Last Updated： Aggregation Period:2025年08月20日～2025年09月16日
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金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EPISセンサを お客様がお手軽に利用できるよう、卓上顕微鏡型の 「EPIScope」を商品化いたしました。
１．電気検査では困難な Open/Shortの『不良位置』を特定できます。 ２．光学画像では困難な『凹み』不良を検出できます。 ３．表層パターンだけでなく、内層パターンの不良も検出できます。 ４．静止画像だけでなく、動態観察も可能です。 ５．電気的な差を検出するので、汚れ（絶縁物）の影響を受けにくい。
樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする
株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに 高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
暗室不要、使いやすさを追求した汎用性の高いオールインワン顕微鏡
Invitrogen EVOS M5000 Imaging Systemは、高い解像度と汎用性の高い機能を搭載した蛍光顕微鏡です。 高解像度カメラ、明るくデジタル制御されたLED光源、直感的なソフトウエアを搭載しており、高品質の蛍光・カラーイメージングを、高い自由度で実現します。 シームレスな画像取得に続き、ライブモードや保存済みの画像にも使える便利なツールセットで、画像の解析、編集、アノテーションが行えます。 特長 ■ オンボードソフトウエアで自動細胞カウントおよびコンフルエンス測定 ■ 暗室不要でレンズをのぞく必要がないオールインワン型顕微鏡 ■ マルチチャンネル自動蛍光イメージング ■ 高解像度モノクロカメラを搭載 ■ Thermo Fisher Cloud Platformにより、いつでもどこからでも画像やデータにアクセス可能 ■ 安全キャビネット内へ設置し、クリーンな状態で操作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000～1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析） ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エマルション評価・解析に好適な新手法のご紹介。高解像度撮影・全自動定量解析
化粧品の浸透性向上や、医薬品の薬物送達(DDS)の最適化、食品の呈味性の改良、などで近年注目が高まっている“エマルションの評価”。顕微鏡による観察を行う際、「分解能が足りず鮮明に見えない」「ダブルエマルションの内部構造まで鮮明に観察できない」「粒子を1つずつ測ったり数えたりするのは時間がかかるし、人によって結果もばらつく」といったお困りの声をいただくことが増えております。 キーエンスの高解像度倒立顕微鏡『ＢＺ－Ｘ８００』は高感度・高解像度のＣＣＤカメラを搭載。 微細なダブルエマルションもしっかり観察することができます。 また、全自動で定量解析が可能なので、スピーディに人のばらつきなくエマルション評価が可能です。 現在、エマルションの高解像度撮影をはじめ、医薬品・化粧品・食品業界での活用事例集を無料進呈中です。 【掲載内容(抜粋)】 ■ダブルエマルションの高解像度撮影 ■ケラチノサイト（角化細胞）の増殖能評価 ■テープストリッピングによる角層評価試験 ■皮膚表皮層のUVダメージ部位の定量評価 ※貴社に実機をお持ちしてテスト測定も可能です。 ご希望の方はご連絡ください。
優れた可視観察能力、拡張性、迅速な問題解決能力を備えた、Nicolet 赤外顕微鏡の新たなフラッグシップモデル
『Nicolet RaptIR』は、分析対象を広範囲に俯瞰し、速やかに関心領域を特定し、マイクロメーターオーダーでの洞察を可能にする可視観察能力と精度を備えた赤外顕微鏡です。 当製品を使用するとサンプルサイズと分析時間の両面で大幅に生産性を向上できます。 また、さまざまなユーザーに適応できるだけでなく、さまざまな業界での使用にも柔軟に対応。対物レンズ、赤外分光能力、鮮明な画像は、美術品修復、品質管理、マテリアルサイエンスなどの多様な研究分野で役立ちます。 【特長】 ■複雑なサンプルを的確に識別 ■マイクロメーターオーダーの分析結果を迅速に取得 ■サンプルからレポート作成までの時間を大幅に短縮 ■さまざまな目的を達成するための拡張性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ！ 組織観察過程を全自動化
さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。
高画質HDMI/DVIやVGA/D-Sub出力に対応したモニター接続用マイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）モニター用シリーズ』は、 モニターやTVのHDMIまたはDVI端子に接続して、 パソコンを経由せずに直接画像を映し出すデジタル顕微鏡です。 720pのデジタルHD超高画質での観察が可能です。 パソコンを必要としないので簡単に素早く作業を開始できます。 また、本体のボタンを押すことにより画像を静止させることが可能です。 【特長】 ■HDMI/DVI 超高画質デジタル出力 ■D-Sub/VGA高画質出力 ■アルミ合金の精密ダイキャストボディを採用 ・非常に剛性が高く堅牢さがアップ 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
[デモ機あります。ご依頼ください]バッテリー内蔵モニターが付属のDino-Lite。持ち運んでどこでも使用できるデジタル顕微鏡
『Dino-Lite（ディノライト）ポータブルシリーズ』は、携帯可能な液晶モニター付きバッテリー内蔵のレコーダーが付属で、思った時に好きな場所に持ち運んで使えるデジタル顕微鏡です。 パソコンなしで、その場でSDカードに静止画や動画の記録ができます。 フィールドワークに最適です。 【特長】 ■10～230倍に拡大可能 ■白色LEDライトを搭載 ■SDHCカード(～16GB)への動画と静止画の撮影機能やテレビ出力機能装備 ■バッテリー内蔵でAC、USBで充電可能 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
