分析機器の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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全光束測定システム HM/FM series　　　

LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

分析機器・装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

分光全放射束測定システム HM/FM series　

IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応

分光分析装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

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リポソームの粒子径とゼータ電位評価　

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

分析機器・装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

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インライン反射率評価システム　MCPD Series　

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

分光分析装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

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インライン膜厚評価システム　MCPD Series　　

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

分光分析装置

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インライン透過率評価システム　MCPD Series　　

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

分光分析装置

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分光配光測定システム　Gp series

光源や照明器具の配光特性を測定する装置です　

分析機器・装置

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マルチチャンネル分光器 MCPD series　　

広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的　

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

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顕微分光膜厚計　複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

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顕微分光膜厚計　反射率の変化と膜厚の関係

薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

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顕微分光膜厚計　厚膜解析方法

屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

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顕微分光膜厚計の膜厚解析