半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
31～45 件を表示 ／ 全 751 件
【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
『 第1回 中部食品産業創造展'26 』出展決定！
〈 ポートメッセなごや 〉にて、2026年11月4日(水)～6日(金)に開催されます、 【 第1回 中部食品産業創造展'26 】に出展いたします。 昨年4月より発売を開始していおります、『小型サニタリーハンディポンプMHS型』の 新たなラインナップとして、『コードレスサニタリーハンディポンプ』の展示をいたします。 ・コードレス！どこへでも持ち運べ！サッと使え！簡単洗浄！ 従来通り18L缶やBIB（バックインボックス）に対応し、簡単に分解洗浄が可能な構造となっています。 この機会にぜひご来場いただきたくご案内申し上げます。 ・会場：ポートメッセなごや ・弊社出展ブース：第1展示館「C-６６」
組み込まれた水蒸気バリアが保温材下腐食（CUI） のリスクを低減
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
過剰検出でお悩みの製造現場へ。AI解析×フルカラー画像検査でウエハの微細な欠陥を正確に判定、歩留まり向上を実現する検査装置です。
- 半導体検査/試験装置
- ウエハー
- 基板検査装置
SEMICON Japan 2026 出展のお知らせ
当社は、2026年12月9日(水)～12月11日(金)、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2026」に出展します。今回はグループ会社であるニデックマシンツールやニデックインスツルメンツと共に「One Nidec」の総合力を集結。半導体製造の品質と生産性を支える技術をご紹介します。検査技術はもちろん、ウエハの加工・接合、搬送までトータルソリューションを提案いたします。ぜひ当社ブースにお立ち寄りください！
0.005mm（5μm）の外形研磨加工で、もの作りを支えます。センタレス仕上げ快削リン青銅丸棒（Φ1.0）
- プローブ
- 半導体検査/試験装置
- 非鉄金属
半導体・電子部品用像質計『Semiconductor Wire IQI』を2026年7月30日に販売開始
非破壊検査機器を販売する株式会社NDTアドヴァンスは、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのSemiconductor Wire IQI（半導体・電子部品用像質計）の販売を、2026年7月30日に開始します。 Semiconductor Wire IQI（半導体・電子部品用像質計）は、ASTM E801に基づき、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのIQIです。透明アクリル樹脂、シム材、鉛粒子、タングステンワイヤ、鉛製識別番号で構成され、検査対象となる電子部品の透過条件に合わせて使用します。
金属イオン溶出ゼロ。接液部オールPTFE構造で、医薬・半導体プロセスの汚染リスクを徹底排除する高洗浄性コネクタ
- 半導体検査/試験装置
第28回 インターフェックスジャパン」出展のお知らせ
2026年5月20日～22日に開催される展示会「第28回 インターフェックスジャパン」に、 オートコネクタ・配管自動切換装置・Quitto・電子聴音棒を出展します。 ブースにはオートコネクタと配管自動切換装置のデモ機を展示しておりますので、実際にコネクタが自動で調芯し配管が着脱する様子をご覧いただけます。Quitto体験コーナーでは新商品「Quitto」によるワンアクションでの簡単着脱をお手に取り実感いただけます。 また、「音」をデータ化・見える化する診断装置：電子聴音棒 Kirari MUSEの実物も展示しております。 工場の自動化に興味がある方、自動化でお困りの方、へルールクランプの煩わしさを解消したい方、異音診断でお悩みの方は是非お立ち寄りください。 皆さまのご来場を心からお待ちしております。 「第28回 インターフェックスジャパン」 日時： 2026年5月20日(水)、5月21日(木)、5月22日(金) 10:00～17:00 会場： 幕張メッセ（ブース番号：30-27） 出展内容： 粉体用オートコネクタ、配管自動切換装置、「Quitto」、電子聴音棒
電気検査後の基板ダメージを見逃さない！高精度画像検査で微細な打痕・キズを早期検出し、不良流出と治具損傷を防止。
- 探傷試験
- 基板検査装置
- 半導体検査/試験装置
測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現！
- テスタ
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
量産前提だったビルドアップSAP技術を、開発に最適な極小ロットから提供！
- 基板設計・製造
- プローブ
- 半導体検査/試験装置
総合位置決め精度±2.5µm！大型・多ピン半導体パッケージ基板の検査に最適な高精度検査装置
- 半導体検査/試験装置
- その他検査機器・装置
- 基板検査装置
上下最大112Kp対応！大型HDI基板の多ピン・高精度検査を実現
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- 基板検査装置