大塚電子の製品・サービス一覧

『DLS-8000 series』は、動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・ 第二ビリアル係数の測定が可能。 また、液浸セル光学系を採用しているため、微弱散乱のナノオーダー粒子を 高精度に測定できます。 【特長】 ■He-Neレーザー、固体レーザー、ダブルレーザーの仕様が選択可能 ■液浸セル光学系を採用により、微弱散乱のナノオーダー粒子を高精度に測定可能 ■オプションのゲル回転セルと組み合わせてゲル状態の解析が可能 ■セル室を160℃まで温調可能な高温仕様タイプをラインナップ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

大塚電子は新素材解析のコアテクノロジーである光散乱技術を 幅広い分野に応用した分析機器をご用意しております。 粒子径・ゼータ電位・粒子濃度・分子量・分離分析・マイクロレオロジーの 測定・分析・評価といったアプリケーションを多数掲載した事例集を ダウンロードいただけます。 【分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■エクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定 ■細菌から生産された細胞外膜小胞の粒子径、粒子濃度、ゼータ電位評価 ■タンパク質フォールディングの介添え役シャペロニンの粒子径評価 ■超遠心機を用いたタンパク質会合体の分離分析 ■分子量の異なるタンパク質の粒子径評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

大塚電子は新素材解析のコアテクノロジーである光散乱技術を 幅広い分野に応用した分析機器をご用意しております。 粒子径・ゼータ電位・粒子濃度・分子量・分離分析・マイクロレオロジーの 測定・分析・評価といったアプリケーションを多数掲載した事例集を ダウンロードいただけます。 【分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■導電性高分子(PEDOT/PSS)の特性評価 ■O/Wエマルションの粒子径測定 ■シクロヘキサン中のポリスチレンの温度グラジエント評価 ■粒子径が隣接したサンプルの多角度粒子径測定 ■粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子個数測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

大塚電子は新素材解析のコアテクノロジーである光散乱技術を 幅広い分野に応用した分析機器をご用意しております。 粒子径・ゼータ電位・粒子濃度・分子量・分離分析・マイクロレオロジーの 測定・分析・評価といったアプリケーションを多数掲載した事例集を ダウンロードいただけます。 【分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■フラーレンの粒子径評価 ■陰イオン界面活性剤によるカーボンナノチューブの分散評価 ■偏光解消動的光散乱法によるカーボンナノチューブの軸比の評価 ■各種分散剤によるカーボンナノチューブの分散評価 ■カーボンナノホーンの開孔処理の評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。