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振動に強いため除振定盤が不要！位相データへ変換して波面マップへ導きます
当製品は、平面度測定をキャリアフリンジ法の特長を生かして測定する 縦型干渉計です。 8インチ(Φ200mm)サイズのサンプルの平面度測定が可能で、縦型に設置する ことにより作業効率が向上。 測定中の振動の影響を受けにくく、連続測定が可能になり、サンプルの 測定結果をリアルタイムで見ることができます。 【特長】 ■干渉計本体を縦型に設置 ■振動に強いため除振定盤が不要 ■リアルタイム測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します
〇コンパクトで軽量(180mm x 180mmフットプリント、0.4kg) 〇UVから近赤外までの選択波長範囲においてOPAやNOPAをサポート 〇吸収スペクトルのためのポンプ・プローブ分光法 〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーにより高スループット実現 〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能 〇頑丈で堅牢なデザイン 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇世界中で迅速なサポート NIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換しする、コンパクト・軽量で安定性に優れた干渉計です。フェムト秒レーザーパルスの入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類なき安定性と堅牢性を備えています。 ※詳しくはPDFカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせください。
266nm 355nm 532nm 1064nm UV領域の用途。ウェハ検査、分光器の校正、干渉計に使用いただけます。
【EXCITEシリーズ 単一周波数固体レーザー 特長】 ● 1～30kHzの繰り返し周波数 ● M2 < 1.6の回折限界ビーム短時間パルスを発振 ●平均出力は266nmで150mW以上、355nmで500mW｡ ●超安定したパルストレースと3m以上の長いコヒーレンス長 ●堅牢な産業用途向けデザイン
精密な計測と検査が可能！ファイバー素線端面向け干渉計／マイクロスコープ
『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の 精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。 本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる 生産ライン向けに設計されています。 R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。 融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと 並んで使用できるコンパクトな設計。 USB3.0ケーブルから電源供給され、お客様がお持ちのPCで駆動可能です。 【特長】 ■見やすい二次元および三次元位置関係表示(topography) ■PCコントローラGUIからのFringe & Inspectionモード ■自動角度推定による非常に速い検査時間 ■PASS/FAILクリーブ角度表示のオプション ■平面度、垂直度、異物(Hackles)、コンタミ等の端面状態の検査 ■2D画像、3D画像やクリーブデータの取得と保存 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光沢紙程度の反射で干渉縞が出現！干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計
当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM-5100-MH」も取り扱っています。 【特長】 ＜倒立型レーザ走査干渉計「LSMi-7000」＞ ■走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 ■セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 ＜円筒用レーザ走査干渉計「LSMi-7500」＞ ■円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
除震台の不要化・最小化が出来、さらに短コヒーレントレーザーを用いることで、複数の干渉面があっても計測したい面を選択できます。
短コヒーレントレーザー(干渉できる範囲が狭い)を用い、内部で2系統に分けた片方の光学系に空間的遅延を作ることで、複数の面が重なりあった複雑な光学系でも、任意の2面を選択して干渉測定が出来ます。測定が難しかった大口径の凸面を、反射型(ヒンドル鏡など)の一部計測できない部分が出来てしまう方式ではなく、透過型で全面を一度で測定可能。望遠鏡のセカンダリミラーや大型ステッパーレンズ、波面保存光学系の最終性能確認などに最適です。 また、今まで不可能であった、HDDの書き込みプロセスを動作状態で、かつ重なっている状態でのそれぞれの振る舞いを測定出来るようになりました。 詳細な資料や製品に関するご相談、お見積り依頼等は、 下記フォーム、又は弊社ホームページよりお気軽にお問い合せください。
【無料デモ・格安レンタル】古い干渉計使っている方必見！参照面の搭載可能な干渉計
＝＝＝ 現在使用されている干渉計で困っていませんか？ ＝＝＝ ◆ まだ昔の干渉計を使っている ◆ 厳しい環境下で使っていて除振台がどうしても必要… 弊社の取り扱っている干渉計は標準的な参照表面・参照球面がそのまま使え低価格・高性能Fizeauタイプの干渉計です。 【特長】 ・従来のピエゾ微動方式でのスキャンではなく、Spatial Career (Fringe)方式で瞬間測定 ・瞬間測定が可能になったことで、震動があっても一度でもデータが取得できれば解析可能 ・ピエゾ微動方式も可能なので、今までと変わらない計測も引き継ぎ可能 また、他社光学ソフトのデータと互換性も抜群なのでお手軽に使えます！ ＝＝＝ デモ機・レンタルも行っておりますので お気軽にお問い合わせください ＝＝＝ ◆アプリケーション ・凡用光学系の測定に ・既存の、古くなった干渉計や測定システムの置き換えに ・製造現場への導入、計測準備などの時間短縮に ・自社光学製品の、展示会・顧客先での性能アピールなどに その他、さまざまな光学系の評価に…
平面形状測定用 反射・透過波面測定！サブナノメートルレベルの位相測定を行える
『OptoFlat』は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に 測定することが可能なInterOptics社製の干渉計です。 小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格。 高出力LED光源で使用することにより、レーザースペックル干渉や 光学系内部干渉が発生せずクリアな干渉縞が生成される、 サブナノメートルレベルの位相測定を行うことができます。 【特長】 ■低コヒーレンス干渉原理を使用 ■平面形状を簡単に測定することが可能 ■小型かつ安定した機械設計 ■従来の干渉計と比較して低価格 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
真空環境下及びクリーンルーム内で計測の出来る白色光干渉計です
ナノメートル精度の絶対距離測定 30ピコメートルの高分解能 真空環境に適したセンサ及びケーブル
広域の表面形状観察が可能
走査型白色干渉計（光干渉計）は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm～4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。
通信量増大に伴う、光干渉計の占める面積増大に対し、面積の制約を緩和する。
光干渉計（例えばマッハ・ツェンダ干渉計）に基づく光回路は、光量子コンピュータ、光AIアクセラレータ、空間多重伝送通信等の、光を用いた次世代型情報処理技術のハードウェアとして重要視されている。従来、大規模な情報処理を行うためには大規模な光回路が必要であり、回路規模には光学テーブルやウェーハの面積の制約があった。 本発明の光干渉計を用いることで、前記の面積の制約を緩和し、光回路のさらなる規模拡張が可能となる。
半導体レーザの縦モード分析に最適 各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長： 330 .. 3000 nm
・半導体レーザの縦モード分析に最適 ・各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長： 330 .. 3000 nm ・FSR:1 GHz ・フィネス > 200 (典型値 > 400)
参照光と試料光の距離差(位相差)を明るさや色で見ることができます！
干渉計とは、光の干渉を利用して、物体の形や距離などを測定する 装置のことです。 光の干渉とは、同じような波長や周期を持つ光が重なり合ったときに 起こる現象です。 光は波の性質を持っているので、重なり合ったときに波が強くなったり 弱くなったりします。これを明るさや色で見ることができます。 【特長】 ■レーザー光などの一つの光源から出た光を二つに分けて、それぞれ 別々の道を通らせる ■参照光と試料光の距離差(位相差)を明るさや色で見ることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
