受託測定の製品一覧

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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電子部品やデバイスなどが高温/低温に繰り返しさらされることに対する耐久性を評価します

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電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動の影響や耐久性を評価します。

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電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃の影響や耐久性を評価します。

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中空構造部品などの封止状態の密閉性を評価・判定します。

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はんだ槽平衡法、はんだ小球平衡法、ソルダーペースト法の試験が行えます。

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実装工程における電子部品が受ける熱ストレスの影響を評価します。

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試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能

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中空構造内の微小な異物が壁面に衝突する際に発生する音を検出することで、ショート等のトラブルを未然に防ぐことが可能です。

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半導体や電子部品が静電気によるストレスを受けた際の影響、破壊耐量を評価します。

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TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

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ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

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【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ~加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能~ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です

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【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ~加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能~ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

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FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です

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株式会社日立ハイテクノロジーズ主催電子顕微鏡・FIBセミナー講演のお知らせ

株式会社日立ハイテクノロジーズ主催セミナー「日立材料解析セミナー 2012(名古屋)」にて、MST(財)材料科学技術振興財団が講師を務めます。 リチウムイオン二次電池の解析について、分析データを基にレビューを行います。 皆様のご参加をお待ちしております。 ●日時・会場 2012年02月03日(金) 13:00~17:40 愛知県名古屋市 瀧定ビル17階 ●聴講料・お申し込み 詳しくは日立ハイテクノロジーズウェブサイトをご覧ください。 ●MST講師の講座概要 ・タイトル 雰囲気制御下でのCryo FIB-TEM法 ~リチウムイオン二次電池への適用~ ・講師 (財)材料科学技術振興財団 分析評価部 TMG 江口 央

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

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試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る

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【MSTホームページ】分析事例「HF処理前後における骨の状態評価」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル HF処理前後における骨の状態評価 ~ラマン分析を用いた薬液処理前後の状態評価~ ◆測定法・加工法 Raman・薬液処理 ◆製品分野 医薬品・バイオテクノロジ ◆分析目的 化学結合状態評価 ◆概要 HF(フッ化水素)は、SiO2のウェットエッチング処理等で広く用いられており、半導体製造プロセスにおいて非常に重要な役割を果たします。 しかし、一方で皮膚に触れてしまうと浸透し、骨を侵してしまうため非常に危険な薬品であり取り扱いには注意が必要です。 このHFによる骨の侵食は、アパタイトとして骨中に存在するCaとHFが反応することでCaF2が生成してしまうことによるものです。この反応の変化をラマン分析で評価した事例を紹介します。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

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試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手法

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電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析

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イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

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特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。

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EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です

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UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です

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絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

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物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます

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遺伝子解析とは、DNAの塩基配列を読み取り、遺伝子の変異や働きを調べる方法です。

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SEM装置に搭載されたFIBとTOF型質量分析器を用い、微小箇所の形状観察と元素イメージングを同時に行うことのできる手法です。

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真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます

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物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を観測する手法です。

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HAXPESは、XPS(X線光電子分光)の励起光に硬X線を用いた分析手法です。

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赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

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赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

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TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化(TG)、吸熱・発熱の熱挙動(DTA)を同時に評価します。

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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ

公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡(SEM)について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元:公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌:2012年5月発行 応用物理 ・企画名:基礎講座 <ホップ・ステップ・ジャンプ>シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者: 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容: 走査電子顕微鏡の研究開発への応用-解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。

イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

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二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です

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電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます

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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

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ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

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