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分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする
株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
光学性能と使いやすさを両立させたコンパクトな偏光顕微鏡です。
株式会社ニコンソリューションズ 偏光顕微鏡 ECLIPSE Ci POLは、デスク上を占有せず広く使えるパーソナルタイプの偏光顕微鏡です。NAと長作動距離を同時に実現したCFI60 光学系を搭載しており、先進的な光学性能とユーザーフレンドリーな操作性を兼ね備えています。 〇特長 ・心出し５孔レボルバー ・偏光用中間鏡筒 ・透過・反射照明タイプ ・基本性能はもちろん、コストパフォーマンスにも優れています ・高さのあるサンプルも楽に観察ができます ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
進化し続ける実体顕微鏡のスタンダード
株式会社ニコンソリューションズ システム実体顕微鏡 SMZ1270/1270iは、クラス最高の12.7倍ズーム（倍率範囲0.63x-8x）を搭載しております。最先端の光学系が、視野全体にわたって明るくシャープな像を実現します。 〇特長 ・クラス最高のズーム比 ・優れた色収差補正 ・高性能対物レンズ ・対物レンズ簡単切替えと垂直視観察 ・透明サンプルに最適なOCC照明 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本性能と操作性がアップした、汎用性の高いコストパフォーマンスモデル
株式会社ニコンソリューションズ システム実体顕微鏡 SMZ800Nは、倍ズーム（倍率範囲1X-8X）を搭載し、総合倍率5X-480Xを実現。高倍率ズームにより、微細な構造も高精細に観察可能です。ズームボディ光学系の色収差補正を改善したことで、視野全体にわたってシャープな像が得られます。 〇特長 ・優れた基本性能 ・快適な姿勢で観察 ・多彩なアクセサリーによる高い拡張性 ※PDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
ズーム比12(0.83x～10x)！3種類の対物レンズをご用意しております
『TAZ10-IR』は、AZ10 ズームマイクロスコープに赤外線対応型の レンズを搭載した赤外線顕微鏡です。 化合物材料に被われた試料の内部やシリコン基板の内部、 ワイヤボンディング接着面など、可視光では観察することができない 試料の観察やアライメントに好適です。 【特長】 ■15倍・30倍・50倍の対物レンズを用意 ■手動(TAZ10-IRT)・電動(TAZ10-IRE)の2種類から選択可能 ■対応波長域 650nm～1200nm(赤外・一部可視)＝近赤外線用マイクロスコープ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
f＝200mm無限遠設計の同軸照明対応！超広視野な顕微鏡
当社では、Image Circle 33mmの『2500万画素超広視野顕微鏡』を 取り扱っております。 レーザーオートフォーカス・電動レボルバ組込みが可能。 また、f=200mm無限遠設計で、同軸照明対応です。 【特長】 ■専用対物レンズ 2.5X・5X取付可能 5X使用時 視野(FOV)4.6mm×4.6mm ■Camera Link I/F ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
洗練されたツールで、測定・解析を迅速に
実験準備からレポート作成まで、トータルでサポートするツールへ進化 ・実験準備から分析・レポート作成までをこの1台で ・誰でも業界最高レベルの測定性能を ・設定不要で高精度な測定を
豊富なサポート機能により、適切なセッティングを実現します。
豊富なサポート機能により、初心者でも顕微鏡の適切なセッティングが簡単に行えます。 また、新開発のガイダンス機能により、前回と同じ観察条件に簡単に戻すこともできます。BX53Mなら、顕微鏡を使いこなすために必要だった専門的なトレーニングを受けなくても顕微鏡の機能を充分に活用でき、作業者ごとのバラつきも抑えることができます。 ◆ダイヤルを回すだけ：シンプルな観察法の切替 顕微鏡使用時に必要となる複雑な操作を極限まで排除します。投光管前面のダイヤルで観察方法を変更でき、明視野、暗視野、微分干渉など、使用頻度の高い観察方法を素早く切り替えられるため、様々な解析を手軽に行えます。さらに簡易偏光観察の場合でもアナライザーを回転させることで観察の幅が広がります。 ◆ガイダンスで適切な画像を取得：指標付絞り これまで適切な設定が分かりにくかった絞り位置を、表示に合わせるだけで適切に指定できます。開口絞り及び視野絞りを適切に設定すると、光学性能をフルに活用した高コントラストの画像が得られます。
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
インキュベーター内使用可能・タイムラプス3色蛍光顕微鏡
etaluma社の『Lumascope 820/850』は、インキュベーター、 安全キャビネット、環境制御ワークステーションなどの限られた スペースの中で使用できる小型タイムラプス蛍光顕微鏡です LED光源、Semrock製フィルター、高度な光学設計、 CMOSセンサーにより、ほぼ回折限界の分解能が得られます。 また、専用のパソコンとUSBで接続するだけで、静止画、 タイムラプス、動画を簡単に保存でき、低コストで、高品質画像での 3色蛍光（青色・緑色・赤色）観察が可能です。 【特長】 ■先進のLEDの光学設計によりコストを低減し、操作性・メンテナンスを簡素化 ■PCとのUSB接続による電源供給と制御で、迅速なセットアップと使い易さを実現 ■高度な光学システムにより、一般の照明条件でも優れた解像度を提供 ■位相差ユニットにより、非染色サンプルの観察を強化 ■Evident社の対物レンズとの互換性により、高画質を提供、など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
