更新日： 集計期間:2026年04月15日～2026年05月12日
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BCAの断面解析とX線透過観察
BGA・CSPやCOC微小なバンプや特殊なセンサー、 内蔵部品基板の指定箇所の断面研磨を X線観察により可能にしました。 【特徴】 ○一直線に並んだバンプを均一で水平な研磨に仕上げている顕微鏡の焦点を変えることなく観察が出来ます。 ○BGA等の小さな隙間に樹脂を完全に充填し、汚れ・ダレ・伸びのない断面試料を提供します。 ○X線透過装置は焦点寸法0.25?mによる微細なポイントの設定が可能で、130万画素検出器で動画撮影も出来ます。 ・詳細はお問い合わせ下さい
ナノオーダーの構造解析・ナノ粒子サイズの評価が可能
乳化技術は化粧品開発において基盤技術であり、化粧品全般にわたって利用されています。 乳化剤の構造の変化は、製品中の水分と油分のバランスや内包薬効成分の浸透性、洗浄力および使用感の変化を伴い、製品の性能と密接な関係にあるため、その解析は非常に重要です。
長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します！
当社では、卓越した分析力と先進の分析設備で、迅速・的確に お客様のニーズにスピーディーにお応えする『受託分析評価サービス』を 提供しております。 単に結果を得るために分析するのではなく、その結果から課題解決の 指針を見いだすことを常に念頭に置きながら、経験豊富な技術者集団が 先進の分析機器・分析技術、今まで培ってきたノウハウを活かし、 好適な分析手法をご提案いたします。 【分析分野】 ■半導体 ■電子部品 ■工業材料 ■環境分析 など ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析
ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。
お客様の製品開発等のスピードアップ、および製品品質向上に貢献いたします
当社は、半導体を中心としたエレクトロニクス分野及び自動車分野、 またライフサイエンス分野、材料分野において、お客様のご要望に応じて 信頼性試験、故障解析、材料分析のワンストップサービスをご提供します。 当社の名古屋ラボには、新鋭観察機器として知られている透過電子顕微鏡 （Talos・Titan）や高性能電子顕微鏡（NEOARM）を設置しており、それらの 先進設備を利用し、卓越した技術を習得したエンジニアが分析を行うことで お客様に分析結果を迅速にお届けするサービスを得意としております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【技術的な優位性】 ■IC、発光デバイス及びフラットディスプレイの専門知識有り ■各種分析装置完備のラボ ■RA、FA、MA、SA、CA 各分野のソリューションが提案可能 ■生産性の高い先端の設備、そしてその設備を操作可能な専門知識を保有 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ご指定の濃度・温度にて溶媒和のミクロな構造が得られます
リチウムイオン電池に用いられる電解液は一般的に溶媒と電解質塩から構成され、マクロには均一系と考えられますが、ミクロな視点から見ると溶媒和などの現象が起こっています。高性能な電池材料の設計にむけて、リチウムイオン溶媒和の局所的な構造や正極、負極へ挿入する際の反応などを理解することは重要です。本資料ではリチウムイオン電池電解液に対して分子動力学シミュレーションによって、リチウムイオン溶媒和のミクロな構造を評価した事例を紹介します。
高分解能・高コントラストな観察を実現！非破壊で3次元観察することが可能
「MEMS」には、立体的で可動部を有するMEMS構造体が中空で 封止されています。 この構造をあるがままに観察するためには開封などの加工を行わず 観察することが必要です。 3次元X線顕微鏡(X線CT)は、非破壊で3次元観察でき、できばえ解析・ 不具合解析・リバースエンジニアリングに有効です。 【3次元X線顕微鏡 特長】 ■対象物の内部を非破壊で3次元観察することが可能 ■試料を透過したX線を光学レンズで拡大するため、高分解能・ 高コントラストな観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
次世代のGMPセルバンキング
十分な特性解析と文書化がなされた同種のマスターセルバンク（MCB）とワーキングセルバンク（WCB）は、リスクを低減し、すべての生物由来製品の安全性と製品品質を確保することに繋がる重要な要素です。 経験豊富なチームがCRO専門知識を活用し、セルバンク製造等のサービス提供を拡大しています。 ▪ 閉鎖系システムでの製造 ▪ 品質保証 ▪ 細胞株開発とバイオセーフティサービスへの統合 ▪ お使いのアプリケーションに：mAbs からワクチンへ
光散乱検出器とLC-MSで効率的に力価・安全性・安定性を評価
安全で効果の高いワクチンを迅速に市場に届けるためには徹底的な特性解析が必要です。 光散乱検出器を使用することで、ワクチンのサイズ、凝集、安定性、相互作用、組成、コンフォメーション等、豊富な情報が取得可能です。 MALS（多角度静的光散乱）とDLS（動的光散乱）を組み合わせることで、Rh（流体力学的半径）とRg（回転半径）の比率から、分子のコンフォメーション（形状や構造）に関する情報を得ることができます。 さらに、SEC（サイズ排除クロマトグラフィー）やFFF（フィールドフローフラクショネーション）等の分離技術と組み合わせることで、高分解能なサイズ・分子量分布測定が可能になります。 LC-MSではペプチドマッピングのよる一次配列の確認と翻訳後修飾のモニタリングを行うことができます。 ［送信］をクリックすることにより、このサイトで提供された情報をウォーターズ利用規約およびプライバシー通知に従ってウォーターズが利用および処理することに同意されたとみなされます。 利用規約およびプライバシー通知 www.waters.com/legalandprivacy
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
・試料中の特定元素（特にB、C、N、O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能
シンプルな流路構成！装置内部で解析・演算、測定結果の表示・プリントアウトまで自動で行います
『SU-300』は、単糖類、2糖類、糖アルコールを簡単に分析することができる 糖濃度分析計です。 パルスドアンペロメトリ法の採用により糖類を選択的に検出することが可能。 サンプル中の共存成分による影響を受けにくいため、希釈など簡単な 前処理を行うのみで注入が可能です。 また、アルカリ溶液を直接流せるカラムと検出器を採用し、分離と検出を 容易に行わせることができます。 【特長】 ■5項目の糖類とエタノール、または7項目の糖アルコールを同時分析 ■簡単な前処理 ■シンプルな流路構成 ■パソコン不要(装置内部で自動解析・演算) ■簡単メンテナンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
軟磁性粉を圧縮成形して製造される圧粉磁心は、圧粉後に焼鈍処理が行われます。焼鈍温度により変化する因子をEBSDで分析し、保磁力との関係について調査を行いました。その結果、焼鈍温度の上昇とともにKAM値の減少と平均結晶粒径の増加が見られ、それに伴い保磁力が低下する傾向を示しました。この結果を応用すれば、 EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
酸化劣化により硬化したグリースの耐用年数を延ばす使用温度条件を調べた分析事例
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、グリースの寿命評価を行った際の 概要や分析原理、手順について掲載しています。 使用していたグリースが4年で硬化し、不具合が発生。 硬化原因は、元素分析 (C/O)、赤外分光分析、 プロトン核磁気共鳴分光分析により、酸化劣化であることが判明しました。 グリース使用のランニングコストを押さえることを目的に、 耐用年数を最短7年にできる使用温度条件を調べるために 熱重量分析/示差熱分析による反応速度論的解析評価を行いました。 【掲載内容】 ■概要 ■特徴 ■分析原理と手順 ・アレニウスプロットによる解析 ■分析結果 ・TG/DTAおよびアレニウスプロットによる寿命7年の使用温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気的特性評価をはじめ、光学特性評価、結晶性評価、組成評価を実施！
当社の『コンビナトリアル特性解析』では、ご要望により、組成変化に 従った種々の多点物理分析をいたします。 画像の例では、Si基板上のHfO2、Y2O3、Al2O3の正三角形の 3元コンビナトリアル組成傾斜試料にPt電極を形成してC-V、I-Vの 電気的特性を行い、高誘電率層の評価をしたものです。 上から、誘電率、フラットバンド電位、リーク電流の組成マッピングを 示しており、1試料中の246組成が同時評価できます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■C-V、I-V、半導体特性などなどの電気的特性評価(室温～400℃） ■透過率測定、分光エリプソメトリなどの光学特性評価 ■マイクロビームXRDを用いた結晶性評価 ■マイクロビームXRF、XPS、Auger分光などによる組成評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノ粒子の形状(球や楕円など)およびサイズ分布の算出が可能！
当社で行う「SAXSによるDDS製剤高分子ミセルの粒子評価」について ご紹介いたします。 DDS(ドラッグデリバリーシステム)とは、体内の必要箇所に対して選択的に 薬剤を作用させる薬物輸送システムのことで、副作用を抑えることから 大きな期待が寄せられています。 DDSでは高分子ミセルを用いることがあり、当社ではSAXS(X線小角散乱法) により高分子ミセルの粒子形状・サイズ分布の評価を行います。 【特長】 ■SAXS：X線の散乱を用いて物質の構造を解析する分析手法 ■対象試料：個体でも液体でも可能 ■非破壊で分析可能 ■ナノ粒子の形状(球や楕円など)およびサイズ分布の算出が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
生態系の状態分析、生態系内の「コア」分析、有用生物の探索と資源化について！
当社の技術についてご紹介いたします。 生物種の多様性に関する膨大な情報を取得する"生態系の状態分析"、 生態系内で中核的な役割を担っている「コア生物種」を特定する "生態系内の「コア」分析"など。 また、生物多様性と生態系に関する膨大なデータを基に、生物資源を 効率的に探索する技術もございます。 【農林業における技術適用事例】 ■土のサンプリング ■農地でのサンプリング ■生物の情報を取得・解析 ■関係性を読み解く、生態学・情報科学分析 ■データベースの蓄積 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より正確に、より早く、様々な分析に対応！製品分析・製品の不良解析分析等も可能です。
タツタ環境分析センターは、ダイオキシン類、大気、水質などの 測定・分析から環境アセスメントや土壌汚染調査まで、様々な 環境問題を迅速に解決できる体制を整えています。 創業以来の豊富な経験・実績を礎に、品質の担保はもとより、「短納期」、 「全国対応」を実現し、「多彩な分析メニュー」の提供により、お客様の 事業活動を柔軟にサポート致します。 測定・分析分野でお困りのこと、問題点等の解決のお手伝いをさせて頂きます。どのようなことでもお気軽にご相談ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
鮮明な写真を撮影しご報告！分析機器を使用して、異物の正体を調査解析いたします
異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りでは ないでしょうか？異物の正体が判れば、異物の混入経路解明の 重要な手がかりとなります。 当社は分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告。 外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察を行い、 有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析を行います。 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告 ■外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察 ■有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができます この事例ではDSCを用いた 「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はDSCの他、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析の各事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
「工業材料分野」「情報電子分野」においての分析受託業務！高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決します！
当社では、「工業材料分野」「情報電子分野」において、分析受託業務を 承っております。工業材料分野では、お客様の抱える技術課題を豊富な経験と分析技術を生かし、高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決。また、情報電子分野では、半導体、ディスプレイ、電池、記録メディアなどマイクロデバイスの急速な進歩に呼応した分析評価技術をご提供します。 【試験項目】 ■高分子の構造解析 ■有機分析 ■無機分析 ■形態観察および表面分析 ■高分子などの物性評価 など ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ・FIBによるパターン描画 ・FIBによる微小対象物の断面作製 他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ■FIBによるパターン描画 ■FIBによる微小対象物の断面作製 ■ナノレベル高精度加工 ■AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
低質量のファーネスが優れた追従性を実現します！
当社では、750℃/minの超高速スキャンを可能にし今まで見えなかった 熱物性を見ることができる示差走査熱量測定装置（DSC） 『DSC8500／8000』を取り扱っております。 入力補償型DSCは、吸熱・発熱量を直接測定するため、 感度が温度に依存せず優れた温度及び熱量の正確度・再現性を発揮します。 【特長】 ■SmartScan(TM)によるフラットなベースライン ■Wavelet Analysisによるスムーズな解析 ■デジタルマスフローコントローラー内蔵 ■高精度なオートサンプラーシステムを搭載（96サンプル） ※詳細はお問い合わせください。
テクスチャー解析に必要な多種多様なプローブや治具を測定ツールとしてラインアップ
『TX-700』は、圧縮、引張またはその組み合わせによって材料の質感を 測定するテクスチャーアナライザーです。 様々な形状のプローブや多彩な治具がそろっており、 試料の大きさや形状、測定内容に合わせて選択して使用します。 お客様特有の試料に合わせた特注治具の製作も承っております。 【ラミーレオロジーのテクスチャーアナライザーの特長】 ■測定と同時に最大10項目まで自動解析が行える(オプションのRheoTexソフトウェア制御時) ■応力センサーは6種類あり、計測する力に応じて交換可能 ■2本の垂直のロッドが振動のない高精度な変位を可能に ■温度プローブが標準で付属 ■高さ調節可能な直径160mmのターンテーブルを標準搭載 など 本装置は短期レンタル（1～2ヶ月）が可能な装置です。 装置評価の際にご活用ください。 お試し預かりサンプル測定や来社見学も対応可能です。 またメンテナンスなどのアフターサービスも弊社でご対応いたします（全国10カ所のサービス拠点）。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価
市販のSiCパワーMOS FET素子の解析事例をご紹介します。 SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。
XAFS：X線吸収微細構造
配向性有機膜である自己組織化単分子膜（SAM膜）は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。
XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能 ・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能 ・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能 ・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで） ・非破壊測定 ・測定方法によっては、バルクだけでなく、表面敏感な測定も可能
光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり
シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります（式１）。
税抜き、税込みを掲載！「pH」や「電気伝導率」などを対象とした料金表
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『土壌及び肥料関係』の分析料金をご紹介。 対象物質は「水分」をはじめ「ヒ素（As）」や「全水銀（T-Hg）」 などです。ぜひ、ご一読ください。 【掲載項目】 ■水分 ■pH ■電気伝導率 ■全窒素（T-N） ■全炭素（T-C） ■全リン酸（P2O5） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
