受託解析の製品一覧

  • 分類:受託解析

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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31P核を用いてリンを含む有機化合物の濃度を算出することが可能!

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非破壊でデバイス内部の特異箇所を把握!断面観察にて特異箇所の詳細な構造や組成情報を評価

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NEGF法を用いた第一原理計算によってFe/MgO/Fe接合系に対してTMR比やスピン・電荷の様子を評価!

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SAXS分析では粒径の統計的な分布の把握が可能!固体/液体の状態を問わずin situでの評価ができます

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技術情報「めっき試料の脱ガス評価(C0464)」他、4件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例5件を公開しました。 ・めっき試料の脱ガス評価(C0464) ・代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) ・LC/MS/MSによるペプチドの配列解析(C0466) ・Siウエハ表面の金属汚染評価(B0233) ・SiN膜中の金属汚染評価(C0465) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です

  • 受託解析
  • その他電子部品

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SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

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試料から発生する「においの主成分」、「アレルギー原因物質解明」の定性分析を実施

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  • 解析装置

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純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です

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技術情報「XPSによる歯科インプラントの評価」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・XPSによる歯科インプラントの評価 ・XPSによるプラスチック容器ガスバリア膜の評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

TDSにより有機膜からの脱ガス成分評価、温度依存性評価が可能です

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技術情報「TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価」ほか3件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価 ・TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 ・TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「AFMによる注射針の表面微細構造観察」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・AFMによる注射針の表面微細構造観察 ・XPSによるSn酸化物の価数評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「有機EL(OLED)の材料構造評価」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・有機EL(OLED)の材料構造評価 ・炭素材料のラマンマッピング 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「めっき試料の脱ガス評価(C0464)」他、4件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例5件を公開しました。 ・めっき試料の脱ガス評価(C0464) ・代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) ・LC/MS/MSによるペプチドの配列解析(C0466) ・Siウエハ表面の金属汚染評価(B0233) ・SiN膜中の金属汚染評価(C0465) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

赤外線が透過する透明な試料でも昇温脱離ガス分析が可能

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IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

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