グロー放電発光分光分析装置 GDS900 型
試料のバルク分析用グロー放電発光分光分析装置
伝導性のある鉄および非鉄材料のルーチン分析用に設計された最新のグロー放電発光分光分析装置です。鉄鋼・鋳鉄・銅・アルミニウム・亜鉛・チタン・ニッケル・コバルト・ステンレス等の試料のバルク分析をより安定して、正確に行えるよう改良されました。
- 企業：LECOジャパン合同会社
- 価格：応相談
分光分析装置 - メーカー・企業42社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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分光分析装置のメーカー・企業ランキング
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- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
- ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部 神奈川県/試験・分析・測定
- 株式会社アナリティクイエナ ジャパン 神奈川県/試験・分析・測定
- 4 PerkinElmer Japan合同会社 神奈川県/試験・分析・測定
- 5 アジレント・テクノロジー株式会社 東京都/試験・分析・測定
分光分析装置の製品ランキング
更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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- iCAP PROシリーズICP発光分光分析装置 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.
- ARL iSpark Plus 固体発光分光分析装置（OES) サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.
- ICP発光分光分析装置 PlasmaQuant 9200シリーズ 株式会社アナリティクイエナ ジャパン
- 4 ＯＢＬＦ社製 発光分光分析装置 ＧＳ１０００－II ジャパンマシナリー株式会社
- 4 【NEW！！】FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』 ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
分光分析装置の製品一覧
16～30 件を表示 ／ 全 94 件
表示件数
ICP発光分光分析装置 PlasmaQuant 9100シリーズ
0.002nmの高分解能！ 分光干渉の問題を解決 リニアアレイCCD検出器搭載で高感度分析も実現
目的の元素のスペクトルが近接線の影響を受ける分光干渉が原因で、測定が困難なことがしばしばあります。高分解能の分光器は、近接線から測定目的元素のほとんどのスペクトルを分離し、その問題を解決します。 ■ PlasmaQuant 9100 Elite 高分解能分光器はスペクトル干渉の影響をうけにくく、ほとんどのアプリケーションで高感度の輝線を使用できます。さまざまなサンプルにおいて、優れた精度、確度および検出限界での分析が可能となります。 ■ PlasmaQuant 9100 高マトリックスに対応、広い測定範囲と高感度分析が可能です。受託分析での精確な結果、品質管理での信頼性、様々な業界での各種規制に対して最高水準の結果を提供します。 【特長】 ■分析結果に絶対的な信頼性をもたらす高分解能 ■トーチのメンテナンスが簡単なインテリジェントトーチデザイン ■幅広い濃度範囲に柔軟に対応するデュアルプラスプラズマビュー ■安定したプラズマ出力で長時間性能を保証
- 企業：株式会社アナリティクイエナ ジャパン
- 価格：応相談
異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較
異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています
株式会社アイテスのラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介します。 異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。 ラマンとFT-IRはどちらも分析対象の構造に基づいたスペクトルを 取得する事ができます。 しかし、得手不得手があるため、分析対象に応じて 両者を使い分ける事が必要です。 【特長】 ■IRでは分析困難な数μmオーダーの測定が可能 ■サンプリングが不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
![[O-PTIR]PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/899/2001512496/IPROS16568394973420817436.jpg?w=280&h=280)
[O-PTIR]PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
? O-PTIRは以下の特徴があります。 ? 空間分解能（最大空間分解能：1μm以下）での評価が可能なため微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 ? 薄片化不要（異物試料等、薄片化が困難な試料に有効） ? 基本的には非破壊での測定が可能 ? FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価
官能基の変化を捉えることでUV硬化樹脂の硬化度を評価可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤 として利用されています。FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、UV硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）の硬化度を評価した事例をご紹介します。 接着剤における紫外線照射時間の検討や、製品に剥離が発生した際の硬化状態の評価に有効です。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【技術資料】FT-NIRを用いたポリマー製造プロセスモニタリング
モニタリング例をはじめ、装置構成などを掲載！資料無料プレゼント中
当資料は、「FT-NIR」を用いたポリマー製造のプロセス モニタリングついて掲載している技術資料です。 密度（赤）とMFI（青）のリアルタイムモニタリングや、 装置構成などについてご紹介しています。 【掲載内容】 ■FT-NIRを用いたモニタリングの例 ■密度（赤）とMFI（青）のリアルタイムモニタリング ■装置構成 ■ポリマーのアプリケーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
【技術資料】FT-NIRを利用する理由はなんでしょう
FT-NIRテクノロジーの利点について解説！資料無料プレゼント中！
当資料は、従来の湿式化学分析やクロマトグラフィーと比較して、 多くの利点があるFT-NIRテクノロジーについて掲載している技術資料です。 NIR分光法の優位性をはじめ、モニタリングの例や アプリケーションについてご紹介しています。 【掲載内容】 ■NIR分光法の優位性 ■アプリケーション ■原料確認試験 ■複数項目の定量分析 ■インラインのプロセス制御 ■まとめ：低コストで迅速・簡便な分析 ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
【技術資料】マイクロプラスチックの分析事例
顕微FT-IRと顕微ラマンを用いた分析事例を掲載！資料無料プレゼント中！
マイクロプラスチック汚染への関心がここ数年高まってきており、 遍在的な発生要因や将来の展望などが現在の研究対象となっています。 マイクロプラスチック粒子(Micro-Plastics Particles; MPP) は、 特に海洋などの環境中に拡散した5mm未満の直径を有する 微小なプラスチック粒子を指します。 MPPを詳細に分析することで、MPPの起源と形成の両面について結論を導き、 汚染の程度を判断する取り組みがなされています。 当資料では、顕微FT-IRと顕微ラマンを用いたマイクロプラスチックの 分析について、解析事例や測定事例とともにご紹介しています。 【掲載内容】 ■FT-IR分光法によるマイクロプラスチックの分析 ■解析事例：フィルター濾過されたMPPの自動解析 ■解析事例：MPPの誤検出 ■測定事例：ビスコースレーヨンとセルロースの識別 ■ラマン分光法によるMPPの分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
一体型FT-IR顕微鏡LUMOSによる微小試料の分析
【無料プレゼント】誰もが使える優れた操作性。FT-IR顕微鏡の技術資料
各種工業製品に発生する不具合の原因特定において、異物や汚染物質の 同定は、非常に重要です。また、化学捜査の分野では、事故や事件の現場に 残された繊維や塗料等の断片に関する分析の結果が、重要な証拠となる 場合があります。 当社の新型顕微FT-IR「LUMOS」は、誰もが使える優れた操作性と、満足する 高い分光性能を併せ持ち、短時間で精度の高い分析結果を提供します。 当資料では「LUMOS」の主な仕様をはじめ、アプリケーション例などについて 詳しく掲載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■装置 ■アプリケーション例 ・SMDチョーク上の汚染物質の同定 ・ワニス被膜の透過マッピング測定 ・塗料片のATR測定 ・生体試料の赤外スペクトルマッピング ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
【技術資料】FTIRを用いたギアホイールの表面分析
表面の清浄度を確認するために、ALPHA IIを用いて分析した例を紹介
ブルカーのFTIRシステム「ALPHA II」は、非常にコンパクトかつ堅牢な設計で、 持ち運びも可能であるため、測定する場所を自由に決めることができます。 当製品に上方反射測定モジュールを装着することで、さまざまな金属ワークの 表面に付着した汚染物質を短時間で検出、同定することが可能です。 取り扱いも非常に容易で、日常の品質管理分析に適した 理想的な分析ツールです。 【掲載内容】 ■FTIRを用いたギアホイールの表面分析 ■表面分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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【技術資料】マクロATRイメージングによる粉末飲料の評価
マクロATRイメージングデバイスの新たな活用法をご紹介！
当資料では、FT-IR顕微鏡の新たなアクセサリ「マクロATRイメージングデバイス」を用いた、 飲料製造におけるQA/QCへの応用例についてご紹介しています。 FT-IRイメージング測定は、製品に含まれる主要な成分を定性し、それぞれの分散の様子を視覚的に捉えることが可能です。 ここでは、粉末飲料のイメージング測定法と、組成分布の解析結果について掲載されています。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容】 ■インスタント飲料を分析するためのFT-IR顕微鏡の活用 ■マクロATRイメージングデバイスの紹介 ■インスタントココアの組成分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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【技術資料】FT-NIR 発酵プロセスのオンラインモニタリング
FT-NIR（近赤外）分光法を用いた発酵/培養プロセスのモニタリングが可能です。
製薬業界では、厳格なレギュレーションの要求により、発酵プロセスの連続制御が製造プロセスの重要な要素となっています。ブルカーでは難度の高い発酵プロセスの測定に、長年取り組んできました。ブルカーで開発した透過反射プローブによりスラリーやエマルジョンの測定が可能で、FT-NIR（近赤外）分光法を用いた発酵/培養プロセスのモニタリングが可能です。お客様のご指定の各種フランジを溶接してご提供可能です。高温タイプもご提供可能です。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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【技術資料】赤外分光法による各種ポリマー材料の分析
広範なポリマー材料及びその添加剤の定性分析はもちろん、定量分析にも適用可能！
フーリエ変換型赤外分光法(FT-IR)は、非常に迅速で信頼性の高い 分析手法です。 わずか1分以内で製品の品質を確認することができ、製品が仕様の 範囲内であるか否かも判定することが可能。 当資料では、「FT-IR分光計ALPHA IIによるポリマーの定性分析」や 「FT-IR顕微鏡LUMOS IIによる欠陥製品の分析」などを掲載しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■はじめに ■FT-IR分光計ALPHA IIによるポリマーの定性分析 ■応用例：ポリマーの識別 ■応用例：フィラーの識別と定量 ■FT-IR顕微鏡LUMOS IIによる欠陥製品の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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【技術資料】赤外レーザー/QCLイメージングによる生体組織分析
エネルギー密度の高さを利用することで、非常に短時間で高品位の分光データを取得可能！
赤外レーザーイメージングは、ライフサイエンスや医学の分野、 特に組織の分析に好適なツールです。 HYPERION IIでは、FT-IR機能と組み合わせることで生体組織の イメージング分析をさらに高いステージへと推し進める、制限のない 包括的なソリューションを提供します。 当資料では、「赤外レーザーイメージングの適用方法」や「レーザー イメージングにおける革新」などを掲載しております。是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■赤外レーザーイメージング：新たな分析ツール ■赤外レーザーイメージングの適用方法 ■FT-IR vs 赤外レーザーイメージング：生体組織試料 ■レーザーイメージングにおける革新：空間コヒーレンス低減機構 ■まとめ：高品位ケミカルイメージの超高速化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査
X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有効であり、元素の特定に加え元素の結合状態の解析も可能です
X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケルめっき)の変色調査」を紹介します。 ニッケルめっきの変色という不良に対してXPSによる表面分析で変色の理由を探りました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
- 企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
- 価格：応相談
