基板検査装置の製品一覧
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!
- その他搬送機械
使い勝手抜群の手動機!光学分解能は5 or 10μm で、様々な基板に対応!パッケージ・モジュール系基板・FPC・セラミックス
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- 外観検査装置
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【TAIYO】基板最終外観検査装置『TY-VISION Mシリーズ』のご紹介
『TY-VISION』基板最終外観検査システムのご紹介です。 TY-VISION Mシリーズ(手動タイプ)はその優れた『欠陥検出力』で基板検査の現場で活躍を続けております。 パッケージ・モジュール系基板から一般基板まで幅広く対応し、セラミックス・金属系・ガラス系まで対応が可能です。 また、AIシステムとの組み合わせで検査力が大幅に向上します。 当社では随時ベンチマークテストを実施中です。 ご相談お待ちしております。 『M109SC』は、大きなサイズの製品に対しても高精細カメラで 撮影・検査ができる最終外観検査機です。 有効検査サイズ 300(W)×500(D)mm、高画素カメラ搭載により 高い検出力とユーザビリティを両立しています。 【特長】 ■大判検査ステージ×高精細カメラ ■豊富なオプション ■高品質を追求する製品に好適なソフトウェア ■微少欠陥を逃さない 『M105SC』は、幅広い種類の製品に対応した手動最終外観検査装置です。 【特長】 ■様々な製品に対応 ■高いトレーサビリティ ■検査ソフトウェア随時更新中! 詳しくは製品情報をご覧ください。
最終外観検査システム 充実の周辺機器で更に高い検査品質を! (検査装置・AIシステム・確認システム・検査データ作成用PC)
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【TAIYO】基板最終外観検査装置 TY-VISION A308DC 3μm全自動機 情報更新しました。
【TY-VISION A308DC】 パッケージ・モジュール系基板に好適なA300シリーズに3µm仕様機が遂にラインナップ! 光学分解能3μ・両面全自動基板最終外観検査システム『TY-VISION A308DC』の受注を開始致しました。 クリーンルーム内での最終外観検査工程に好適です!
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出!
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【TTL】『基板最終外観検査』その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出!
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出! 微細欠陥の検出でお困りではないですか? ⇒現在ご使用中の最終外観検査機で検出していますか?【YES・NO】 ⇒その時、虚報は少ないですか?【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇ります。 また、量産工程でも多数採用されており AIシステムのXAIS(ザイス)を追加することで劇的な虚報数低減を実現しています。 適時、デモ検査を承っておりますので、是非ご相談ください。 ※最初に基板の情報をご提供頂き実施する場合にデータと対象物をお預かりします。
微少欠陥を逃さない!ご要望に応じて組み合わせ、お客様にとって好適な仕様の装置をご提案します
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【TAIYO】基板最終外観検査装置 TY-VISION A308DC 3μm全自動機 情報更新しました。
【TY-VISION A308DC】 パッケージ・モジュール系基板に好適なA300シリーズに3µm仕様機が遂にラインナップ! 光学分解能3μ・両面全自動基板最終外観検査システム『TY-VISION A308DC』の受注を開始致しました。 クリーンルーム内での最終外観検査工程に好適です!
ポイント数に応じて幅広いラインアップを展開!高速、高精度検査テスター【導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出】
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【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します! テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ:305mm×510mm ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シート基板向け通電検査システム!(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)FPC・フレキシブル基板・PCB・PKG
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【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します! テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ:305mm×510mm ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
独自のプレート搬送により安定した電気検査を実現。(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出・スパーク)FPC・長尺
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【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します! テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ:305mm×510mm ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気検査システムの基本形! 様々な基板の電気検査に使用されています。(硬質基板・FPC・PCB・導通検査・絶縁検査・四端子検査)
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【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します! テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ:305mm×510mm ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
通電検査システムの基本形、様々な基板の電気検査に使用されています。(PCB・FPC・導通検査・絶縁検査・四端子検査・スパーク)
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【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します! テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ:305mm×510mm ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
少ポイント数での基板検査に好適です。 導通抵抗/絶縁抵抗検査、自己診断機能搭載のコンパクト機です。
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- テスタ

【TAIYO】ケーブルテスター『UT8080A』日本代理店、低電圧仕様、導通抵抗/絶縁抵抗検査、自動診断機能搭載のコンパクト設計!
台湾UTRON製 ケーブルテスターのご案内です。 弊社では、自社製通電検査機とかぶらない『UT8080A』を取り扱っております。 機能的にシンプルですが、最大512ポイントまで選択(128、256,384,512)できるため、少ポイントでの検査に好適です。 詳細は製品ページ・カタログページよりご覧ください。 お問い合わせ大歓迎です。 担当:橋本(073-431-6327)
太洋テクノレックスの会社案内です。(2023年12月21日より社名変更)
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- 搬送・ハンドリングロボット
初期導入費用が安価!蓋を閉めるだけでシールドとなり、微小電流の測定が可能。ポジショナ、顕微鏡を搭載できるマニュアルプローバです。
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UVライトを使った2Dコーティング剤検査装置。独自開発AIを使った気泡検出とレーザー変位センサによる膜厚測定オプションあり!
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フィクスチャー交換で様々な被検査基板が接続可能!新製品『基板検査用 エアプレス機』
新製品!『基板検査用 エアプレス機』! ボタン操作によるエアプレス動作により、最大ピン数800本、最大サイズ500mm×500mmの基板に対応可能な、高荷重のプレス機です。 フィクスチャー治具を交換することで、本プレス機1台で様々な検査基板を接続することが出来るため、汎用性・コストパフォーマンスにも優れています。 『基板検査用 エアプレス機』を新たに掲載しました。 ぜひご覧ください。 ※どうぞお気軽にお問い合わせください。 ※カタログを無料ダウンロードいただけます。

【新製品】基板検査用 小型エアプレス機
小サイズ基板の機能検査用フィクスチャーの取り付けに対応した、エアシリンダー可動による『小型エアプレス機』です。 コントロールボックスを用いた両手操作によるプレス操作を行いますが、ご要望に応じてPC制御も追加が可能です。 また、エリアセンサを追加することにより、プレス時の安全性を考慮します。 ● プレス荷重:エアー圧力0.3MPaで約15kgでプレスが可能(バネ圧200gのプローブ75本に相当) ● 最大基板サイズ195mm×130mmに対応 ● 概略外形寸法:W250×D400×H360(エリアセンサ搭載時はW300) ● フィクスチャーを交換することで、様々な検査基板を接続することが可能 (被検査基板に対応したフィクスチャーも当社で製作が可能) ● 両手によるボタン操作でプレスが可動 ● オプションのエリアセンサ搭載により、障害物を検知した場合、プレス(上ピンボード)が上昇 ● オプションで合格スタンプにも対応可能 ● オプションでPC制御によるプレス動作も追加可能 製品につきましてはページ・カタログをご覧いただくか、弊社までお気軽にお問い合わせください。
ESDの耐量や電流拡散経路やEMIを自動で可視化する事が出来、ノイズの影響について容易に根本原因の特定を行う事が可能です。
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