ユーロフィンFQLの製品・サービス一覧

ユーロフィンFQLは、半導体やプリント基板・コネクタなどの回路部品から OEM・ODM製品まで、様々な製品の故障解析に対応します。 “故障解析を行いたいが、十分な設備を保有していない” ”メーカの故障解析レポートに疑問が残る” などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【当社にお任せください】 ■調査プラン：故障現象の把握や、使用状況の確認解析方法の立案 ■非破壊解析：非破壊で異常個所の絞り込み ■破壊解析　：異常発生個所の観察・分析により原因推定 ■結果まとめ：解析結果のまとめ、改善のご提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

非破壊解析では故障発生状況を把握し、外観観察と電気特性から故障メカニズムを推測します。 ロックイン赤外線発熱解析 　非破壊にて難しい位置特定が求められた際、発熱に注目し良品と比較する方法が有効です。 　・実装基板など、異常現象に関連する部品が複数ある 　・ショート箇所が部品の内部なのか、半田接続部など外部なのか不明 　【事例】 　■チップコンデンサ 　■電源IC 　■プリント基板 超音波探傷（SAT） 　IC内部の剥離を見ることは知られていますが、複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 　【事例】 　■化粧パネルの貼り合わせ部 　■アルミヒートシンク接合部 　■ダイカスト製品の内部 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

半導体、ケーブル・コネクタ、プリント基板、LCD等の表示デバイス、電源ユニット、バッテリ、ACアダプタ、メモリ等、各種部品の専門家が、故障解析を行います。 ・半導体パッケージ樹脂開封を行い、光学顕微鏡やエミッション顕微鏡での観察、 　機械的研磨での走査電子顕微鏡(SEM)観察等から原因推定 ・材料の状態、異物の特定、表面／破断面の解析等、材料分析の観点から、 　集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM)による加工・観察、透過型電子顕微鏡(TEM)による観察等にて 　原因推定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

・銅(Cu)ワイヤ、銀(Ag)ワイヤなどを使用したICについて、独自に開発した手法により、 　ワイヤの溶解・ダメージを抑えたパッケージ開封を承ります。 ・高耐圧・大電流部品のIGBT等、樹脂開封パワーモジュールには、充填剤が多く含まれているため樹脂開封が困難。 　パッケージ樹脂を薬液等により除去し、内部観察を行い、ご要望に応じ開封後の内部部品に対して、 　評価／解析／分析などを行います。

故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであっても、ユーロフィンFQLはそれを追求します。 透過型電子顕微鏡をはじめ、原子数個の大きさを調べる分析装置と材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援。 “製品や部品に付着した異物の正体を特定したいが、方法がわからない”などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【特長】 ■故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであってもそれを追求 ■透過型電子顕微鏡をはじめ原子数個の大きさを調べる分析装置と 　材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援

購入品についてこんなお困りごとはありませんか？ ・サプライヤの工程監査を行いたいがリソースがない ・OEM品を採用しているが、４M変更を知らない間にされていて採用当時の仕様と異なっているか不安 ・市場流通品が、偽造されたものではないか不安 ・購入ユニットや部品の中身を確認したいが、ノウハウや設備を保有していない 、正規品かの判断が難しい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

HDD/SSD/可搬媒体の長期信頼性評価、採用後に発生してしまった故障原因調査、データ復旧/消去まで、ワンストップ でサポート致します。 フラッシュメモリでお困りのこと（例えば、書けない／読めない）に対して、電気的特性の確認を受託します

腐食にかかわる設備管理・品質問題を、腐食環境、耐腐食性の二つの観点から改善サポートいたします。 ・腐食環境診断キット（エコチェッカII、エコチェッカSUN）の使用・分析による装置や職場の腐食環境診断 ・稼働中製品の劣化状況みえる化による設備のメンテナンスの効率化 ・製品の耐腐食性評価 ・塩害調査 ・塩水噴霧試験（複合サイクル） ・ガス腐食試験 ・温湿度試験

■製品含有規制化学物質分析 　・製品、モジュールの丸ごと分析、蛍光X線スクリーニング、化学分析 　・RoHS規制物質含有分析（禁止物質6物質、フタル酸エステル類４物質） ■製品含有化学物質管理の基礎教育 　・製品に含まれる化学物質に関する法規制にはどのようなものがあるか、 　　変化する法規制に対応するために何をすればよいか、 　　製品含有化学物質の管理とその運用のポイントをご説明。 ■製品含有化学物質管理システムの監査員養成 　・監査員のCMS診断スキル向上を図る教育 　・お客様にてCMSを診断する際、OJT形式で支援 ■製品含有化学物質の法規制情報提供サービス 　・製品含有化学物質管理の法規制の最新動向や具体的な富士通の対応事例を提供

　不定期ではありますが、年に数回の頻度で、信頼性評価・解析、分析等、品質技術に関する『無料セミナー』を開催しています。 ■開催テーマ例■ 　開催のご案内は、弊社メールマガジンの購読にご登録いただいたお客様に対して、配信をさせていただいております。無料セミナーのほかにも、お得なキャンペーン等のお知らせも配信致します。 　是非ご登録をご検討ください。

金めっき端子の表面に緑や白の異物が付着していませんか？ それは金めっき端子で腐食が発生した痕跡かもしれません。 金は腐食しませんが、金めっきの下地の金属は腐食します。 金めっき端子の腐食トラブルは下地金属が腐食して金めっきの上に析出することで起こります。 コネクタの勘合部で腐食生成物 を噛み込めば接触不良の原因になり得ます。 ・金めっき端子の表面に緑や白や黒の異物が付いた外観不良が出ている ・サプライヤに腐食を改善させたいけど腐食の証拠が得られない

製品には様々な原因でクラックや破断が発生することがあります ・過度な外部応力による破断 ・特定方向に繰り返し外部応力がかかったことによる破断 ・樹脂が劣化して脆くなったことによる破断 金属材料や樹脂材料が外力などによって破壊された破断面を観察し、破壊に至った原因を推定します。

下層の微細配線の切断・接続先変更、幅広い電源配線の下層にある微細配線の加工、 動作するLSIを早急にお届けしなければならないなど、 FIBによる高品質な回路加工、配線加工サービスを提供します。 ・AL配線、Cu配線、いずれも加工可能です ・最小1個からお受けできます ・ご相談の中で最適な加工ポイントをご提案いたします ・特殊なサンプル形状でも対応いたします。ご相談ください。

製品を販売するためには検証した方がいい規格試験が多数存在しています。例えば、 ・JIS規格（JIS C 60335-1　家庭用電気機器の安全性など） ・IEC規格（IEC 61960　ポータブル機器用バッテリなど） ・UL規格（UL 1642　リチウム電池など） 等々。 家庭用・商用の電気製品に適用される公的規格を受託致します。 ■こんなお悩みありませんか？■ ・開発品や購入品に規格試験をしたいが試験設備を所有していない。 ・取引先より公的規格の規格試験実施を要求されたが経験がない。 ・サプライヤからの試験結果が適正かどうか判断できない

設備の劣化や製品寿命に対する貴社の「見える化・定量化」のご要望にお応えし、見えない不安を解消します。 フィールドで稼働中・ご使用中の、機器設備の劣化度合いや余寿命を見える化・定量化し把握することによって、メンテナンスやリプレイスのタイミングがつかめます。特に本来の設置環境と異なる特殊な環境で製品を使用する際は、より慎重に分析する必要があります。電子機器・部品の信頼性評価・故障解析・分析の分野において豊富な経験を持つユーロフィンFQLが、さまざまな計測手法・分析手法を振るに組み合わせ、課題解決のお手伝いをします。