更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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鮮明な写真を撮影しご報告！分析機器を使用して、異物の正体を調査解析いたします
異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りでは ないでしょうか？異物の正体が判れば、異物の混入経路解明の 重要な手がかりとなります。 当社は分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告。 外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察を行い、 有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析を行います。 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告 ■外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察 ■有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
酸化劣化により硬化したグリースの耐用年数を延ばす使用温度条件を調べた分析事例
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、グリースの寿命評価を行った際の 概要や分析原理、手順について掲載しています。 使用していたグリースが4年で硬化し、不具合が発生。 硬化原因は、元素分析 (C/O)、赤外分光分析、 プロトン核磁気共鳴分光分析により、酸化劣化であることが判明しました。 グリース使用のランニングコストを押さえることを目的に、 耐用年数を最短7年にできる使用温度条件を調べるために 熱重量分析/示差熱分析による反応速度論的解析評価を行いました。 【掲載内容】 ■概要 ■特徴 ■分析原理と手順 ・アレニウスプロットによる解析 ■分析結果 ・TG/DTAおよびアレニウスプロットによる寿命7年の使用温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気的特性評価をはじめ、光学特性評価、結晶性評価、組成評価を実施！
当社の『コンビナトリアル特性解析』では、ご要望により、組成変化に 従った種々の多点物理分析をいたします。 画像の例では、Si基板上のHfO2、Y2O3、Al2O3の正三角形の 3元コンビナトリアル組成傾斜試料にPt電極を形成してC-V、I-Vの 電気的特性を行い、高誘電率層の評価をしたものです。 上から、誘電率、フラットバンド電位、リーク電流の組成マッピングを 示しており、1試料中の246組成が同時評価できます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■C-V、I-V、半導体特性などなどの電気的特性評価(室温～400℃） ■透過率測定、分光エリプソメトリなどの光学特性評価 ■マイクロビームXRDを用いた結晶性評価 ■マイクロビームXRF、XPS、Auger分光などによる組成評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能
生態系の状態分析、生態系内の「コア」分析、有用生物の探索と資源化について！
当社の技術についてご紹介いたします。 生物種の多様性に関する膨大な情報を取得する"生態系の状態分析"、 生態系内で中核的な役割を担っている「コア生物種」を特定する "生態系内の「コア」分析"など。 また、生物多様性と生態系に関する膨大なデータを基に、生物資源を 効率的に探索する技術もございます。 【農林業における技術適用事例】 ■土のサンプリング ■農地でのサンプリング ■生物の情報を取得・解析 ■関係性を読み解く、生態学・情報科学分析 ■データベースの蓄積 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より正確に、より早く、様々な分析に対応！製品分析・製品の不良解析分析等も可能です。
タツタ環境分析センターは、ダイオキシン類、大気、水質などの 測定・分析から環境アセスメントや土壌汚染調査まで、様々な 環境問題を迅速に解決できる体制を整えています。 創業以来の豊富な経験・実績を礎に、品質の担保はもとより、「短納期」、 「全国対応」を実現し、「多彩な分析メニュー」の提供により、お客様の 事業活動を柔軟にサポート致します。 測定・分析分野でお困りのこと、問題点等の解決のお手伝いをさせて頂きます。どのようなことでもお気軽にご相談ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能でありながら業界No.1の圧倒的な低価格を実現
特長 ●業界No.1の価格 ●広い視野、大型サンプルにも最適 ●豊富なレンズ ●デジカメ感覚で操作
「工業材料分野」「情報電子分野」においての分析受託業務！高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決します！
当社では、「工業材料分野」「情報電子分野」において、分析受託業務を 承っております。工業材料分野では、お客様の抱える技術課題を豊富な経験と分析技術を生かし、高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決。また、情報電子分野では、半導体、ディスプレイ、電池、記録メディアなどマイクロデバイスの急速な進歩に呼応した分析評価技術をご提供します。 【試験項目】 ■高分子の構造解析 ■有機分析 ■無機分析 ■形態観察および表面分析 ■高分子などの物性評価 など ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ・FIBによるパターン描画 ・FIBによる微小対象物の断面作製 他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ■FIBによるパターン描画 ■FIBによる微小対象物の断面作製 ■ナノレベル高精度加工 ■AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができます この事例ではDSCを用いた 「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はDSCの他、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析の各事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
低質量のファーネスが優れた追従性を実現します！
当社では、750℃/minの超高速スキャンを可能にし今まで見えなかった 熱物性を見ることができる示差走査熱量測定装置（DSC） 『DSC8500／8000』を取り扱っております。 入力補償型DSCは、吸熱・発熱量を直接測定するため、 感度が温度に依存せず優れた温度及び熱量の正確度・再現性を発揮します。 【特長】 ■SmartScan(TM)によるフラットなベースライン ■Wavelet Analysisによるスムーズな解析 ■デジタルマスフローコントローラー内蔵 ■高精度なオートサンプラーシステムを搭載（96サンプル） ※詳細はお問い合わせください。
XAFS：X線吸収微細構造
配向性有機膜である自己組織化単分子膜（SAM膜）は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。
熱安全性評価のためのキーツール
ARCとは暴走反応熱量計、または断熱型反応熱量計と呼ばれ、断熱状態でのサンプルの熱量変化を計測する装置です。化学プラントにおける製造、保管、輸送からリチウムイオン電池の開発に至る様々な分野での安全性評価を断熱条件の下、小規模で安全に測定可能。Variphiソフトにより、圧力データの測定や試料の比熱測定を始めとした、様々な解析が可能です。
XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能 ・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能 ・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能 ・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで） ・非破壊測定 ・測定方法によっては、バルクだけでなく、表面敏感な測定も可能
