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清栄コンピュータの電子機器事業「組立機・搬送機・手動治具」のご紹介
ファンクションテストシステム等の検査機・試験機等やメカトロニクス 応用の省力化装置を開発・製造している清栄コンピュータの電子機器事業 『組立機・搬送機・手動治具』のご紹介です。 抵抗値の解析処理機能を装備した「サンドプラストトリミング装置」を はじめ、メンテナンスが容易な「レーザートリマー用オートローダ」や、 高品質半田を提供する「FPC自動半田付装置」などを取り扱っています。 【ラインアップ】 ■サンドプラストトリミング装置 ■レーザートリマー用オートローダー ■極薄FPC貼り付け機 ■FPC自動半田付装置 ■PCB-ROMライタ装備 ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
読み込めない印字が読める、高機能な印字検査機器！印字事故対策は『プロシルエット』におまかせ！
『プロシルエット』 は、読み込めない印字が読める、高機能な印字検査機械です。 ～ご存知ですか？印字事故の年間発生率！～ 実は、毎年確認されるだけで、約200件近い印字事故が起こっているのが現状です。 ひとたび回収騒ぎがおこると、莫大な資金がかかるだけでなく、 これまで積み重ねてきた信頼関係にも大きく影響します。 当製品は、そんな印字事故を未然に防ぐために開発された、 印字検査に特化した次世代の印字検査機です。 【特長】 ■ハレーションに影響されにくい高機能な画像処理 ■最大4チャンネルまで対応するマルチトリガ機能 ■毎日の検査を学習する印字検査機 ■ネットワークを利用し検査が自分のデスクで可能（オプション） ■コンベア一体型印字検査機（オプション） ■印字検査専用排出機（オプション） ■構給袋機二枚取り検知（オプション） ※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
トレーサビリティへの新提案！ネットワークによるトータル管理
当社がご提供するシステムをお手持ちのPCにて一括管理する事で、現場の 状況をその場で把握することが出来ます。 また検査データ等も自動で管理される為、製品のトレーサビリティが高い クオリティで管理する事が出来ます。いわば検査機の【IOT】が可能となります。 また、自社ネットワークや専用ネットワーク等を利用することで、自分の デスクにいながら「プロシルエット」や「コロスキャン」に必要なデータ （画像含む）を管理することが出来ます。 ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
創業より積み重ねてきた【技術】と【経験】で清栄コンピュータにしかできない製品をご提供します！
弊社では、ファンクションテストシステム等の検査機・試験機等や メカトロニクス応用の省力化装置を開発・製造しております。 磁気・ICカード、車載電子機器、プリント基板実装、電子部品、半導体等の分野において 確かな技術で自動車業界、家電業界、食品業界を中心に多大なご支持を頂いております。 【事業内容】 ■食機FA事業 - 食料品や化粧品。医薬品などの生産ラインに 検査機や管理システム等のトレーサビリティ向上を サポートするアイテムを取扱 ■電子機器事業 - 自動車や家電製品に使用する主要パーツや 電子部品の製造過程で、品質向上や機能試験に 貢献するFA機器を取扱 ～清栄コンピュータ株式会社では…～ ◇スケジューリングのデータ化による納期厳守◇ ・ 頂いたご注文を独自の管理システムでデータ化し、 ご注文日から納入日までのスケジューリングを徹底！ ◇一貫生産システム◇ 永年培った電子・メカの応用技術を基盤に、 開発・設計から製造、仕上げ（後加工）、メンテナンスまで自社一貫！ ※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
データを自動取得し、レポート作成の簡略化！目視・手書きでの記録作業から解放されます
『QCsmart』は、スマホで加圧＆負圧の試験データを取得・保存できる製品です。 試験機具と作業工程はそのまま。圧力ホースの分岐を記録装置に接続し、 スマホの開始ボタンをタップするだけです。 測定データ・帳票作成の正確性向上と、レポート作成時間の削減が図れ、 目視・手書きでの記録作業から解放されます。 【特長】 ■簡易な使用方法 ■合否判定機能 ■試験時の写真撮影データをレポートに反映 ■データを自動取得し、レポート作成の簡略化 ■加圧試験と負圧試験の両方対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
量産商品の品質に対応した、使い易さ及び検査コスト低減を考えた設計
製品の開発支援 ・基本設計からの具体的な設計・商品化 ・機能追加による再設計・商品化 ・製品の品質保証を考えたカスタム検査システムのご提案 ・機構設計 ・回路設計 ・ソフト設計 ・検査評価 ♦分配給気ユニット制御基板検査機 ♦カメラ制御ユニット検査装置 ♦電装BOX機能確認装置
多品種少量生産に適した「AI外観検査装置」
位置決め不要、既存ラインに取付可能なAI外観検査装置 【特徴】 1.少量学習 2.省スペース 3.低コスト 【用途】 ・キズ、へこみ、ムラの判別 ・刻印・文字の認識 ・部品有無、組立状態判別 【導入メリット】 1. 高い汎用性で効率化 少データ学習AIにより、製品変更時の再学習を短縮。ライン停止を最小限に抑えます。 また、ポータブル設計で設置も柔軟。現場の稼働効率を最大化します。 2. 省人化でコスト削減 24時間稼働のAIが検査業務の省人化を実現し、人件費高騰リスクを抑制。 低価格で導入できるので初期コストを抑えつつコスト削減が可能です。 3.不良率低減で顧客からの信頼向上 AI検査でヒューマンエラーを徹底排除。全検査データの保存で確実なトレーサビリティを 実現し、客観的なデータに基づいた品質保証でブランド力を強化します。 ※詳細はお気軽にお問合せください
レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査（約181秒/12inch） ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能
透明素材にも対応する高精度検査装置
微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に 観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中
ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現
■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です！ ・ウェハ（基板）の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット）とも提案可能です。 ・AI機能も実装しており、学習を進めることで 欠陥弁別精度向上が可能です。
尿中のバイオマーカーで、非侵襲的で簡便、迅速かつ正確な診断可能
過敏性腸症候群（IBS）は、強い緊張、不安、ストレス等に起因して惹起されるストレス性消化器疾患であり、ストレス社会とも例えられる現代において注目されている疾患の一つである。IBSの症状は腹痛、腹部不快感、下痢や便秘、ガス過多による下腹部の張りなどで、詳しい検査で身体的異常が見つけられず、神経内科的な問診による診断によるため、医師によって判断が異なることが少なくない。 本発明はIBS患者と健常者の尿サンプルをLC/MS で測定し、統計解析にてp <0.05を満たしている有意なピーク及び比を抽出した。その結果、健常者と比較して、IBS患者は1.5～2倍程度の数値が高くなる化合物群を同定した。本化合物は、IBSバイオマーカーとしての活用を期待できる。
シクロフィリンA量を指標として乳腺疾患の 発症可能性を判定
乳牛の乳房炎は家畜の最難治疾病の一つとされており、乳量の低下、治療費の増大につながり、経済的損失が大きいことが知られている。その経済的損失を抑えるためには、乳房炎の早期発見が肝要である。しかし、既存の乳房炎検出方法であるPLテストは、すでに変性が見られるような乳房炎を検体として実施するため、早期発見には至らない。そこで、化学発光能測定法が有望視されている。しかし、化学発光能の測定には特殊な装置が必要となり、経済性および困難性の観点から、各乳業農家が日常的に実施する方法としては適していないという課題がある。 本発明によって、簡便かつ迅速に乳房炎を早期に発見することに資する方法やバイオマーカーを提供することが可能になった。本発明は、被験体の乳房から採取された乳汁におけるシクロフィリンAを検出する工程と、シクロフィリンA量に基づいて、乳腺疾患の発症または発症可能性を判定する工程を含むことを特徴とする。乳汁中のシクロフィリンA量が、健常な乳房から採取したものよりも大きい場合、被験体の乳房において乳腺疾患が発症している、または発症可能性があると判定する。
ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能！多様なオートメーション要求に対応
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7862』をご紹介いたします。 総合アライメント精度は±2.5μmで、ハーフ/クオーターパネル向けの 検査装置。チップレットなどの大型・多ピン基板に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応
『STAR REC V5III』は、V3/V5シリーズとの治具互換や先進テスタ搭載を 実現したプリント基板向け導通・絶縁検査装置です。 検査精度と速度も改善し、微細化するプリント基板の検査にも対応。 また、オプションにて基板に刻印された2Dコードの読取致りを実施、 検査結果と2Dコード情報の紐付けを行い規定のフォーマットにて、 外部PCにデータ出力実施いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■検査ソリューションの提供 ■2Dトレーサビリティ対応(オプション) ■スマートファクトリー対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICマルチファンクション検査対応！自社開発によるLCRメーター搭載
『R-5940』は、IC Embedded基板に特化したスーパーテスタです。 高速な導通・短絡測定、μΩ精度と高速検査の4端子測定、all-CH LCR測定 に加え、高精度のIC検査で多様化するニーズにお応えします。 最大16個のSMUを電源並びに電子負荷としてDUTに接続することでパワー ON/OFFのシーケンスを実現しており、SMUを自由に組合せたDUT測定が可能です。 【特長】 ■高速検査 ■高精度 ■IC Embeddedに特化 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
微小容量検査高分解能！薄膜RFフィルタ/加速度センサなど様々な製品を検査可能
『R-700シリーズ』は、高速・高精度でコンパクト設計のAC/DC MULTI TESTERです。 薄膜RFフィルタ/車載DCモジュール/加速度センサ/MEMSデバイスなど 様々な製品を検査可能。 「R-730 Standard」をはじめ「R-780 High Insulation」や「R-770 AC Dynamic」などをラインアップしております。 【特長】 ■超高絶縁 ■高速・高精度 ■コンパクト設計 ■最大検査ポイント 512ピン ■微小容量検査高分解能 ■4W低抵抗測定 0.1mΩ～ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ガラスコア対応可能な技術力と信頼！高速・高精度3次元計測装置
当社で取り扱う、ガラス基板対応3D計測装置『NSAT Series』を ご紹介いたします。 深さ5μm、Line Space 2/2に対応。Trace、Anchor、Overlay、 Filmなど様々な測定機能がございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■深さ5μm、Line Space 2/2対応 ■透過測定法によるSR•ABFの厚さ測定 ■ガラスコア対応可能な技術力と信頼 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
車載パワー半導体（IGBT,SiC）モジュール絶縁 静特性 動特性検査装置
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」や、DC/AC Testが可能な「NATS-1304」などさまざまなラインナップをご用意しています。 ぜひお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
超高速36,000rpm対応！カメラや各種センサーも接続でき時間軸同期ロギングが可能
『TDAS-Series』は、EV/HEVの車載用駆動モータ単体及びE-Axle(モータ、 インバータ、ギア一体型)の性能試験、耐久試験を行うための装置です。 オリジナルの計測、制御、解析ソフトウェア＆GUIにより簡単なシンプル操作で 一定トルク運転や一定速度運転、WLTC等の走行パターンに合わせた各種試験も 行うことが可能。 また、ライブカメラにて画像とデータをリアルタイムでモニターすることが出来、 TDASモニタリングシステムにて遠隔モニタリングもできます。 【特長】 ■3軸/4軸テストベンチ構築可能 ■インバータ用テストベンチ構築可能 ■シンプルで簡単な操作で計測、制御、解析が可能 ■TDAS遠隔モニタリングシステム対応可能 ■超高速36,000rpm対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
知りたい特性結果を瞬時に解析R＆Dから量産検査に！他社製テストデータの解析も可能
『Pulse EYE(パルスアイ)』は、Power半導体検査/Waveformの 解析支援ツールです。 任意の信号のグラフ表示および操作、カーソル表示、解析位置表示選択、 ローカスグラフ表示機能がある「Waveform Analyze」や、2ファイルの グラフを重ね書きにより容易な比較表示が可能な「Dual File View」など 様々なモードがございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■業務効率化/時間短縮 ■1クリック2～3秒で全ての波形を表示 ■解析位置情報表示 ■複数File表示比較 ■波形表示・白黒反転 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
最新半導体パッケージ向けに中間プロセスから最終外観検査まで多彩な装置をラインアップ
当社は、半導体ウエハおよびプリント基板の微細化や高密度化、大型化、三次元実装に対応する画像検査装置を提供しています。 RWiシリーズやRSHシリーズのバンプ3D自動検査システムに加え、 AIアルゴリズムを組み込んだフルカラー最終外観検査装置を新たにラインアップに加えることで、 電気検査からバンプ検査、最終外観検査まで人手を介さない完全自動化複合装置提供が可能となり、自動化要求の高まる半導体パッケージの後工程プロセスをサポートします。 バンプ検査システムであるRSHシリーズは様々な構造のバンプの形状や反り、 平坦度などを高精度に測定できるほか、ビアや配線パターンを三次元で高速検査する新機能を追加して全数量産プロセスを可能とし、 目視検査プロセスの負担を軽減すると同時に製品品質と検査効率の向上に貢献します。 さらに、近年需要の高まるガラスコア基板やガラスインターポーザー向け検査システムとしてTGVの欠落、 形状や寸法異常などに加え、ガラスの欠けやクラックを検出する新たな検査システムを今回新たにリリースしました。 ※詳しくは＜カタログをダウンロード＞より資料をご覧ください。
大型／多ピン基板向け導通絶縁検査装置
開発中の大型／多ピン基板向け導通絶縁検査装置「STAR REC V6」シリーズのご紹介です。 「STAR REC V6」は当社製の最新高精度・高速テスターを搭載し、 総合アライメント精度±１０μmを実現。大型化、多ポイント化する基板の検査ニーズにも対応しています！ 大型基板の段積みやハンドリングにお困りの場合、 基板の収納トレイへの供給や排出、AGVでの運搬にも対応可能です！ ぜひお気軽にご相談ください。
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7885』をご紹介いたします。 ガラスキャリアを使用したFOPLP/RDLの電気検査において、高速・高精度なプロービングを実現する電気検査システムです。 【特徴】 ■Fullパネルサイズ（510×515ｍｍ）検査可能 ■上側最大ポイント数24Ｋｃｈ対応 ■総合アライメント精度±3.5μｍ ■２つのタイプのRSD検査が可能 ■SEMI規格準拠 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
TGV検査に最適な画像検査装置が完成！
高解像度の２D及び３Dカメラを使用し、また、NIR（近赤外線）を組み合わせることで あらゆる欠陥の検出を実現しました。 従来の高精度な表面検査に加え、NIRより内部の欠陥や深度も計測が可能になりました。 また、ガラスだけではく、SiC/シリコンウエハ、ABFフィルムなど、対応可能な材質も拡大。 ぜひお気軽にお問い合わせください。
上下総合48Kポイント対応！大判フルパネル基板（500×620mm）の多面付け一括・高速検査ソリューション
当社が取り扱う、半導体パッケージ多面付けフルパネル基板検査装置 『GATS-8370』をご紹介します。 ユニットサイズの大型化・多ピン化が進む次世代半導体パッケージに最適。 フルパネル基板の一括・高速検査に対応する高精度電気検査装置です。 1シャトルによる効率的なステップ＆リピート検査を実現し、品質向上とタクトタイム短縮を両立します。 【特徴】 ■上下総合48Kポイント（49,152p）の大容量検査 ■大型ユニット製品の一括検査（最大300mm） ■大判フルパネルサイズ（500mm × 620mm）に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
総合位置決め精度±2.5µm！大型・多ピン半導体パッケージ基板の検査に最適な高精度検査装置
『GATS-7837』は、サイズの大型化および多ピン化が進む半導体パッケージ基板の検査において、極めて高いコンタクト精度を実現する高精度検査装置です。 【特徴】 ■総合位置決め精度±2.5μm ■Tray挿入/排出のローダ・アンローダ対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ハンドリングなしの検査が可能！インライン型Neoviewのスタンダードモデル！
卓上型目視検査装置のスタンダードモデル！ 『NVS400LM2』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ■少ない検査員で検査効率を上げるマルチコントロール機能（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
500万画素カメラ搭載で半田表面までしっかり検査！不良箇所を漏れなく表示します！
卓上型目視検査装置のスタンダードモデル！ 『NVS500LM2』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ■少ない検査員で検査効率を上げるマルチコントロール機能（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
卓上型目視検査装置のスタンダードモデル！
『NVS400DM』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
