更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～15 件を表示 ／ 全 22 件
大口径や長焦点光学系の計測に必須の除震台が、不要化もしくは小型化ができるリアルタイムダイナミック干渉計です。
超高速の干渉計測を行うため、震動/振動や空気ゆらぎ(Air turbulence)の影響を最小化、リアルタイムでの波面計測が可能。Twymann=Green干渉法を用いた計測なので、大口径光学系でも同程度の大きさのFizeau面は不要。Diverging lens(発散レンズ)を用いて、様々な拡張測定が可能。
震動環境・長光路での測定に好適
【PhaseCam6000】は、揺れの強い場所や移動物体など、震動環境・長光路での測定に効果を発揮する超小型高速撮像干渉計。 ◎超小型なので、研磨加工機への導入も可能。 ◎ファイバーによって光源部分を分離、従来の重い筺体では困難だったアライ メントを容易に。 ◎オプションでケーブル類、ファイバー延長可能。 ◎様々なDiverging、LensやNull opticsを付けることで、様々な平面・球 面・非球面の測定が可能。 ◎標準的な追加オプションとして、５軸調整マウントや、X5ビームエキス パンダーも用意しています。 詳細な資料や製品に関するご相談、お見積り依頼等は、 下記フォーム、又は弊社ホームページよりお気軽にお問い合せください。
今までの常識を覆す 小型で振動に強いFizeau型干渉計の新定番レンタル開始
一般的なピエゾ駆動に依る位相シフト干渉計を行うTemporalモードと、4D社の長年の実績を生かした振動不感のDynamicモードの両方が選択可能。
小型・軽量なのに、振動に強いFizeau干渉計！
待望の低価格・高性能Fizeauタイプの干渉計です。 時間位相シフト計測と、Tilted Beam瞬時FFT解析測定の2モードを搭載、高いコストパフォーマンスを実現しました。 小型で可搬性に優れ、市販のFizeau参照面の搭載も可能です。 実機によるデモや、レンタルサービスも開始しました。お気軽にお問合せください。
サブマイクロメートル精度で安定した厚み測定を行うための白色光干渉計です
距離変動や振動している計測対象のナノメートル精度の厚み測定 反射防止コーティングされたガラスも安定して計測可能 Webインターフェイスを介した容易な設定
多くのお客様の測定ニーズに対応したシステムを取り揃えております！
東明技研は、独自のブランド Akion(アキオン)で、レーザー干渉計システムを 開発・製造・販売を行っております。 4インチレーザー干渉計「AK-100ZF」をはじめ、6インチレーザー干渉計 「AK-150ZF」や1.5インチレーザー干渉計「AK-40ZF」などをラインアップ。 小口径から大口径のレンズ、平面ガラス、ウェハ、ミラーなどの研磨面を λ/20の高精度で測定評価が可能となります。 【AK-100ZF 特長】 ■超小型4インチフィゾー型レーザー干渉計システム ■横型システムも製作可能 ■広範囲の口径/曲率のレンズ、平面ガラスの面精度評価が可能 ■本体寸法：338×190×254mm ■本体質量：14kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
簡単操作で、波長範囲の選択もできるTHzスキャニングファブリーペロー干渉計
『THz-SFPI』は、THz用高フィネスリフレクターペアを使った スキャニングファブリーペロー干渉計です。 搭載されるリフレクターは周波数域と、必要なフィネスを 指定いただき製作いたします。 また、簡単計測可能なソフトウェアが付属します。 【特長】 ■最高120MHzの分解能で計測が可能 ■反射鏡の付け替えで波長範囲を選択可能 ■簡単なステージ制御ソフトが付属 ■測定を容易にするアプリもご用意 ■標準仕様以外のカスタムにも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
生産現場での小径レンズ検査に適しています！
1インチ干渉計『KNC-1』は、小型光学部品の面検査を製造現場で 誰でも簡単に行えるコンパクトなニュートンチェッカーです。 コストパフォーマンスに優れ、どこにでも運べる 現場に好適な測定ツールです。 オプションにて干渉縞解析装置を接続可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■口径φ1インチの上向き小型干渉縞検査装置 ■波長は一般的なHe-Neレーザーとほぼ同じ ■小型カメラレンズの生産現場に設置して、簡便に面検査をする ■面検査は1度セッティングをすれば、あとはレンズを置くだけ ■難しい操作は不要 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
振動に強いため除振定盤が不要！位相データへ変換して波面マップへ導きます
当製品は、平面度測定をキャリアフリンジ法の特長を生かして測定する 縦型干渉計です。 8インチ(Φ200mm)サイズのサンプルの平面度測定が可能で、縦型に設置する ことにより作業効率が向上。 測定中の振動の影響を受けにくく、連続測定が可能になり、サンプルの 測定結果をリアルタイムで見ることができます。 【特長】 ■干渉計本体を縦型に設置 ■振動に強いため除振定盤が不要 ■リアルタイム測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します
〇コンパクトで軽量(180mm x 180mmフットプリント、0.4kg) 〇UVから近赤外までの選択波長範囲においてOPAやNOPAをサポート 〇吸収スペクトルのためのポンプ・プローブ分光法 〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーにより高スループット実現 〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能 〇頑丈で堅牢なデザイン 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇世界中で迅速なサポート NIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換しする、コンパクト・軽量で安定性に優れた干渉計です。フェムト秒レーザーパルスの入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類なき安定性と堅牢性を備えています。 ※詳しくはPDFカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせください。
266nm 355nm 532nm 1064nm UV領域の用途。ウェハ検査、分光器の校正、干渉計に使用いただけます。
【EXCITEシリーズ 単一周波数固体レーザー 特長】 ● 1～30kHzの繰り返し周波数 ● M2 < 1.6の回折限界ビーム短時間パルスを発振 ●平均出力は266nmで150mW以上、355nmで500mW｡ ●超安定したパルストレースと3m以上の長いコヒーレンス長 ●堅牢な産業用途向けデザイン
精密な計測と検査が可能！ファイバー素線端面向け干渉計／マイクロスコープ
『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の 精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。 本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる 生産ライン向けに設計されています。 R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。 融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと 並んで使用できるコンパクトな設計。 USB3.0ケーブルから電源供給され、お客様がお持ちのPCで駆動可能です。 【特長】 ■見やすい二次元および三次元位置関係表示(topography) ■PCコントローラGUIからのFringe & Inspectionモード ■自動角度推定による非常に速い検査時間 ■PASS/FAILクリーブ角度表示のオプション ■平面度、垂直度、異物(Hackles)、コンタミ等の端面状態の検査 ■2D画像、3D画像やクリーブデータの取得と保存 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光沢紙程度の反射で干渉縞が出現！干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計
当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM-5100-MH」も取り扱っています。 【特長】 ＜倒立型レーザ走査干渉計「LSMi-7000」＞ ■走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 ■セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 ＜円筒用レーザ走査干渉計「LSMi-7500」＞ ■円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
除震台の不要化・最小化が出来、さらに短コヒーレントレーザーを用いることで、複数の干渉面があっても計測したい面を選択できます。
短コヒーレントレーザー(干渉できる範囲が狭い)を用い、内部で2系統に分けた片方の光学系に空間的遅延を作ることで、複数の面が重なりあった複雑な光学系でも、任意の2面を選択して干渉測定が出来ます。測定が難しかった大口径の凸面を、反射型(ヒンドル鏡など)の一部計測できない部分が出来てしまう方式ではなく、透過型で全面を一度で測定可能。望遠鏡のセカンダリミラーや大型ステッパーレンズ、波面保存光学系の最終性能確認などに最適です。 また、今まで不可能であった、HDDの書き込みプロセスを動作状態で、かつ重なっている状態でのそれぞれの振る舞いを測定出来るようになりました。 詳細な資料や製品に関するご相談、お見積り依頼等は、 下記フォーム、又は弊社ホームページよりお気軽にお問い合せください。
