更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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「工業材料分野」「情報電子分野」においての分析受託業務！高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決します！
当社では、「工業材料分野」「情報電子分野」において、分析受託業務を 承っております。工業材料分野では、お客様の抱える技術課題を豊富な経験と分析技術を生かし、高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決。また、情報電子分野では、半導体、ディスプレイ、電池、記録メディアなどマイクロデバイスの急速な進歩に呼応した分析評価技術をご提供します。 【試験項目】 ■高分子の構造解析 ■有機分析 ■無機分析 ■形態観察および表面分析 ■高分子などの物性評価 など ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。
分析・測定・評価はイビデンエンジニアリングにお任せください！
当社は、表面分析をはじめ、異物・コンタミ分析、微量成分分析、発生ガス成分分析、不純物分析等を行っているイビデングループの分析会社です。 そのほかにも耐候性試験、塩水噴霧試験、ガス透過性試験、アスベスト調査、作業環境測定など様々な分析メニューがあり、お客様のご要望に合わせた好適なソリューションを提供します。 みなさまにとって便利な“かかりつけ”分析会社としてお気軽にお問合せください。 【特長】 ■分析解析 ■信頼性 ■環境分析 ■物性評価 ■熱物性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ・FIBによるパターン描画 ・FIBによる微小対象物の断面作製 他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ■FIBによるパターン描画 ■FIBによる微小対象物の断面作製 ■ナノレベル高精度加工 ■AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができます この事例ではDSCを用いた 「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はDSCの他、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析の各事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
低質量のファーネスが優れた追従性を実現します！
当社では、750℃/minの超高速スキャンを可能にし今まで見えなかった 熱物性を見ることができる示差走査熱量測定装置（DSC） 『DSC8500／8000』を取り扱っております。 入力補償型DSCは、吸熱・発熱量を直接測定するため、 感度が温度に依存せず優れた温度及び熱量の正確度・再現性を発揮します。 【特長】 ■SmartScan(TM)によるフラットなベースライン ■Wavelet Analysisによるスムーズな解析 ■デジタルマスフローコントローラー内蔵 ■高精度なオートサンプラーシステムを搭載（96サンプル） ※詳細はお問い合わせください。
XAFS：X線吸収微細構造
配向性有機膜である自己組織化単分子膜（SAM膜）は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。
熱安全性評価のためのキーツール
ARCとは暴走反応熱量計、または断熱型反応熱量計と呼ばれ、断熱状態でのサンプルの熱量変化を計測する装置です。化学プラントにおける製造、保管、輸送からリチウムイオン電池の開発に至る様々な分野での安全性評価を断熱条件の下、小規模で安全に測定可能。Variphiソフトにより、圧力データの測定や試料の比熱測定を始めとした、様々な解析が可能です。
XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能 ・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能 ・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能 ・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで） ・非破壊測定 ・測定方法によっては、バルクだけでなく、表面敏感な測定も可能
コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価
市販のSiCパワーMOS FET素子の解析事例をご紹介します。 SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。
市場で最も包括的で信頼性が高く、多目的な材料特性評価用DSC！
"研究開発、品質管理、受託試験、特定の用途のための材料仕様など、どのような業務に携わっているかに関わらず温度変化や異なる雰囲気下での材料の挙動に関する情報は重要です。 ■ 材料の同定 ■ プロセスの最適化 ■ 品質管理 ■ 相図 ■ 反応速度論解析 ■ 相溶性 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。"
TOF-SIMSを用いた樹脂表面の劣化による構造解析
ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長があります。加水分解によって劣化が進み原材料のビスフェノールA（BPA）が生成されることが報告されており、特に太陽電池パネルでは、UV（紫外線）照射によって試料表面がどのように変化するかを把握することが重要です。 以下にUV照射によるPC表面の劣化度合いをTOF-SIMSを用いて評価した事例をご紹介します。
試料解体から測定まで一貫して対応します
本資料では、スマートフォン搭載のイメージセンサ拡散層に関して評価した事例をご紹介します。 半導体のp/n型を判定可能なSCM（走査型静電容量顕微鏡）を用い、拡散層がどのような分布となっているかを評価しました。今回、断面と平面のSCM結果を組み合わせることで、相補的かつ広範囲の情報が得られました。 SCM は、イメージセンサ拡散層の出来映え評価や故障解析に有効なツールの一つです。
前処理から発光箇所特定まで一貫解析
高電圧電源（2000Vまで印加可能）を用いることで、耐圧の高いダイオードに対してもブレークダウンを発生させることができます。 本事例では600V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方向に高電圧まで印加することで、ブレークダウンを発生させました。カソード電極を研磨で除去後、エミッション顕微鏡観察を行い、ブレークダウン電流発生箇所を特定した事例をご紹介します。測定には市販品を用いています。
光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり
シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります（式１）。
税抜き、税込みを掲載！「pH」や「電気伝導率」などを対象とした料金表
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『土壌及び肥料関係』の分析料金をご紹介。 対象物質は「水分」をはじめ「ヒ素（As）」や「全水銀（T-Hg）」 などです。ぜひ、ご一読ください。 【掲載項目】 ■水分 ■pH ■電気伝導率 ■全窒素（T-N） ■全炭素（T-C） ■全リン酸（P2O5） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
