更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析
ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。
ピンポイントで精緻な面出し！X線CTにより内部構造が3次元的に把握可能
当社では、X線CT内部構造解析と断面組織観察を行っております。 金属材料の腐食は、立体的に複雑な形状を示し、原因究明に重要な起点を 見つけるのが困難で、早く適切な分析箇所の選定方法が望まれていました。 新規に導入したX線CTにより内部構造が3次元的に把握でき、熟練技により ピンポイントで精緻な面出しすることで、迅速に最適部位の詳細分析ができます。 【詳細】 ■外観検査 ■X線CT測定 ■断面組織観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様の製品開発等のスピードアップ、および製品品質向上に貢献いたします
当社は、半導体を中心としたエレクトロニクス分野及び自動車分野、 またライフサイエンス分野、材料分野において、お客様のご要望に応じて 信頼性試験、故障解析、材料分析のワンストップサービスをご提供します。 当社の名古屋ラボには、新鋭観察機器として知られている透過電子顕微鏡 （Talos・Titan）や高性能電子顕微鏡（NEOARM）を設置しており、それらの 先進設備を利用し、卓越した技術を習得したエンジニアが分析を行うことで お客様に分析結果を迅速にお届けするサービスを得意としております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【技術的な優位性】 ■IC、発光デバイス及びフラットディスプレイの専門知識有り ■各種分析装置完備のラボ ■RA、FA、MA、SA、CA 各分野のソリューションが提案可能 ■生産性の高い先端の設備、そしてその設備を操作可能な専門知識を保有 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
次世代のGMPセルバンキング
十分な特性解析と文書化がなされた同種のマスターセルバンク（MCB）とワーキングセルバンク（WCB）は、リスクを低減し、すべての生物由来製品の安全性と製品品質を確保することに繋がる重要な要素です。 経験豊富なチームがCRO専門知識を活用し、セルバンク製造等のサービス提供を拡大しています。 ▪ 閉鎖系システムでの製造 ▪ 品質保証 ▪ 細胞株開発とバイオセーフティサービスへの統合 ▪ お使いのアプリケーションに：mAbs からワクチンへ
シンプルな流路構成！装置内部で解析・演算、測定結果の表示・プリントアウトまで自動で行います
『SU-300』は、単糖類、2糖類、糖アルコールを簡単に分析することができる 糖濃度分析計です。 パルスドアンペロメトリ法の採用により糖類を選択的に検出することが可能。 サンプル中の共存成分による影響を受けにくいため、希釈など簡単な 前処理を行うのみで注入が可能です。 また、アルカリ溶液を直接流せるカラムと検出器を採用し、分離と検出を 容易に行わせることができます。 【特長】 ■5項目の糖類とエタノール、または7項目の糖アルコールを同時分析 ■簡単な前処理 ■シンプルな流路構成 ■パソコン不要(装置内部で自動解析・演算) ■簡単メンテナンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。
EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
軟磁性粉を圧縮成形して製造される圧粉磁心は、圧粉後に焼鈍処理が行われます。焼鈍温度により変化する因子をEBSDで分析し、保磁力との関係について調査を行いました。その結果、焼鈍温度の上昇とともにKAM値の減少と平均結晶粒径の増加が見られ、それに伴い保磁力が低下する傾向を示しました。この結果を応用すれば、 EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
鮮明な写真を撮影しご報告！分析機器を使用して、異物の正体を調査解析いたします
異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りでは ないでしょうか？異物の正体が判れば、異物の混入経路解明の 重要な手がかりとなります。 当社は分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告。 外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察を行い、 有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析を行います。 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告 ■外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察 ■有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
酸化劣化により硬化したグリースの耐用年数を延ばす使用温度条件を調べた分析事例
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、グリースの寿命評価を行った際の 概要や分析原理、手順について掲載しています。 使用していたグリースが4年で硬化し、不具合が発生。 硬化原因は、元素分析 (C/O)、赤外分光分析、 プロトン核磁気共鳴分光分析により、酸化劣化であることが判明しました。 グリース使用のランニングコストを押さえることを目的に、 耐用年数を最短7年にできる使用温度条件を調べるために 熱重量分析/示差熱分析による反応速度論的解析評価を行いました。 【掲載内容】 ■概要 ■特徴 ■分析原理と手順 ・アレニウスプロットによる解析 ■分析結果 ・TG/DTAおよびアレニウスプロットによる寿命7年の使用温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気的特性評価をはじめ、光学特性評価、結晶性評価、組成評価を実施！
当社の『コンビナトリアル特性解析』では、ご要望により、組成変化に 従った種々の多点物理分析をいたします。 画像の例では、Si基板上のHfO2、Y2O3、Al2O3の正三角形の 3元コンビナトリアル組成傾斜試料にPt電極を形成してC-V、I-Vの 電気的特性を行い、高誘電率層の評価をしたものです。 上から、誘電率、フラットバンド電位、リーク電流の組成マッピングを 示しており、1試料中の246組成が同時評価できます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■C-V、I-V、半導体特性などなどの電気的特性評価(室温～400℃） ■透過率測定、分光エリプソメトリなどの光学特性評価 ■マイクロビームXRDを用いた結晶性評価 ■マイクロビームXRF、XPS、Auger分光などによる組成評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能
第三者機関だからこそできるメーカー故障解析結果の妥当性の検証も可能です
当社の『分析評価サービス』では、長年培ってきた高度な技術で各種分析機器を 駆使し、原因究明はもとより、製造プロセスまで踏み込んだ故障解析を行い、 改善施策をリーズナブルな価格でご提供致します。 WDX、EDX、AES、μ-ESCA、X線分析顕微鏡等の設備を用いて、様々な固体の 表面層の分析を行う「表面分析」や、GC-MS、IC等の設備を用い、有機ガス分析を 行う「クロマトグラフ分析」などに対応可能です。 【サービス内容】 ■表面分析 ■クロマトグラフ分析 ■形態観察 ■化合物分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
より正確に、より早く、様々な分析に対応！製品分析・製品の不良解析分析等も可能です。
タツタ環境分析センターは、ダイオキシン類、大気、水質などの 測定・分析から環境アセスメントや土壌汚染調査まで、様々な 環境問題を迅速に解決できる体制を整えています。 創業以来の豊富な経験・実績を礎に、品質の担保はもとより、「短納期」、 「全国対応」を実現し、「多彩な分析メニュー」の提供により、お客様の 事業活動を柔軟にサポート致します。 測定・分析分野でお困りのこと、問題点等の解決のお手伝いをさせて頂きます。どのようなことでもお気軽にご相談ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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