テストソケットのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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テストソケット - メーカー・企業11社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年10月29日~2025年11月25日
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テストソケットのメーカー・企業ランキング

更新日: 集計期間:2025年10月29日~2025年11月25日
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  1. Boyd Technologies Japan合同会社 本社 神奈川県/電子部品・半導体
  2. ミクナスファインエンジニアリング株式会社 長野県/機械要素・部品
  3. サンユー工業株式会社 東京都/電子部品・半導体
  4. 4 株式会社JMT 埼玉県/その他製造
  5. 5 WinWay Technology Co., Ltd. 台湾/電子部品・半導体

テストソケットの製品ランキング

更新日: 集計期間:2025年10月29日~2025年11月25日
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  1. 『チェンジキット』 ミクナスファインエンジニアリング株式会社
  2. コンタクト&ICテストソケット サンユー工業株式会社
  3. 高周波測定テストソケット 株式会社JMT
  4. 4 ケルビン テストソケット Boyd Technologies Japan合同会社 本社
  5. 4 ICテストソケット 株式会社JMT

テストソケットの製品一覧

16~24 件を表示 / 全 24 件

表示件数

調整可能な圧力パッドを搭載したCSPテストソケット

調整可能な圧力パッドを搭載したCSPテストソケット

エアリーズ(Aries)のCSP (チップスケールパッケージ)/マイクロBGA(ボールグリッドアレイ)テスト・バーインソケット製品シリーズは、デバイスに圧力をかけすぎることなく様々な移動範囲に対応する簡易圧力パッド圧縮デザインを搭載しています。最大6.5 mm平方、13 mm平方、27 mm平方、40 mm平方、55 mm平方、ならびに14〜27 mm平方のデバイスを用意しています。

  • ソケット

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【ロジック/メモリ】テストソケット

対象デバイス・試験環境に合わせて適材選定!数量は1個から製作が可能です!

当社は、ほぼ全てのパッケージに対応したソケットを提案致します。 切削加工によるカスタム製品では、数量は1個から製作が可能。 製作数量によっては金型を起工して成型品ソケット製作もできます。 1.0mm以下の小型パッケージや1,000pinを超えるICまで幅広く対応しております。 様々な機構設計を得意としておりますので、お困りの際はご相談ください。 【特長】 ■ほぼ全てのパッケージに対応したソケットを提案 ■金型を起工して成型品ソケット製作もできる ■対象デバイス・試験環境に合わせて適材選定 ■1.0mm以下の小型パッケージや1,000pinを超えるICまで幅広く対応 ■様々な機構設計が得意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • ソケット
  • その他電子部品

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アイソケット オーブンアップグレード モジュール

既存バーンインシステムの簡単な改造で、アイソケット技術による温度管理が可能になります。

アイソケット オーブンアップグレード モジュールは、アイソケット設置に必要なすべてのインフラがワンボックスにシンプルに内蔵されたモジュールで、既存バーンインシステムの容易かつ短納期でのアップグレードを可能にします。 ご使用のメリット: ○既存オーブンの簡単な改造で、アイソケットによる温度管理が可能 ○リスクの少ない備え付け方法 ○モジュール単位の部品の使用により、オーブンの迅速なアップグレードが可能 ○少ないインフラ整備の負担 ○競合システムの新規設備調達に代わる、低コストのソリューション

  • 温湿度制御

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ファインピッチBGA/LGAバーンインソケット/77Xシリーズ

ファインピッチBGA/LGAデバイスの各ピッチに対応する豊富なラインアップを有するオープントップタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm、0.5mm, 0.65mm, 0.8mmのBGA/LGAデバイスの様々なバリエーションに対応できる豊富なラインアップを取り揃えております。 ○デバイス自動挿抜にもマニュアル挿抜にも適したオープントップタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○高温でのデバイスの反りを防止する、全面押さえラッチ方式を採用している品種もあります。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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ファインピッチBGA/LGAバーンインソケット/892シリーズ

0.4mm/0.5mmピッチBGA/LGAデバイスに対応するクラムシェルタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm及び0.5mmのBGA/LGAデバイスに対応しております。 ○多ピンデバイスに必要な高荷重でも操作しやすいラッチレバー付きのクラムシェルタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○ヒートシンク、温度センサー、ヒーター等取り付け可能で、デバイス温度制御システムへの接続も可能です。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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ICテストソケット(IC Test Sockets)

ICテストソケット(IC Test Sockets)

QFP、QFN、BGA等各種パッケージのテスト用で、スーパーファインピッチ、高周波にも対応できるソケットを揃えています。

  • その他半導体
  • プリント基板
  • ソケット

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同軸テストソケット

112Gbpsまでの高速テストに対応可能の金属製同軸テストソケット

全金属製のソケットで、ブラウニーソケットとも言います。 当社独自開発の技術で最適化されたインピーダンスの制御、信号間の干渉を最小限に抑え、優れた信号伝送を実現します。 AI、HPC、ADAS、VR、5Gなどのデバイスに必要とされる高速テストに対応が可能です。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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バーンインソケット/QFN用790シリーズ

端子ピッチ0.4mmと0.5mmのQFNデバイス用バーンインソケット、790シリーズです。

○端子ピッチ0.4mmと0.5mmのQFNデバイスを中心に、その他様々なバリエーションに対応できる豊富なラインアップを取り揃えております。 ○デバイス自動挿抜にもマニュアル挿抜にも適したオープントップタイプです。 ○ファインピッチデバイスの位置決め精度を向上させた可動ガイド方式を採用しています。 ○デバイスの放熱またはグランドパッドへのコンタクトも可能です。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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バーンインソケット/ファインピッチBGA、LGA用77Xシリーズ

ファインピッチBGA/LGAデバイスの各ピッチに対応する豊富なラインアップを有するオープントップタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm、0.5mm, 0.65mm, 0.8mmのBGA/LGAデバイスの様々なバリエーションに対応できる豊富なラインアップを取り揃えております。 ○デバイス自動挿抜にもマニュアル挿抜にも適したオープントップタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○高温でのデバイスの反りを防止する、全面押さえラッチ方式を採用している品種もあります。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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