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半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく！ラベル用光学検査装置のご紹介
日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づいています。 【特長】 ■技術：光学 ■応用：ラベル用 ■インライン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載したマクロ光学検査装置
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載 マクロ光学検査とは、対象物に光を照射し、その反射光情報から欠陥を検出や形状を把握する技術です。 従来の目視検査や顕微鏡を使ったミクロ検査と比べ、短時間で高精度な検査結果が得られ、液晶パネルなどの成膜工程での製造品質、検査精度を飛躍的に向上させ、業界最高レベルの高感度を実現します。 協業パートナー：スミックス株式会社 マクロ光学のエキスパートで、４つの関連特許を取得。薄膜ムラ検出アルゴリズムを弊社と共同開発。
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
4wayデジタルアダプティブフリンジパターンプロジェクションと4sideカメラに基づく次世代マルチアングル高性能AOI！
最新の検査ソフトウェアは、迅速なCADベースのプログラミングを保証し、完全にカスタマイズ可能なテンプレートを備えています。 ・マルチアングル2D + 3D ・4ウェイデジタルフリンジプロジェクター ・4サイドカメラ ・最大40 mmの3D高さ範囲対応 ・高速CoaXPressイメージング ・オプションの3Dレーザーモジュール ※製品の詳細は、カタログをダウンロードしてご覧ください。
