半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！
- その他半導体
- 加工受託
- ウエハー
電気検査後の基板ダメージを見逃さない！高精度画像検査で微細な打痕・キズを早期検出し、不良流出と治具損傷を防止。
- 探傷試験
- 基板検査装置
- 半導体検査/試験装置
測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現！
- テスタ
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
量産前提だったビルドアップSAP技術を、開発に最適な極小ロットから提供！
- 基板設計・製造
- プローブ
- 半導体検査/試験装置
総合位置決め精度±2.5µm！大型・多ピン半導体パッケージ基板の検査に最適な高精度検査装置
- 半導体検査/試験装置
- その他検査機器・装置
- 基板検査装置
上下最大112Kp対応！大型HDI基板の多ピン・高精度検査を実現
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- 基板検査装置
イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して半導体製造で使用する高純度水酸化アンモニウムの不純物を測定
- 分析機器・装置
- イオンクロマトグラフ
- 半導体検査/試験装置
上下総合48Kポイント対応！大判フルパネル基板（500×620mm）の多面付け一括・高速検査ソリューション
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
- 半導体検査/試験装置
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
- 半導体検査/試験装置
半導体産業向け：プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング
- 分析機器・装置
- ウエハー
- 半導体検査/試験装置
半導体製造向け過酸化水素中のトリメチルアミンと標準陽イオンをイオンクロマトグラフィーで測定
- イオンクロマトグラフ
- 半導体検査/試験装置
- 分析機器・装置
半導体製造プロセスの工程と品質管理に欠かせない分析法を紹介した技術資料
- ウエハー
- 半導体検査/試験装置
- 半導体・IC