パワー半導体テスタ CTT3280
Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
検査装置(パワー半導体) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
更新日： 集計期間:2026年02月25日～2026年03月24日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
検査装置の製品一覧
1～15 件を表示 ／ 全 15 件
表示件数
【納入実績】パワー半導体検査装置
計測とメカトロをシステム化！応用電機の納入実績をご紹介
応用電機では、非規格少最生産に徹し、常時千種におよぶ製品を手がけ 納入しております。 「パワー半導体検査装置」は、大電流ユニットや高電圧ユニット、バスバー、 ゲートドライブ回路および計測ソフトウェアをお客様の仕様に基づき 自社開発しております。 AC測定、DC測定ならびに負荷短絡試験など測定全般に関わる ソリューションを提供しています。 【特長】 ■非規格少最生産 ■お客様の仕様に基づき自社開発 ■測定全般に関わるソリューションを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）
- 価格：応相談
ロータリー式ハンドラー EXIS400
高速ロータリー式ハンドラー、自動テーピング装置が必要な場合にご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能を持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置。半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
ロータリー式ハンドラー EXIS550/700
高速ロータリー式ハンドラーが必要な場合にご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能ボイスコイルを持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置、加熱測定の対応も可能。 半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
ロータリー式ハンドラ EXIS250/300
高速ロータリー式ハンドラーが必要な場合にはこのEXIS250/300ごご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能を持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置。半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
ナノフォーカスX線検査装置 Quadra7Pro Nordson
次世代デュアルモード管球を兼ね備えた最新鋭Ｘ線検査装置
Quadra7 Proでは従来のメンテナンスフリーのシールドトランスミッシブタイプＸ線管をさらに改良し、業界初のデュアルモードを搭載。パワーデバイスからウェハー検査までより幅広いアプリケーションに対応することができ、また自社開発した最新世代のOnyxフラットパネルと組み合わせることでさらにノイズを低減し、パワーアップしました。
- 企業：日精株式会社 本社
- 価格：応相談
NSテクノロジーズ トライテンプICハンドラNS-8080MT
NSシリーズのレイアウト・操作性はそのままに、 安定的な低温測定を実現
NSテクノロジーズ NS8080MTは低温/高温/常温でのデバイス測定に対応したトライテンプハンドラです。 液体窒素レスの冷却システムを採用し、低ランニングコスト・安定稼働を実現しております。
- 企業：兼松ＰＷＳ株式会社
- 価格：応相談
プログラム運転対応マルチ用途X線検査装置｜Cheetah EVO
検査条件を登録してプログラム運転、半導体・電子部品検査の省人化と品質安定を支援し、運用設計やX線被ばく対策もワンストップ提案
《Cheetah EVO》のマルチフォーカスX線管は、ナノフォーカス・マイクロフォーカス・ハイパワーモードに対応、微細構造の解析から厚みのあるワークの検査まで、エレクトロニクス業界における多様な製品の検査・解析に対応可能です。 ■マイクロスコープ感覚で使えるX線透視観察機能は直感的な操作で試料内部をリアルタイムに観察可能、X線検査が初めての方でも扱いやすい設計 ■16ビット 65,536階調の高階調X線検出器を採用し、微妙な濃淡差や低コントラストな欠陥も高精細に表現 ■直交CT機能によって電子部品や電子モジュールの3次元的な故障解析に対応 ■斜めCT機能によって実装基板など平たい形状のサンプルの平面断層解析にも対応 ■検査条件を事前に登録できるプログラム運転機能により、作業者に依存しない再現性の高い検査運用を実現、抜き取り検査や選別など製造現場向けX線検査装置として省人化・標準化に貢献 ■装置導入に加え、検査条件の最適化支援や運用設計の提案にも対応 ■X線被ばく低減を考慮した被ばく対策ソリューションを含め、安全性にも配慮した検査環境を提供
パワー・モジュール用動特性検査装置
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。
１台でスイッチングタイム、ＶＣＥ（ＳＵＳ）、負荷短絡測定を実現 高温／低温環境下での動特性（AC特性）測定に最適 コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能 加熱／冷却用チャンバー付きも可能
株式会社プロアクト 事業紹介
検査装置・計測機器のカスタム製品なら当社にお任せください
株式会社プロアクトは検査装置、計測機器の設計製作を中心として、 お客様のニーズ合わせたカスタム製品の製作を行っております。 各種プリント基板の機能検査(ファンクションテスト)をはじめ、 車載ECU、電装ユニットの性能テストや評価機などパワー エレクトロニクス分野における計測、制御技術に注力しております。 また電子回路、ソフトウェア、通信、制御など各種技術をベースとして 適したシステムのご提案と構築も行います。 【事業内容】 ■検査装置、計測機器の開発設計、製造 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
- 企業：株式会社プロアクト 本社
- 価格：応相談
ウエハ外観検査装置 ※検査内容に合わせた機能の選択が可能！
検査内容に合わせた機能の選択、豊富なオプション機能による高精度検査が可能なウエハ外観検査装置
当社が取り扱っている『ウエハ外観検査装置』について ご紹介いたします。 ウエハ工程で発生する外観欠陥を高速かつ高精度に検査可能。 検査対象はLSI、LD、Di、LED、パワー半導体、化合物半導体、MEMS。 検査例はカケ・ワレ、クラック、スクラッチ、パターン異常、異物、 塗布不良、ズレです。 【特長】 ■検査内容に合わせた機能の選択が可能 ・ミクロ検査、マクロ検査 ・カラー検査、モノクロ検査 ・エリアカメラ、ラインカメラ ・表面検査、表裏面検査 ■豊富なオプション機能による高精度検査が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社ヒューブレイン
- 価格：応相談
ウェーハチップ単体用動特性検査装置
チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体（IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
ウェーハ表面パーティクルスキャナ ＹＰＩ－ＭＸーＤＣ
次世代パワー半導体ウェーハSiC/GaN用パーティクル検査装置
ノンパターンSiCバルクウェーハ 0.1μm検出。 微小スクラッチ検出。 SiCやGaNウェーハの洗浄確認に最適です。 自動搬送とマニュアル搬送が選択できます。 顕微鏡観察機能で測定後のレビューができます。
- 企業：株式会社山梨技術工房
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
ウエーハチップ・ダイレベル自動外観検査装置『CIシリーズ』
ダイシング後ベアチップの個片外観検査装置 ソーティングの最適化ソリューションの提案！※サンプル評価対応
『CIシリーズ』はベアチップ個片をトレイtoトレイで搬送や、ウエアtoトレイの搬送など(XPシリーズで対応) 高精細な外観検査を行い良品/不良品に分類する装置です。 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に適した装置です。 対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ サンプル評価を承っております！ ＜CI8000＞ ■全6面検査モデル（表面、裏面、側面の全6面検査） ■最速 8000CPHの高処理能力 ■高精細な検査を実現するステージを搭載 ＜CI200i＞ ■表裏面検査モデル ■表面検査をイントレイで実施することで、省スペース化 ■製品への接触をミニマム化し、ダメージレス ■高精細の検査ステージを搭載 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社安永 本社
- 価格：応相談
【半導体向け】Cheetah EVOによる欠陥検出
プログラム運転対応、半導体検査の省人化と品質安定を支援
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、製造プロセスにおける微細な欠陥の検出が不可欠です。 特に、デバイスの小型化と高密度化が進む中で、目視検査では見つけにくい微細な欠陥が製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。 《 Cheetah EVO 》は、これらの課題に対し高精度なX線検査技術を提供します。 【 活用シーン 】 ● 半導体チップの内部欠陥検査 ● パッケージングの不良解析 ● 実装基板の接合不良検査 【 導入の効果 】 ● 欠陥の早期発見による歩留まり向上 ● 検査プロセスの自動化による省人化 ● 高品質な製品の安定供給
