顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

136~150 件を表示 / 全 208 件

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多共焦点ラマン顕微鏡 Phalanx-R

写真を撮るように「一瞬」で化学反応の様子や細胞内部の分子分布状態をラマンイメージング

多共焦点ラマン顕微鏡 Phalanx-Rは、写真を撮る様に「一瞬」で2次元ラマンイメージを取得できる、世界初のラマン顕微鏡です。 今まで、不可能であった、変化していく化学反応の様子をリアルタイムでイメージングしたり、細胞内部の分子分布状態やその変化を高速に、試料への光ダメージを抑制し、観察することが可能です。

  • 分光分析装置
  • レーザー顕微鏡
  • 分析機器・装置

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【分析事例】TEM・SEM有機EL・ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置によるSTEM観察 測定法:TEM・SEM 製品分野:LSI・メモリ・ディスプレイ・太陽電池・照明 分析目的:形状評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法:TEM 製品分野:パワーデバイス・光デバイス 分析目的:形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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[C-SAM]超音波顕微鏡法

C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

C-SAMは、SAT:Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。

  • 打ち合わせ.jpg
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  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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【分析事例】二次電池正極活物質の構造評価

活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能

リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi(NiCoMn)O2(NCM)の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素(Li、O)の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属(Ni、Co、Mn)の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法:SEM・EBSD・TEM 製品分野:二次電池 分析目的:形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • 正極の断面SEM像.png
  • 二次粒子の断面SEM像(拡大).png
  • EBSD拡大図.png
  • 粒径ヒストグラム.png
  • ABF-STEM像.png
  • HAADF-STEM像.png
  • 結晶構造モデル.png
  • C0605_サムネ.png
  • 充電器
  • 受託測定

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【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます!

赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる 赤外レーザーイメージングに対応します。 当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、 「関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出」や「赤外レーザー イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。 QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に 基づくより正確な定性分析を実現します。 【掲載内容】 ■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて ■関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出 ■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット ■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出 ■FT-IRによる分析の信頼性の向上 ■FT-IRとレーザーイメージング:強力なコンビネーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザー顕微鏡

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大型ガラス基板の検査に 大型パネル顕微鏡

大型ガラス基板を検査する顕微鏡で移動量はデジタルカウンタに表示。手動型と電動型がございます。

大型基板を検査する検査用顕微鏡です。 大型基板をステージに載せて移動して顕微鏡検査が出来ます。 移動量をデジタルカウンタに表示して、線幅や位置測定ができます。 手動型はハーフナット式でフリー移動とハンドル微動式です。 電動型はステッピング駆動がリモートでできます。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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分析・計測・解析 分野

前処理・分析技術を駆使して課題解決!種々の材料解析と分析評価で開発を支えます

当社は、データ解析(AI/機械学習等)を活用し、製品の付加価値向上や 業務改善をサポートいたします。 目前にある課題やお困りごとを、材料開発、分析、データ解析の専門家が スピーディーに解決。 専門家集団がプロジェクトを組みワンストップでご要望にお応えします。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【当社の主な保有設備】 ■FE-TEMTEM(3D、プリセッション)、FE-SEM 、FE-EPMA ■FT-IR、ラマン、NMR、AFM、レーザー顕微鏡 ■X線CT、XPS、XRF、XRD ■TG/DTA(水蒸気ガス化)、DSC ■GC(MS)、LC(MS)、TOFMS、HPLC、IC、ICP、GPC、DART、AAS ■VMS等各種磁気測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(視野域:30x50mm・分解能:50nm)

レーザ走査を用いた初めての干渉計測  光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)   サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。   走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能   セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能   干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500)   円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000)   非接触で微細な干渉縞計測可能。   交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能   通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50mmの範囲を3D形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です   

  • レーザー顕微鏡

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顕微鏡デジタルカメラシステム『image X Earth』

ファストモード搭載!使いやすさと高機能を追求した顕微鏡デジタルカメラシステム

『image X Earth』は、圧倒的な指示を得た自動エッジ検出機能が、 ライブ映像上でも使用可能な顕微鏡デジタルカメラシステムです。 500万画素「USB3」カメラを新たにラインアップ。 検鏡像の「測れる化」と「見える化」をより強力にサポートします。 【特長】 ■より高精細な測定・解析処理なら1000万画素タイプ ■高速転送なら25fpsの130万画素タイプ ■両者を兼ね、高解像度・高速転送のニーズに応えた  500万画素USB3.0カメラをラインアップ ■USB2.0タイプでもファストモード搭載 ■ライブ映像での高速表示・フルサイズ画像取込も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法:SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野:太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的:構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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[EMS]エミッション顕微鏡法

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能

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【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化

当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の内部構造を  巨視的な形態観察で評価可能 ■電子顕微鏡による詳細構造の観察では、  乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託解析

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米国 クエスター社 長距離顕微鏡

1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。

クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。

  • 光学顕微鏡

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[AFM]原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能

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