大塚電子の製品ラインアップ

『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。　 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚測定と光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 膜厚計のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します！ 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ■エリアセンサーによる安全機構 ■初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード ■測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載 ■複雑な光学定数も解析可能（複数点解析法） ■300mmステージ対応可能 ■各種カスタマイズに対応　など

「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっています。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『RETS-100nx』は、OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差 フィルム付偏光板など、多種多様なフィルムに対応したリタデーション測定 装置です。 超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現し、フィルムの積層状態を "剥がさず、非破壊"で測定することが可能。 さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによる ズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。 【特長】 ■独自の分光器だからできる高精度測定 ■超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる ■剥がさず、非破壊でさまざまなフィルムの積層状態を測定できる ■サンプル設置がズレていても手軽に再現性良く測れる ■測定時間と処理時間が大幅短縮 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。 独自の分光干渉法と新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定することが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

超複屈折フィルムなど、従来方式では10,000nｍ程度までしか測定できなかったが、高精度多波長測定および独自のアルゴリズムにより60,000nmまで測定可能。また、多波長をワンショットで測定できるため約１秒で測定可能。

半導体業界では、製品の品質と性能を維持するために、ウェーハ上の薄膜の正確な膜厚測定が不可欠です。特に、微細化が進む中で、膜厚のわずかな差異が製品の歩留まりや性能に大きな影響を与えるため、高精度な測定が求められます。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、1秒/pointの高速測定と、3μmからの微小領域測定を実現し、半導体製造における膜厚測定の課題を解決します。 【活用シーン】 ・ウェーハの膜厚測定 ・各種フィルムの膜厚測定 ・光学材料のコーティング膜厚測定 【導入の効果】 ・高精度な膜厚測定による歩留まり向上 ・高速測定による生産性の向上 ・非破壊・非接触測定による製品への影響軽減

光学部品業界では、製品の性能を左右するコーティング膜の品質管理が重要です。膜厚のわずかな差異が、光学特性に大きな影響を与えるため、高精度な膜厚測定が求められます。非破壊・非接触での測定、高速測定、そして光学定数の正確な解析が、品質管理の効率化に不可欠です。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、これらの課題を解決します。 【活用シーン】 * 光学レンズ、フィルター、ミラーなどのコーティング膜厚測定 * 多層膜の膜厚と光学定数の測定 * 研究開発におけるコーティング材料の評価 【導入の効果】 * 1秒/pointの高速測定による測定時間の短縮 * 高精度な膜厚測定による製品品質の向上 * 光学定数解析機能による材料評価の効率化

材料科学分野では、新しい材料の開発や既存材料の性能評価において、膜厚や光学特性の正確な測定が不可欠です。特に、薄膜や多層膜の特性評価は、材料の機能性を理解し、製品の品質を向上させる上で重要な要素となります。従来の測定方法では、測定に時間がかかったり、測定精度に課題があったりすることがありました。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、1秒/pointの高速測定と高精度な光学定数解析により、材料の特性評価における課題を解決します。 【活用シーン】 ・各種フィルム、ウェーハ、光学材料などのコーティング膜の膜厚測定 ・多層膜の膜厚測定と光学定数解析 ・研究開発における材料の特性評価 【導入の効果】 ・高速測定による研究開発の効率化 ・高精度な測定による材料特性の正確な把握 ・非破壊・非接触測定による材料への影響軽減

電子部品業界の品質管理において、コーティング膜の正確な膜厚測定は、製品の性能と信頼性を確保するために不可欠です。特に、多層膜や微小領域の膜厚測定は、製品の小型化・高性能化に伴い、ますます重要になっています。不適切な膜厚測定は、製品の不良や性能劣化につながる可能性があります。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、高精度な膜厚測定と光学定数解析により、電子部品の品質管理における課題を解決します。 【活用シーン】 * 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の膜厚測定 * 多層膜の膜厚測定 * 微小領域の膜厚測定 【導入の効果】 * 非破壊・非接触での膜厚測定により、製品へのダメージを最小限に抑えます。 * 1秒/pointの高速測定により、検査工程の効率化を実現します。 * 光学定数解析により、膜質の評価を詳細に行うことができます。

エネルギー分野、特に太陽電池や燃料電池などの薄膜関連の研究開発や製造においては、薄膜の膜厚測定が製品の性能を左右する重要な要素となります。膜厚のわずかな違いが、製品の効率や耐久性に大きな影響を与えるため、高精度な膜厚測定が求められます。OPTM seriesは、1秒/pointの高速測定と高精度な絶対反射率測定により、薄膜の品質管理を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・太陽電池の透明電極膜の膜厚測定 ・燃料電池の電解質膜の膜厚測定 ・薄膜コーティングされた光学部品の膜厚測定 ・エネルギーデバイスの多層膜構造の評価 【導入の効果】 ・高速測定による生産性の向上 ・高精度な膜厚測定による品質向上 ・非破壊・非接触測定による製品へのダメージ軽減 ・光学定数解析による詳細な膜質評価

包装業界では、製品の品質保持のため、包装材のバリア性の正確な評価が求められます。特に、酸素や水分の透過を防ぐバリアフィルムの膜厚測定は、製品の賞味期限や品質に大きく影響します。膜厚測定の精度が低いと、バリア性能の過剰設計や不足につながり、コスト増、品質劣化のリスクがあります。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、高精度な膜厚測定により、包装材のバリア性評価をサポートします。 【活用シーン】 ・バリアフィルムの膜厚測定 ・多層フィルムの膜厚測定 ・包装材の品質管理 【導入の効果】 ・高精度な膜厚測定による品質向上 ・非破壊・非接触測定による効率化 ・光学定数解析による材料特性の把握

半導体業界では、ウェーハ基板上の薄膜の正確な膜厚測定が、製品の品質管理と歩留まり向上に不可欠です。特に、微細化が進む半導体製造においては、薄膜のわずかな厚さの差異が、デバイスの性能に大きな影響を与えるため、高精度な測定が求められます。ラインスキャン膜厚計は、独自の分光干渉法と高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定し、課題を解決します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハの製造工程における膜厚測定 ・研究開発における薄膜特性評価 ・品質管理における膜厚の均一性評価 【導入の効果】 ・ウェーハの面内膜厚分布を可視化し、製造プロセスの最適化に貢献 ・不良品の早期発見による歩留まり向上 ・研究開発におけるデータ取得の効率化

ディスプレイ業界では、製品の品質を左右する薄膜の均一性が重要です。特に、色ムラや輝度ムラを防ぐためには、薄膜の膜厚を正確に測定し、均一性を確保する必要があります。不均一な膜厚は、表示品質の低下につながる可能性があります。当社のラインスキャン膜厚計は、ラインスキャン方式を採用し、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定することで、膜厚の均一性を評価できます。 【活用シーン】 ・ディスプレイ製造における薄膜の膜厚測定 ・色ムラ、輝度ムラの改善 ・品質管理 【導入の効果】 ・膜厚の均一性評価による品質向上 ・不良品の削減 ・製造プロセスの最適化

フィルム業界では、製品の品質を左右する膜厚の均一性が重要です。特に、光学フィルムや機能性フィルムなど、用途によっては膜厚のわずかな差異が製品の性能に大きな影響を与えることがあります。膜厚の不均一は、製品の強度低下や光学特性の劣化につながる可能性があります。当社のラインスキャン膜厚計は、インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 【活用シーン】 * 光学フィルムの製造工程 * 機能性フィルムの膜厚測定 * 包装フィルムの品質管理 【導入の効果】 * フィルムの品質向上 * 不良品の削減 * 生産効率の改善

コーティング業界では、製品の品質を維持するために、塗膜の厚さ管理が重要です。膜厚の不均一は、製品の性能劣化や外観不良につながる可能性があります。特に、インラインでのフィルム生産においては、膜厚をリアルタイムで正確に測定し、管理することが求められます。ラインスキャン膜厚計は、ラインスキャン方式を採用し、フィルムの膜厚を全幅・全長にわたって測定できます。 【活用シーン】 * フィルム製造ライン * コーティング工程における膜厚管理 * 品質管理部門での検査 【導入の効果】 * 膜厚の均一性を確保 * 不良品の発生を抑制 * 生産効率の向上

材料科学分野では、材料の構造評価において、微細な欠陥や異物の検出が製品の品質を左右する重要な要素となります。特に、透明フィルムなどの表面構造は、目視での検査が難しく、従来の測定方法では詳細な情報を得ることが困難でした。MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、透明フィルム表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することで、材料の構造評価における課題を解決します。 【活用シーン】 * 透明フィルムの表面評価 * 微小な異物や欠陥の検出 * 材料の構造解析 【導入の効果】 * 非破壊検査によるサンプルへの影響を最小限に * 高速測定による効率的な検査 * 詳細な形状情報の取得による品質管理の向上

創薬業界における細胞観察では、薬剤の効果や細胞への影響を正確に評価するために、細胞の微細構造を詳細に観察することが求められます。特に、薬剤投与後の細胞の変化や、細胞内の異物の有無を正確に把握することが重要です。従来の観察方法では、細胞の深さ方向の情報や、微細な構造を捉えることが難しい場合がありました。光波動場三次元顕微鏡 MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得し、細胞表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化・数値化することで、これらの課題を解決します。 【活用シーン】 ・細胞培養における細胞の状態観察 ・薬剤投与後の細胞への影響評価 ・細胞内の異物や欠陥の検出 【導入の効果】 ・細胞の微細構造を詳細に可視化 ・細胞観察の精度向上 ・創薬研究の効率化

食品業界では、異物混入は製品の品質と安全性を損なう深刻な問題です。消費者の信頼を失い、企業のブランドイメージを低下させるだけでなく、健康被害を引き起こす可能性もあります。目視検査では見逃しがちな微小な異物や欠陥を、迅速かつ正確に検出することが求められています。光波動場三次元顕微鏡 MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、食品の安全性を確保します。 【活用シーン】 ・食品包装フィルムの異物・欠陥検査 ・食品内部の異物検出 ・食品製造ラインにおける品質管理 【導入の効果】 ・異物混入リスクの低減 ・製品の品質向上 ・顧客からの信頼獲得

化粧品業界では、製品の品質を保証するために、成分の正確な分析が求められます。特に、製品の安全性や効果を左右する微細な異物や欠陥の検出は重要です。目視では見えない成分の異常を見つけることは、製品の信頼性を高めるために不可欠です。光波動場三次元顕微鏡 MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、化粧品成分の微細な構造を可視化することで、品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・化粧品原料の異物検査 ・製品の表面欠陥評価 ・成分の三次元構造解析 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・研究開発の効率化

材料科学分野では、新素材の開発や既存材料の性能評価において、材料内部の微細な構造や表面状態を正確に把握することが重要です。特に、透明フィルムや薄膜材料においては、目視では確認できない微細な傷や欠陥が製品の品質や性能に大きな影響を与える可能性があります。これらの課題を解決するためには、非破壊で、かつ高精度な形状測定技術が不可欠です。光波動場三次元顕微鏡 MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得し、透明フィルム表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化・数値化することで、材料の構造解析を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・透明フィルム、薄膜材料の表面評価 ・異物や欠陥の検出 ・材料の構造解析 【導入の効果】 ・非破壊検査による材料の品質管理向上 ・微細な欠陥の早期発見による不良品率の低減 ・材料開発における迅速なフィードバック ・研究開発の効率化

再生医療分野の細胞培養においては、細胞の品質を左右する異物や培養容器の表面状態の評価が重要です。培養環境のわずかな変化が、細胞の増殖や機能に大きな影響を与えるため、表面の微細な傷や異物の存在は、細胞培養の成功を左右する要因となります。MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、細胞培養における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・細胞培養容器の表面状態評価 ・細胞凝集塊の観察 ・培養液中の異物検出 【導入の効果】 ・細胞培養の品質向上 ・培養プロセスの最適化 ・研究効率の向上

エネルギー業界では、高性能な材料開発と品質管理が不可欠です。特に、太陽電池や燃料電池などの分野では、材料の微細な欠陥が性能に大きな影響を与えるため、詳細な評価が求められます。MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、材料表面の傷や欠陥を可視化・数値化することで、材料評価を強力にサポートします。 【活用シーン】 * 太陽電池セルの表面評価 * フィルム状材料の異物・欠陥検査 * コーティング膜の厚さ・均一性評価 * エネルギーデバイスの材料開発 【導入の効果】 * 材料の品質向上による製品性能の向上 * 不良品の削減によるコスト削減 * 開発期間の短縮 * 非破壊検査による材料の有効活用

高品質・高機能なフィルムを製造するためには、光学特性の測定および品質評価をもとに最適 な製造条件を構築することが欠かせません。本セミナーでは、当社の光を用いた測定技術を通 じて、機能性フィルムや塗布剤の光学特性、面内均一性、表面改質、および分散性を評価し、 高付加価値なフィルムを製造・開発する手法をご紹介します。