パワー半導体テスタ CTT3280
Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
検査装置(パワー半導体) - メーカー・企業と製品の一覧
更新日： 集計期間:2025年11月26日～2025年12月23日
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検査装置の製品一覧
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【納入実績】パワー半導体検査装置
計測とメカトロをシステム化！応用電機の納入実績をご紹介
応用電機では、非規格少最生産に徹し、常時千種におよぶ製品を手がけ 納入しております。 「パワー半導体検査装置」は、大電流ユニットや高電圧ユニット、バスバー、 ゲートドライブ回路および計測ソフトウェアをお客様の仕様に基づき 自社開発しております。 AC測定、DC測定ならびに負荷短絡試験など測定全般に関わる ソリューションを提供しています。 【特長】 ■非規格少最生産 ■お客様の仕様に基づき自社開発 ■測定全般に関わるソリューションを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）
- 価格：応相談
ナノフォーカスX線検査装置 Quadra7Pro Nordson
次世代デュアルモード管球を兼ね備えた最新鋭Ｘ線検査装置
Quadra7 Proでは従来のメンテナンスフリーのシールドトランスミッシブタイプＸ線管をさらに改良し、業界初のデュアルモードを搭載。パワーデバイスからウェハー検査までより幅広いアプリケーションに対応することができ、また自社開発した最新世代のOnyxフラットパネルと組み合わせることでさらにノイズを低減し、パワーアップしました。
- 企業：日精株式会社 本社
- 価格：応相談
ロータリー式ハンドラー EXIS400
高速ロータリー式ハンドラー、自動テーピング装置が必要な場合にご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能を持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置。半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
パワー・モジュール用動特性検査装置
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。
１台でスイッチングタイム、ＶＣＥ（ＳＵＳ）、負荷短絡測定を実現 高温／低温環境下での動特性（AC特性）測定に最適 コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能 加熱／冷却用チャンバー付きも可能
ロータリー式ハンドラー EXIS550/700
高速ロータリー式ハンドラーが必要な場合にご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能ボイスコイルを持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置、加熱測定の対応も可能。 半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
ロータリー式ハンドラ EXIS250/300
高速ロータリー式ハンドラーが必要な場合にはこのEXIS250/300ごご利用ください。
高速ロータリー式ハンドラ。様々なパッケージを様々な梱包形態にてご提供することが可能な装置です。デバイスピックアップ時の独具のImpulse除去機能を持ち合わせ、安定性を重視つつも低価格を実現した装置。半導体のみならず、固形物であれば、様々なものに対応することも可能。
株式会社プロアクト 事業紹介
検査装置・計測機器のカスタム製品なら当社にお任せください
株式会社プロアクトは検査装置、計測機器の設計製作を中心として、 お客様のニーズ合わせたカスタム製品の製作を行っております。 各種プリント基板の機能検査(ファンクションテスト)をはじめ、 車載ECU、電装ユニットの性能テストや評価機などパワー エレクトロニクス分野における計測、制御技術に注力しております。 また電子回路、ソフトウェア、通信、制御など各種技術をベースとして 適したシステムのご提案と構築も行います。 【事業内容】 ■検査装置、計測機器の開発設計、製造 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
- 企業：株式会社プロアクト 本社
- 価格：応相談
NSテクノロジーズ トライテンプICハンドラNS-8080MT
NSシリーズのレイアウト・操作性はそのままに、 安定的な低温測定を実現
NSテクノロジーズ NS8080MTは低温/高温/常温でのデバイス測定に対応したトライテンプハンドラです。 液体窒素レスの冷却システムを採用し、低ランニングコスト・安定稼働を実現しております。
- 企業：兼松ＰＷＳ株式会社
- 価格：応相談
パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』
実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上！モジュール組立ての受入れ検査、スクリーニングに最適！
『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、 良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に適した装置です。 対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ ＜CI8000＞ ■全6面検査モデル（表面、裏面、側面の全6面検査） ■最速 8000CPHの高処理能力 ■高精細な検査を実現するステージを搭載 ＜CI200i＞ ■表裏面検査モデル ■表面検査をイントレイで実施することで、省スペース化 ■製品への接触をミニマム化し、ダメージレス ■高精細の検査ステージを搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日精株式会社 本社
- 価格：応相談
ウェーハ表面パーティクルスキャナ ＹＰＩ－ＭＸーＤＣ
次世代パワー半導体ウェーハSiC/GaN用パーティクル検査装置
ノンパターンSiCバルクウェーハ 0.1μm検出。 微小スクラッチ検出。 SiCやGaNウェーハの洗浄確認に最適です。 自動搬送とマニュアル搬送が選択できます。 顕微鏡観察機能で測定後のレビューができます。
- 企業：株式会社山梨技術工房
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
ウェーハチップ単体用動特性検査装置
チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体（IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
ウエーハチップ・ダイレベル自動外観検査装置『CIシリーズ』
ダイシング後ベアチップの個片外観検査装置 ソーティングの最適化ソリューションの提案！※サンプル評価対応
『CIシリーズ』はベアチップ個片をトレイtoトレイで搬送や、ウエアtoトレイの搬送など(XPシリーズで対応) 高精細な外観検査を行い良品/不良品に分類する装置です。 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。 対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ サンプル評価を承っております！ ＜CI8000＞ ■全6面検査モデル（表面、裏面、側面の全6面検査） ■最速 8000CPHの高処理能力 ■高精細な検査を実現するステージを搭載 ＜CI200i＞ ■表裏面検査モデル ■表面検査をイントレイで実施することで、省スペース化 ■製品への接触をミニマム化し、ダメージレス ■高精細の検査ステージを搭載 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社安永 本社
- 価格：応相談
