基板検査装置の製品一覧

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現!

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【新製品情報】APT-T400J 発売|治具不要で多品種対応!基板電気検査を高精度+低コストで実現

2025年12月より新製品「APT-T400J シリーズ」フライングプローブテスタの販売を開始いたしました。 本製品は、治具レスで多品種対応可能な基板電気検査装置として、従来の高精度プロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、【 より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデル 】です。電子機器の高密度化・多機能化に対応し、製造現場の課題である人手不足・コスト削減にも貢献します。 <APT-T400J 特長> 導入しやすい価格:コストを抑えた設計で、初めての導入や買い替えにも最適 高密度基板対応 :独自の4ヘッド6プローブ構成で狭い部品間や上向きコネクタにも確実にアクセス 微小不良も検知 :全ヘッドに測定ユニットを搭載、インピーダンスやキャパシタンスを測定 高速安定検査  :最適化された移動機構とサーボ制御でスピードと信頼性を両立 外観検査    :高精細カメラで部品の有無や極性を確認し、バーコード連携でデータ管理 簡単セットアップ:独自開発の検査プログラム作成支援ソフトにより、ODB++や各社CADデータ、マウントデータから検査プログラムを自動生成可能

検査効率を劇的に改善!最新フライングプローブテスタへの更新・増設のご案内

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46か国以上の国々で導入実績多数!!世界から認められているタカヤのテスタです。

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信頼と革新で世界46か国以上が導入。少量試作から量産まで、あらゆる現場に応える検査のベストパートナー。

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鉄道車両の安全運行を支える、高速・高精度検査テスター

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IoTデバイスの接続性を支える、高速・高精度電気検査テスター

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ポイント数で選べる!高速・高精度検査テスターでエネルギー効率を向上

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医療機器の品質を支える、高速・高精度電気検査テスター

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自動車部品の品質を支える!高速・高精度電気検査テスター

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マイクロLEDの歩留まり向上への新たな一手

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L/S=5/5μmの高精細パターン検査からレーザービア検査まで、外観検査における最適なソリューションをお届けします。

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新機能レーザビアTHφ45μmの測定が可能!是非ご相談ください

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【新製品情報】高速・高精度・低コストを実現する新型フライングプローブテスタ「APT-T400Jシリーズ」登場!

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【フライングプローブテスタ 新モデル 国内初公開】-第40回 ネプコンジャパン-エレクトロニクス開発・実装展-に出展いたします。

タカヤ株式会社は、2026年1月21日(水) ~ 23日(金)に東京ビックサイトで開催される、「第40回 ネプコンジャパン-エレクトロニクス開発・実装展」に出展いたします。 <産業機器事業部> 【新モデル】フライングプローブテスタ <APT-T400J シリーズ> 【ハイエンドモデル】フライングプローブテスタ <APT-2600FD シリーズ> ※新モデル「APT-T400J」を国内初公開 <RF事業部 / ソリューション事業部> RFIDで作業員の実績、ロケーションを見える化 棚卸不要!リアルタイム常時監視 <EMS事業部> ・システムと自動化技術を融合、省人化を図り高品質で低コストなモノづくりを実現する実装ライン 本展示会へ入場する際には、 下記、URLへ進んでいただき「来場者バッチ」の登録をお願いいたします。 https://www.takaya.co.jp/fa/news/event/nepcon2026/ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 展示ブースでは、製品のデモンストレーションも実施予定です。ぜひお立ち寄りください。

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FPGA等へのプログラム書き込みや、BST等の特殊性能検査をフライングプローブテスタで対応可能

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愛媛大学様との共同研究レポート・セミナー発表のご案内( JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー)

タカヤ株式会社は、愛媛大学 大学院 理工学研究科様と、『深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化』に関する共同研究を行っております。 このたび、2024年6月12日(水)~6月14日(金) 東京ビッグサイトにて開催されるJPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー 愛媛大学様ブースにて、当研究のレポートを掲示・ご紹介いただけることとなりました。また、6月14日(金)には、会場内にて本件に関するセミナー発表が行われます。また、同展示会にはタカヤも出展しており、フライングプローブテスタの実機を展示致します。 ご来場される皆様は、是非 ブース・セミナー会場に 足を運んでいただけますと幸いです。 *愛媛大学 ブース  小間番号 : 3B-56(アカデミックプラザ) *セミナー  日時:6月14日(金) 13:20-13:40  会場:セミナー会場E  セッション:3DMIDセミナー/アカデミックプラザ *タカヤ株式会社ブース 小間番号:4C-38(東4ホール)

ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置

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フォトルミネセンス マッピングに対応した高速レーザー欠陥スキャナー

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メカI/Fを標準装備!USB上での機器操作をはじめ、操作パネル感覚で本体の制御が可能

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15種類の波形パラメーターの計算、Go/NGの自動判定!軽量でコンパクトな2CHオシロスコープ

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マクロワイヤによりプログラムを作成!USBやIOを経由して複数のFX計測ユニットを制御!

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測定から判定までを単独で完結!USBケーブルでPCと簡単接続が可能なユニット

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重要なデータのセキュリティの設定が可能!マルチランゲージ対応のデジタルI/Oユニット類

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