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【技術資料進呈】3Dチャートによる高速・高精度カメラ検査技術

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3Dチャートによる高速・高精度カメラ検査技術

最終更新日:2025年01月28日

CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人
CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人
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カメラモジュールのアクティブアライメントの新技術、3Dチャートを使用しモジュール製造のスループットを大幅に向上

イメージセンサとレンズの位置決めを行うアクティブアライメントに現行は2Dチャートを用い、数回、撮像することでフォーカスを合わせる手法がとられています。 そこに3Dチャートを用い、前面と奥行きのフォーカスを一度に合わせこみレンズの位置決めを行う根本原理になります。 今回はアクティブアライメントの根本原理の3Dチャートの紹介になります。 今回の技術ハンドブックにおいては、下記の内容を紹介しております。 ★高性能カメラの光軸 ★光軸調整の方法 ★3Dチャート技術 ★原理確認の実験

    その他半導体半導体検査/試験装置その他半導体製造装置
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【技術資料進呈】3Dチャートによる高速・高精度カメラ検査技術

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基本情報

資料はカメラの光軸がずれる理由から2Dチャートではなく3Dチャートを使用するメリットの説明と3Dチャートをの原理確認の実験をどのように行ったかを説明しています。 3Dチャートがどのようなものか、是非、資料をダウンロードください。

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用途/実績例

イメージセンサーとレンズの位置調整を行うアクティブアライメントにおいて、従来の2Dチャートの製造工程のスループットを向上させる部分に使用されております。

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SEMICON Japan 2021 Hybridに出展

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弊社は、2021年12月15日(水)~12月17日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「 SEMICON Japan 2021 Hybrid」に出展いたします。 中国に本社を構える半導体検査装置メーカー。 会社の設立は2008年に中国に設立。日本での拡販本格活動を2020年10月に開始。セミコンジャパンでの展示は今回が初めてとなります。 是非、ご来場ください。

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2008年4月に中国、杭州に設立した半導体検査装置メーカー。ウェハープローバーからテスター、ハンドラーを開発設計し、大手半導体メーカーへ供給しています。2017年には、中国、深セン株式市場に上場を果たし、2017年、台湾事務所設立、2018年7月には日本事務所を設立、2019年にはシンガポールの外観検査装置メーカー、Semiconductor Technologies & Instruments Ptd Ltdを配下に置き、2020年9月にはサトウプロダクト(株)の半導体事業部門を吸収し、検査装置メーカーの市場へより良い検査装置をご提供しております。

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