更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計算を用いて詳細に振動モードを解析した事例を紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 テラヘルツ分光によって得られる吸収スペクトルは、水素結合や分子間相互作用に関連した分子間振動を含む分子全体にわたる振動を反映しており、ピークの帰属が複雑かつ難解である事が多い。本稿では、分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計算を用いて詳細に振動モードを解析した事例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. 計算方法 ３. バルビタールの振動モード解析 ４. ファモチジンの振動モード解析 ５. まとめ
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。
試料の定性、新油との比較、異物混入の推測などを行います！
当社で行う、「赤外分光分析(解析)」試験をご紹介いたします。 赤外分光分析(K526)にて得られたスペクトルの解析をすることにより 試料の定性、新油との比較、異物混入の推測などを行います。 より詳しい解析をご希望の場合は別途ご相談ください。 【試験詳細】 ■項目番号：K5261 ■必要量：- ■規格番号：- ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます
発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは 解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の 特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高精度の分析技術と豊富な経験を生かし好適な分析設計をご提案！
当社で行っている「高分子構造解析、添加剤分析」について ご紹介いたします。 赤外分光分析(IR)やNMR等を用いた組成・構造解析、各種クロマト グラフィーを活用した添加剤分析などを実施します。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■SEC(GPC)-多重検出器(RI UV PDAなど)を用いた高分子の 多分散性(分子量分布や組成分布)の評価 ■赤外分光分析(IR)やNMR等を用いた組成・構造解析 ■高分子材料の分離・精製技術を利用した成分分析(ゲル分率など) ■各種クロマトグラフィーを活用した添加剤分析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
マイクロ孔領域の細孔分布評価の信憑性を向上！NLDFT/GCMC法についてご紹介
「非局在化密度汎関数法」および「コンピューターシミュレーション法」は、 多孔性材料の細孔分布の新しい評価方法として近年発達してきました。 この理論により多くの材料や吸着質の吸着が説明され、マイクロ孔や メソ孔の細孔分布解析に利用されるようになりました。この新しい 細孔分布評価方法は、従来メソ孔とマイクロ孔で使い分けていた理論を、 単一の理論での全領域の細孔分布の解析を可能としました。 また従来、信頼性に欠けていたマイクロ孔領域の細孔分布の精度を向上。 これらの理論の特長は、古典的細孔分布解析理論では細孔内吸着相が 液体状態であると仮定（Kelvin理論）していたものを、固体表面からの 吸着密度の周期的な変化を解析したことです。 当社のホームページでは、図を用いて詳しくご紹介しています。 ぜひご覧ください。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非晶質（ガラス）二酸化ケイ素（SiO2）のラマン散乱分光法による構造解析
二酸化ケイ素（SiO2）は半導体における絶縁膜・FPDの基板材料・光学材料・医療機器から装身具に至るまで幅広く用いられていますが、非晶質であるガラスとして構造解析を行うことは非常に困難です。ガラス中でSiO2が環状に結合することに着目し、ラマン測定を行いました。（図1） 単結晶石英ではガラス状態のスペクトルとは著しく異なり、長距離秩序によるフォノンバンドが観測されます。（図2、 図3）
分析の総合力で問題を解決します！
株式会社東ソー分析センターは、これまで培ってきた無機・有機・ 高分子などさまざまな材料の分析技術を通して、お客様の問題解決の お手伝いをさせていただいております。 「現象を冷静に観る」姿勢を大切にしており、単なる分析データの提供 だけではなく、どの様な現象が起こっているかを探りつつ問題を正確に 把握していく考える集団でありたいと考えています。 【事業内容 】 ■材料物性解析 ■GPC ■高分子分析 ■有機分析 ■無機分析 ■形態観察・構造解析 ■表面・局所分析 ■環境分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
FIB：集束イオンビーム加工
試料から直接小片を取り出し（マイクロサンプリング）、FIB加工を行うことができます。
磁気抵抗素子の特性は、各種分析手法を組み合わせで解析することが重要！
当社で行う「磁性金属多層膜の組成・状態分析」についてご紹介します。 GMR素子やMTJ素子(磁性金属多層膜を含むスピントロニクス素子)は、 HDD装置の磁気ヘッドやMRAMへの実用化が進んでいます。 このような磁気抵抗素子の特性は、構造や界面により大きく変化するため、 それら挙動を各種分析手法を組み合わせで解析することが重要です。 【界面の状態解析】 ■XPS ■HAXPES ■TEM-EELS ■3DAP(APT) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
XAFS解析による正極材料の価数・配位数・原子間距離の評価
近年、ハイブリッド自動車や電気自動車が普及しつつある中で、その電源利用のために、リチウムイオン二次電池の大型化・高性能化が求められています。 高容量正極材料を開発するためには、その組成-構造-電気化学特性の相関関係を見出すことが非常に重要です。正極材料について、金属元素の電子状態およびその局所構造を、放射光を用いたXAFS解析によって明らかにすることで、その組成-構造-電気化学特性の相関関係に関する知見を得ることが可能です。
微小領域の分布評価が可能です
回路の微細化にともない微小化する層間接続ビアの設計開発では、充填の良好性を把握することが求められます。TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、Cuを充填したサンプルを分析した事例を示します。正イオン分析結果より、CuおよびSiの分布が確認できました。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：LSI・メモリ・電子部品 分析目的：組成分布評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
サンプル中の細菌について、単離・培養せず、DNAから分析します
細菌は種類によって生育環境も様々で、単離・培養が困難な細菌も多数存在します。 そこで、細菌も例外なく持つ、生命の設計図であるDNAを抽出・分析することで、単離や培養を行わずに、存在する細菌を調査することが可能となります。 ここでは、細菌DNAをターゲットにシーケンシングし、そのデータから存在細菌を推測する細菌叢（そう）解析と、リアルタイムPCR法にて細菌数を調査する方法について、分析例を紹介します。
目的に応じた分析手法の提案！分析・データ解析後に改善策の提言まで行います
当社では、分析結果が確実に課題解決につながる解析結果をレポート します。 コーティング層の解析例では、サンプル・目的に応じた分析手法を 選定し、表面構造・組成と物性との相関づけ、課題の原因解明を行い、 材料変更や処理条件変更などの改善策の提言を実施。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【評価対象例】 ■コーティング層、コーティング液 ■表面処理層（平板・粉体） ・親水/撥水/親油/撥油 ・防汚性/接着性 ・シランカップリング剤処理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
熱力学諸量やIR/Ramanの解析機能強化！フォノン計算の結果を利用しやすくなりました
『MedeA Phonon』は、直接法によって固体の振動特性を計算する ソフトウェアです。 固体の振動特性を計算することで、熱振動に起因する熱力学諸量や IR/Ramanスペクトルを算出することができます。 当資料では、MedeA3.4から実装されたMedeA Phononの 新しい解析機能を中心に紹介しておりますので、是非ご覧ください。 【掲載内容】 ■MedeA Phonon概要 ■フォノン分散図および状態密度図 ■熱力学諸量 ■Ramanスペクトル ■IRスペクトル ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
