測定顕微鏡 STM7（EVIDENT）
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
- Company：株式会社ナガタ
- Price：応相談
顕微鏡 Product List and Ranking from 192 Manufacturers, Suppliers and Companies
Last Updated： Aggregation Period:2025年11月19日～2025年12月16日
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顕微鏡 Manufacturer, Suppliers and Company Rankings
Last Updated： Aggregation Period:2025年11月19日～2025年12月16日
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- スリーアールソリューション株式会社 福岡県/商社・卸売り
- 株式会社キーエンス 大阪府/産業用電気機器
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
- 4 アズサイエンス株式会社 松本本社 長野県/商社・卸売り
- 5 株式会社アイテス 滋賀県/電子部品・半導体
顕微鏡 Product ranking
Last Updated： Aggregation Period:2025年11月19日～2025年12月16日
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- 携帯型顕微鏡 『マジックルーペ アール』/15倍拡大・撮影保存可 スリーアールソリューション株式会社
- 白色干渉計搭載レーザ顕微鏡『VK-X4000シリーズ』 株式会社キーエンス
- 白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡『VK-X3000』 株式会社キーエンス
- 4 オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X1000シリーズ』 株式会社キーエンス
- 5 オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』 株式会社キーエンス
顕微鏡 Product List
586～600 item / All 660 items
Displayed results
インキュベーター内タイムラプス蛍光顕微鏡『LS 820/850』
インキュベーター内使用可能・タイムラプス3色蛍光顕微鏡
etaluma社の『Lumascope 820/850』は、インキュベーター、 安全キャビネット、環境制御ワークステーションなどの限られた スペースの中で使用できる小型タイムラプス蛍光顕微鏡です LED光源、Semrock製フィルター、高度な光学設計、 CMOSセンサーにより、ほぼ回折限界の分解能が得られます。 また、専用のパソコンとUSBで接続するだけで、静止画、 タイムラプス、動画を簡単に保存でき、低コストで、高品質画像での 3色蛍光（青色・緑色・赤色）観察が可能です。 【特長】 ■先進のLEDの光学設計によりコストを低減し、操作性・メンテナンスを簡素化 ■PCとのUSB接続による電源供給と制御で、迅速なセットアップと使い易さを実現 ■高度な光学システムにより、一般の照明条件でも優れた解像度を提供 ■位相差ユニットにより、非染色サンプルの観察を強化 ■Evident社の対物レンズとの互換性により、高画質を提供、など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：オレンジサイエンス株式会社
- Price：500万円 ~ 1000万円
【測定事例】 熱で金属薄膜の厚みを評価する 【TM】
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
- Company：株式会社ベテル 本社・工場、東京オフィス、ハドソン研究所、ベトナム工場
- Price：応相談
【10/15開催】MicroED結晶構造解析の基礎と応用パート2
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：スペラファーマ株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』
最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』
故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング
『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕微鏡 ■感度が向上された高真空SSRMモード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX12-Bio』
強力なライフサイエンス用走査型プローブ顕微鏡
『Park NX12-Bio』は、1台の革新的プラットフォームに3種類の 高性能ナノスケール顕微鏡を搭載した原子間力顕微鏡(AFM)です。 革新的な液中イメージングが可能な走査型イオンコンダクタンス 顕微鏡(SICM)と高い評価をいただいている原子間力顕微鏡(AFM)技術の 両機能を可能にしています。 【ナノスケール生物学研究のための総合的なソリューション】 ■フレクチャー式の完全独立Z軸スキャナ/XYスキャナを搭載、 完全非接触技術(TM)を備えた高精度Park NX AFM ■倒立型光学顕微鏡技術による超高分解光学イメージング ■スキャニング イオンコンダクタンス顕微鏡搭載により進化した 生体細胞イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』
NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに 高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
【新発売！】原子間力顕微鏡『Park NX7』
【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品！当社が取り扱う原子間力顕微鏡をご紹介！
『Park NX7』は、Park Systemsが持つ新技術がすべて搭載されており、 かつお手頃な価格でお求め頂けます。 当製品は細部に至るまで上位モデル同様に設計されており、 研究を促進することが可能。 また、ボーイングのないフラットな直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、 サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- Company：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
- Price：応相談
両面顕微鏡システム『TOMOS-50』
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました
『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売もしております。 お問い合わせください。 【特長】 ■コンパクトタイプ ■約300万画素 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定(条件により異なる) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：株式会社フローベル
- Price：応相談
両面顕微鏡システム『TOMOS-60XY』
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：株式会社フローベル
- Price：応相談
8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム
±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定します！
『TOMOS-50/60/80/XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 電動制御及び自動計測となっており、両面露光パターンズレや 半導体ウエハー、4インチ、6インチ、8インチウエハー、MEMS、 水晶振動子などの表裏位置ずれ計測、観察に利用可能。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正します。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能です。 【特長】 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定 ■表裏2chオートフォーカスユニット組み合わせ可能(オプション) ■電動XYステージ制御システム開発中 ■装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。
- Company：株式会社フローベル
- Price：応相談
6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム
電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載！
『TOMOS-60XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 【用途】 ■観察：電子ペーパーの電気泳動、粒子、流体、フィルターなどの表裏同時観察 ■表裏位置ずれ計測：水晶振動子、ＭＥＭＳなどのアライメントマーク、貫通穴の表裏位置ずれ計測 ■表裏寸法計測：水晶振動子、半導体線幅パターンなどの表裏寸法計測 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。
- Company：株式会社フローベル
- Price：応相談
