発、製造

  • メモリ

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レーザーグルービング加工

加工難度が高い硬質なワークに対応! Low-kウエハなど脆弱チップもダメージフリーでダイシング加工が可能

・高密度配線ウェハに絶縁膜として使用されている Low-k膜は、機械的強度が低く、一般的なブレードダイシングでは、  配線層にダメージを与え、膜剥がれが発生するリスクがありました。  このLow-k膜含む配線層をレーザーソーにより除去するのが、レーザーグルービング加工です。 ・チップサイズの異なる、シャトルウエハも加工可能ですので、開発段階での試作ウエハにも対応致します。 ・Low-kウエハ以外では、幅20um以下の狭ストリートウエハにも、ご要望に応じ加工可能です。

  • ウエハー

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信頼性試験・分析/解析

電子デバイス・モジュール等の各種信頼性試験、分析/解析サービスのご提供

信頼性評価をしたい、不適合品の不具合原因を調べたい、製品状態を細かく観察したい等、様々なPKGタイプの半導体製造で培ったノウハウでお客様のご要望にお応えいたします。 ■信頼性設備                    ・温度サイクル試験機              ・恒温恒湿試験機                ・PCT試験機         ・落下試験機                   ・高温恒温器       ・・・他 ■分析/解析設備   ・SEM-EDX   ・FT-IR   ・SAT   ・薬品による樹脂開封   ・断面研磨機        ・・・他  

  • 専用IC

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【国内一貫】カメラモジュール/イメージセンサーの組立・検査

組立から撮像検査まで国内工場で一貫対応!スマートフォン、ウエアラブル、車載、医療など多様な分野に実績あり。

カメラモジュールの組立・検査、イメージセンサーチップのパッケージングを製造受託いたします。 開発試作から量産まで、各ステップに応じた最適化プロセスの提案・評価・解析、検査環境の構築を 行い、お客様のアイデアを形にしていきます。 【特長】 ■組立から撮像検査まで国内工場で一貫対応 ■アクティブアライメント対応 ■各種信頼性試験実施 ■撮像検査環境(ソケット、チャート等)、検査機も自社工場で製作 ※詳しくはお問い合わせいただくかPDFをダウンロードしてご覧ください。

  • その他半導体

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【開発~量産まで一気通貫】ミリ波レーダーモジュール

お客様の仕様に合わせたミリ波レーダーモジュールの設計・開発から量産まで一気通貫で対応できる技術力!評価キットを使用し開発を加速!

当社は、お客様の要望に合わせたアンテナ・外形等の専用設計の対応が可能です。 またケース設計のサポート、シミュレーション対応も可能です。 評価キットを使用してすぐにミリ波レーダーモジュールの評価を開始でき、 課題を抽出することで、その後の試作、評価の工数を削減することが可能です。 また、RFの測定に必要な電波暗箱や各種測定器の他、筐体や基板の切削加工機、 信頼性試験に必要な恒温槽や振動試験機など、各種機器を取り揃えております。 【特長】 ■開発から量産まで一気通貫で対応できる技術力 ■評価キットを使用して開発を加速 ■技術商社による協力体制 ■開発から量産までを可能にする充実した機器 ※下記「PDFダウンロード」よりカタログ&評価キットをご覧いただけます!    詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。

  • 機械設計

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太陽光パネル専用スケール除去剤『PVスケールリムーバー』

太陽光パネルに強固に固着したスケール・鉄粉を除去するための洗浄剤

『PVスケールリムーバー』は一般洗浄では落とせないミネラルや鉄粉が複合したような強固な汚れを除去するための剥離剤です。 汚れが堆積し変色したパネルでも新品に近い状態にリフレッシュできます。 設置時には予想もしていなかった、鉄粉・スケール(水垢)・糞害・樹液等の汚れによる発電量の低下でお困りの発電事業者様が数多く見受けられております。 安定した発電量を維持する為にも、太陽光パネルの洗浄は今後欠かせなくなります。 PVケミカルシリーズでは、ソーラーパネルのメンテナンスに必要な 「洗浄、防汚処理、鉄粉除去、防錆、スケール除去」といった様々な課題解決に取り組んでおります。 是非、PVケミカルシリーズのご活用をご検討ください。 【特⻑】 ■スケールやコーティングを剥離・再施工するための専用剥離剤 ■毒物および劇物には該当しません。 ■地上設置⽤、屋根上設置⽤の液剤をご⽤意しております。 ※製品の詳細はカタログをご覧ください。 ※無料サンプルもご用意しております。詳しくはお問い合わせください。

  • 太陽光発電機
  • 洗浄剤

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太陽光パネル専用鉄粉除去剤『PVアイロンリムーバー』

鉄粉を素早く溶解し、作業効率も向上。洗浄作業にも対応。無料サンプルあり

『PVアイロンリムーバー』は、太陽光パネルに付着・蓄積する鉄粉を溶解して除去する製品です。 チオグリコール酸アンモニウムの配合量を増やし、鉄粉溶解力を向上。 加圧式ポンプスプレーを使用することで、より早く作業ができ作業の負担軽減と効率改善につながります。 設置時には予想もしていなかった、鉄粉・水垢・糞害・樹液等の汚れによる発電量の低下でお困りの発電事業者様が多く見受けられます。 安定した発電量を維持する為にも、太陽光パネルの洗浄は今後欠かせなくなります。 PVケミカルシリーズでは、ソーラーパネルのメンテナンスに必要な 「洗浄、防汚処理、鉄粉除去、防錆、スケール除去」といった様々な課題解決に取り組んでおります。 是非、ご検討ください。 【特長】 ■チオグリコール酸アンモニウムの配合量を増量。非常に優れた鉄粉溶解力を実現 ■嫌なアンモニア臭をカット ■反応速度が速く、すすぎ性能が高い為、作業効率が向上 ■洗浄剤の販売及び洗浄作業もお受けいたします(地域による) ■豊富な採用実績 ※無料サンプルもご用意しております。詳しくはお問い合わせください。

  • 太陽光発電機
  • 洗浄剤

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PVハイドロコート

雨が太陽電池モジュールをキレイにする!透過率UPで発電量安定!

『PVハイドロコート』は、雨の力を最大限に活用して太陽光パネル 表面をきれいに保つことで、汚れに依る出力低下を防ぎ、長期間安定した 発電をサポートします。 強烈な紫外線や温度変化にも劣化せず、モジュール表面に化学的反応に よりコロイダルシリカを結合させる為、耐摩耗性にも優れます。 また、専用施工ツールにより、モジュール本来の性能を損なう事無く、 短時間で施工することが可能です。 PVケミカルシリーズでは、ソーラーパネルのメンテナンスに必要な 「洗浄、防汚処理、鉄粉除去、防錆、スケール除去」といった様々な課題解決に取り組んでおります。 是非、PVケミカルシリーズのご活用をご検討ください。 【特長】 ■雨の力を最大限活用したセルフクリーニング ■帯電防止機能で乾燥期の汚れの付着を防止 ■透過率UPで発電量安定 ■完全無機材料使用で長期的効果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 太陽光発電機
  • コーティング剤

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