更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～10 件を表示 ／ 全 10 件
AI対応AOIソリューションが 透明なコンタクトレンズの欠陥を発見
アジア太平洋地域のコンタクトレンズ市場は、2020年から2025年にかけて8.16％のCAGRで成長すると予想されています。このような急速な成長は、生産量の増加と品質検査率の向上に依存しています。ADLINKとそのAIソリューションパートナーであるLEDA Technologyは、AI対応の自動光学検査（AOI）ソリューションを提供し、台湾のコンタクトレンズメーカーが品質検査の精度と速度を向上させるのを支援します。
マクロ検査のパイオニア！ナノレベルの斑（ムラ）や凹凸を可視化します
スミックス株式会社は、主に光学検査装置の開発・製造・販売を行っている会 社です。 マクロ光学検査の有用性と可能性を半導体・液晶・NIL・その他各検査市場に提 案し、 検査工程の効率化・高感度化を通して社会に貢献することを目的として います。 コアとなる技術（OAS Technology）は、散乱光を利用したマクロ検査に特化 した独自光学系を採用しており、CDとの相関が高いマクロ検査が可能です。 【事業内容】 ■光学検査モジュールの開発・製造・販売及びカスタマイズ ■光学検査装置開発技術コンサルティング ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく！ラベル用光学検査装置のご紹介
日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づいています。 【特長】 ■技術：光学 ■応用：ラベル用 ■インライン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
業界をリードする検査速度！TRIスマートライブラリーによるイージープログラミング！マルチ3Dテクノロジーによる見逃しゼロ検査！
最新の改良されたTRIの光学システムが搭載されており、安定性が向上し、速さが前のモデルと比較して最大25％向上しています。 TR7700Q SIIは、Stop-and-Goイメージングテクノロジーにより、高精度でGR＆Rが向上しています。 TRIの3D AOIテクノロジーは、焦点深度（DFF）、3Dブルーレーザー、モアレ投影など、事実上ゼロエスケープ検査に対応しています。 DFF 3Dテクノロジーは1µmの光学分解能を備え、オペレーターの再検査を減らし、運用コストを削減します。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
半導体デバイス製品向け、自動光学検査装置！ インナークラックの高速評価に最適です！
高解像度カメラによる、各種ワイヤーボンディング、ダイボンディング評価、大口径ウェハバンプ評価に対応！！ FOUP、カセット、マガジン等のあらゆる半導体デバイスに対応可。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
TR7700QM SIIは、半導体およびパッケージング業界向けの2.5 µm高解像度25MPを備え、高精度に構築されています。
•半導体およびパッケージング技術の検査。 •超高精度メトロロジーグレードの検査のための2.5μmの解像度。 •TRIのスマート検査ライブラリを使用して数分で検査する準備ができてい ます。 •フルカバレッジ検査のための複数の3Dテクノロジー。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載したマクロ光学検査装置
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載 マクロ光学検査とは、対象物に光を照射し、その反射光情報から欠陥を検出や形状を把握する技術です。 従来の目視検査や顕微鏡を使ったミクロ検査と比べ、短時間で高精度な検査結果が得られ、液晶パネルなどの成膜工程での製造品質、検査精度を飛躍的に向上させ、業界最高レベルの高感度を実現します。 協業パートナー：スミックス株式会社 マクロ光学のエキスパートで、４つの関連特許を取得。薄膜ムラ検出アルゴリズムを弊社と共同開発。
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
限りない品質保証への挑戦！目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能です
吉城光科学の『検査』技術をご紹介します。 検査環境整備と検査技術向上により、目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能。 また、顕微鏡・マイクロスコープによる検査及びヒューマンエラーを 無くすため検査の自動化も進めており、顧客ニーズを満足させる事が 可能です。 【主要設備（抜粋）】 ■レーザー干渉計（φ150解析装置付） ■レーザー干渉計（φ60） ■オートコリメーター ■投影機 ■分光光度計 ■レーザー式光量測定器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
4wayデジタルアダプティブフリンジパターンプロジェクションと4sideカメラに基づく次世代マルチアングル高性能AOI！
最新の検査ソフトウェアは、迅速なCADベースのプログラミングを保証し、完全にカスタマイズ可能なテンプレートを備えています。 ・マルチアングル2D + 3D ・4ウェイデジタルフリンジプロジェクター ・4サイドカメラ ・最大40 mmの3D高さ範囲対応 ・高速CoaXPressイメージング ・オプションの3Dレーザーモジュール ※製品の詳細は、カタログをダウンロードしてご覧ください。
