受託解析の製品一覧

大阪空気機械製T型トラップの代替品・油回転・水封式真空ポンプの保護装置

真空ポンプ

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【最大塗装サイズ2m×1m】5mmから対応可能な塗装サービス

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アルミニウム

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【分析事例】SIMSによるSi酸化膜・ITO膜中の｢水」の評価

｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

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【分析事例】SIMSのa-Si薄膜太陽電池ドーパント濃度分布評価

対象元素に応じて測定条件を選択

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【分析事例】GCIB_Arクラスター有機材料劣化成分深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

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【分析事例】成膜成分のウェハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

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【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定

昇温しながらXRD測定が可能

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【分析事例】高分子材料の結晶化度評価

昇温しながらの結晶化度の変化が評価可能

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【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

微小領域のXRD測定が可能

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【分析事例】ソフトマテリアルの断面観察と元素分析

クライオSEM観察-EDX分析で溶液試料の構造を直接評価

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【分析事例】エポキシ樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

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【分析事例】SiC Planer Power MOSのSCM分析

SiC デバイスの拡散層構造を可視化できます

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【分析事例】リチウムイオン二次電池　正極シート状活物質の組成分析

シート状活物質の主成分定量分析が可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極材料の評価

雰囲気制御イオン研磨（IP）加工を用いた断面観察が可能

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【分析事例】SiCダイオードのフォトルミネッセンスマッピング測定

SiC中積層欠陥の検出事例

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【分析事例】金属ワイヤー中の不純物評価

SEMと同等の視野で大気成分などの不純物の面内分布を可視化

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【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

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【分析事例】SSDP-SIMSによるSi基板Ga、Alの拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

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【分析事例】SiC基板の品質評価

結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

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【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価

ドーパントの活性化率に関する評価が可能

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

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【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

300mmウェハをそのまま測定できます

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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析

GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に可視化

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【分析事例】TEM・EDX・EELSのアイシャドウ成分元素分析

ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

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【分析事例】SiN膜中水素の結合状態別の定量

赤外吸収法によりSiN膜中のSi-H、N-Hを定量

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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

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【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価

組成・結合状態・構造・密度の評価が可能

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【分析事例】高麗人参　生薬成分のLC/MS/MS分析

ギンセノシド6種（Rb1，Rc，Rd，Re，Rg1，Rg3）の一斉分析

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【分析事例】GaN系デバイスの発光・発熱解析

GaN系デバイス耐圧評価、及び、表面発熱分布評価のご提案

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【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

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【分析事例】フッ素系膜の分布状態評価および成分分析

微小領域の面分析による分布の均一性評価と有機物の同定・推定

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【分析事例】Si表面のH終端の解析

処理の違いによるSi表面のSiHや状態の定性・相対比較

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【分析事例】リチウムイオン二次電池

サンプル冷却でセパレータ断面形状を正確に評価

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【分析事例】食品中機能性成分濃度分析

赤ワイン中レスベラトロールの濃度評価事例

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【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

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【分析事例】SIMSによる有機EL素子中不純物の深さ方向分析

有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

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【分析事例】SIMSによるSiON膜の評価

膜厚1nm程度のSiON中Nの評価が可能

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【分析事例】SSDP-SIMSゲートから基板へのB突き抜け量評価

SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】有機ＥＬ素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

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【分析事例】素子分離領域の歪解析

NBD：Nano Beam Diffractionによる微小領域の歪解析

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【分析事例】SIMSによる極浅注入プロファイルの評価

極浅い領域においてもドーパント分布・接合の評価が可能

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【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価

波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価

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【分析事例】SIMSによるUVセンサAlGaN中不純物濃度度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

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【分析事例】TOF-SIMSによるキトサンの分布評価

TOF-SIMSによる医薬品成分の可視化

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【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

TOF-SIMSによる高分子・樹脂･フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能

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【分析事例】シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量

赤外吸収法により非破壊で格子間酸素・炭素濃度を定量

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【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析

薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】CIGS粉体の組成・不純物分析

主成分および微量成分の定量分析が可能

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【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

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【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価

XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価

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【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価

TOF-SIMSによる洗浄残渣の測定事例

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【分析事例】SIMSによるSiC中ドーパント元素の深さ方向分析1

SiC中B、Al、N、P、Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】SIMSによるSiCパワーMOSFETドーパント評価

イメージングSIMSにより、局在する元素の評価が可能

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【分析事例】SIMSによるSiC

イメージングSIMSにより、局在する元素の評価が可能です

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【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析

TOF-SIMSを用いてPETボトルの層ごとの成分を特定可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池　セパレータの評価

サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

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【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

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【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

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【分析事例】SUS不動態皮膜深さ方向状態と酸化膜厚評価