受託検査の製品一覧
- 分類：受託検査
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大阪空気機械製T型トラップの代替品・油回転・水封式真空ポンプの保護装置
- 真空ポンプ
《数千個/月の量産OK》ロボットで塗装を行うので再現性と安定した品質を実現！コストダウンのご提案も可能。
- アルミニウム
サンプルを加熱することによって生じる重量変化・示差熱・熱量および揮発成分の質量を測定
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
【MSTホームページ】分析事例「エポキシ樹脂の硬化温度･ガラス転移温度調査」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル エポキシ樹脂の硬化温度･ガラス転移温度調査 ～DSC（示差走査熱量）測定による熱物性評価～ ◆測定法・加工法 DSC ◆製品分野 電子部品・日用品 ◆分析目的 製品調査・熱物性評価 ◆概要 二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC（示差走査熱量測定法）を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度（Tg）を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました（図1）。これは昇温加熱により樹脂の重合（硬化）が起きたためです。更に、硬化後の樹脂を室温まで空冷した後、再度DSC測定したところ、樹脂のガラス転移に起因するベースラインの吸熱側へのシフトが確認され、Tg は約116℃でした（図2）。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 蛍光X線分析、ICP-OES/ICP-MS、ICの原理と測定事例について解説
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- 技術セミナー
【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ～加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能～ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
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【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ～加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能～ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です
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株式会社日立ハイテクノロジーズ主催電子顕微鏡・FIBセミナー講演のお知らせ
株式会社日立ハイテクノロジーズ主催セミナー「日立材料解析セミナー 2012（名古屋）」にて、MST(財)材料科学技術振興財団が講師を務めます。 リチウムイオン二次電池の解析について、分析データを基にレビューを行います。 皆様のご参加をお待ちしております。 ●日時・会場 2012年02月03日（金） 13:00～17:40 愛知県名古屋市 瀧定ビル17階 ●聴講料・お申し込み 詳しくは日立ハイテクノロジーズウェブサイトをご覧ください。 ●MST講師の講座概要 ・タイトル 雰囲気制御下でのCryo FIB-TEM法 ～リチウムイオン二次電池への適用～ ・講師 (財)材料科学技術振興財団 分析評価部 TMG 江口 央
【MSTホームページ】分析事例「HF処理前後における骨の状態評価」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル HF処理前後における骨の状態評価 ～ラマン分析を用いた薬液処理前後の状態評価～ ◆測定法・加工法 Raman・薬液処理 ◆製品分野 医薬品・バイオテクノロジ ◆分析目的 化学結合状態評価 ◆概要 HF（フッ化水素）は、SiO2のウェットエッチング処理等で広く用いられており、半導体製造プロセスにおいて非常に重要な役割を果たします。 しかし、一方で皮膚に触れてしまうと浸透し、骨を侵してしまうため非常に危険な薬品であり取り扱いには注意が必要です。 このHFによる骨の侵食は、アパタイトとして骨中に存在するCaとHFが反応することでCaF2が生成してしまうことによるものです。この反応の変化をラマン分析で評価した事例を紹介します。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
![[EBSD]電子後方散乱回折法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/bef/387108007/IPROS4688397342881936146.jpg?w=280&h=280){kind=small}
電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析
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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。
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UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です
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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ
公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡（SEM）について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元：公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌：2012年5月発行 応用物理 ・企画名：基礎講座 ＜ホップ・ステップ・ジャンプ＞シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者： 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容： 走査電子顕微鏡の研究開発への応用－解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
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電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます
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![[EMS]エミッション顕微鏡法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/ebd/387108012/IPROS78188100613521420358.jpeg?w=280&h=280){kind=small}
電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
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【MSTホームページ】分析事例「熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル 熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定 ～熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて～ ◆測定法・加工法 GC/MS ◆製品分野 照明・ディスプレイ・化粧品・日用品 ◆分析目的 化学結合状態評価・安全性試験・熱物性評価 ◆概要 熱分解ＧＣ/ＭＳは、試料導入部に熱分解装置を設置したガスクロマトグラフ質量分析計です。 複雑な前処理が必要であった高分子材料についても、熱分解装置で試料を加熱することにより前処理無しで発生したガスをＧＣに導入して分析を行うことができます。 また、熱分解装置の温度条件とサンプリング条件を変えること（ダブルショット法）で、同一試料から添加剤と高分子材料といったように異なった2種類の情報を別々に得られ、未知の高分子材料の解析が容易となります。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
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![[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/c8e/2000240833/IPROS87788558864251994557.png?w=280&h=280){kind=small}
![[OBIRCH]光ビーム加熱抵抗変動法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b16/2000240841/IPROS91438494352794331094.jpeg?w=280&h=280){kind=small}
OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です
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