測定・分析の製品一覧

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

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YXLON製マルチフォーカスCheetah EVO導入!電子部品など、様々な用途に活用できます

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試料と基準物質の温度差をDTA信号として出力!温度を一定のプログラムによって変化させる

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます!

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3D形状測定機(VR-6200)による基板変形観察

「3D形状測定機による基板変形観察」についてご紹介いたします。 プラスチックやPCB基板の曲げ試験を参考にPCB基板に圧力を加え、 変化状態を3D形状測定機(VR-6200)で計測。 カラーパレットやラインプロファイルで測定結果が確認できるため、 加圧により凹んだ形状や量を視覚的に確認することが可能です。

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm~)の結晶化度評価が可能!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

ガスクロマトグラフィー質量分析法「GC-MS」による液晶パネルの成分比較を掲載!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

表面のこの変色の理由は?なぜこんな所にヒビが入っているの?等の課題は、電子、原子、分子、化学反応メカニズムの視点で解決します!

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたします

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。

パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

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EBSDにて結晶構造を観察!それぞれの金属で各データの取得ができます

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法をご紹介いたします

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

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広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

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光学フィルムの光透過特性

株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 のぞき見防止フィルムの角度による光透過性を測定し、断面の観察と ラマンによる分析を組合わせて、機能発現のメカニズムを調べました。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、 断面観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することが 出来ました。 アイテスでは材料物性からその機能発現メカニズムまで一貫して 評価・分析に対応いたします。

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります!

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します!

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他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます!

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パワーデバイス故障箇所・Slice&View 三次元再構築

FIB-SEMのSlice&View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice&View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

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「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

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検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

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外観観察及び計測サービス

当社でご提供する「外観観察及び計測サービス」について ご紹介いたします。 信頼性試験前後の外観観察やはんだ接合部観察、また各種部品の 寸法測定や凹凸測定など、多様な装置を取り揃えてご要望に対応。 観察前処理もお任せください。 当社には、IPC-A-610認証IPCスペシャリストが在籍しております。 国際規格に則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに 対応いたします。

外観で確認できなかったクラックも、X線なら見つかるかもしれません!

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酸化物系全固体電池の故障解析事例

信頼性試験によって破壊した酸化物系全固体電池に対して、故障箇所 特定~断面観察までの一連の解析を実施した事例をご紹介します。 発熱解析により側面で発熱が強い傾向が認められ、X線透過観察では、 X線透過像で発熱が認められた境界付近に白い線状のコントラスト異常 が見られました。白線部で何らかの異常が発生している可能性が疑われます。 異常が見えていた箇所に対して、CP断面SEM観察を実施すると、層剥離が 認められ、信頼性試験によって正(負)極層が膨張、収縮を繰り返す事で 集電体や電解質層間に剥離が発生したと推測されます。

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します!

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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます!

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COG実装の導電粒⼦形状観察

COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能!銅張積層板表面の黒点分析をご紹介します

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

主鎖骨格が類似のPET、PENフィルムの線膨張率の違いとその差異を生むメカニズムを解明した事例をご紹介

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一部の有機物を検出可能!低分子有機酸を陰イオン交換モードで測定した例をご紹介

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接着剤の硬化反応の進行(硬化度)をモニターすることが可能!

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パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!デバイスの劣化状況の推移もモニタリング

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パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流:最大14mA ■試験数量:最大8個(電源独立) ■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談) ■測定内容:リーク電流のモニタリング ■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)

研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!

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世界で実際に導入されたプロセス分析計 / オンライン分析計の導入事例集!

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設備導入の負担が大きい・人員不足で試験ができない方へ 評価試験をサポートいたします!

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各種EMC測定に好適!日本シールドエンクロージャーと業務協業契約を締結しました。 

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車両(EV、HEV、PHEV)の電気コンポーネントの電圧、電流、温度計測をより効率的、合理的に行なう計測ソリューション

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低電圧システム(80V以下)の電流・電圧を安全かつ迅速に検出するプローブセンサーです。

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高電圧計測に必須アイテム! シャント抵抗内蔵のブレイクアウトボックスで、高電圧計測を安全かつ容易に行えます。

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実車で安全かつ合理的に高電圧コンポーネントの電圧・電流計測を行うためのソリューションを提供します。

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ジルコニア式λセンサーを2つ利用してEGR率を算出します。 軽量・コンパクトなので車載計測に最適です。

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ソフトウェアラピッドプロトタイピング、ECUキャリブレーション、データ収集など、車両開発サイクルの全体に対応する製品を紹介

  • その他計測・記録・測定器
  • 組込みシステム設計受託サービス
  • ソフトウェア(ミドル・ドライバ・セキュリティ等)

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低電圧下の電流・電圧・温度計測の究極ソリューション  超ワイドレンジかつ高精密計測 USBメモリーに計測データのロギング

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低電圧下の電流・電圧・温度計測の究極ソリューション  超ワイドレンジかつ高精密計測

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低電圧下の電流・電圧・温度計測の究極ソリューション  超ワイドレンジかつ高精密計測 計測データはEthernetで出力

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排気管直付けタイプのNH3センサーです。 ポンプ等の補機を必要とせず、車載計測に最適です。

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  • その他計測・記録・測定器

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NOx, λ, A/F, O2の計測を行います。 排気管直付けセンサーなので、補機もいらず、車載計測に最適です。

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CO, CO2, λ, A/F, O2の計測を総合的に行うセンサーです。 排気管直付けタイプなので、車載計測に最適です。

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NOx, λ, A/F, O2の計測を行います。 排気管直付けセンサーなので、補機もいらず、車載計測に最適です。

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車載型 λ センサー、λ、O2, A/F、φ、%O2の計測を行います。 排気管直付けセンサーなので、車載計測に最適です。

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λ・NOx・CO/CO2・NH3、PM/PN計測可能!CAN・アナログ出力対応!優れたコストパフォマンス。ECM社の総合カタログ

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「置いて押すだけ」かんたん操作!試作機、評価機から生産設備まで対応可能な機能を満載。『在庫対応機種有』

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11/30~12/2中小企業 新ものづくり・新サービス展にマルチプレスとラインカメラを出品いたします

2016年11月30日(水)~12月2日(金) 東京ビッグサイト東7・8ホールにて開催されます、中小企業 新ものづくり・新サービス展に出展致します。 マルチプレス・ラインカメラデモ機を展示予定です。 皆さまのご来場をお待ちしております。

アナログ電圧、デジタル信号、PWMパルス信号をCAN信号に双方向変換可能!

  • 変換機・トランスデューサ
  • その他ネットワークツール
  • 記録計・レコーダ

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VISIONは基本的なデータ収集から後解析、ECU適合、最終的にはラピッドプロトタイピングに至るまで、多様な機能を持っています。

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高電圧下での電圧計測の究極ソリューション! 高電圧コンポーネントの信号を安全に計測します。 ワイドレンジ、高精度計測。

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高電圧下の電流・電圧・温度計測のソリューション  全チャネル1,500Vガルバニック絶縁  ワイドレンジ、高精度計測

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ECU Measurement(計測)&Calibration(適合)&Diagnostic(診断)の統合されたツールチェーン

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  • その他ネットワークツール

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計測が難しい、自動車の暗電流計測についての事例です。 より効率的に暗電流を計測するソリューションを提供します。

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VCG-1 は、マルチポート、マルチバスの メッセージルーティングおよびデータ変換デバイスです。ゲートウェイとして使えます。

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ゴム・プラスチックの低温特性試験(耐寒性試験)に用いられる低温衝撃ぜい化試験装置(ぜい化温度試験装置)です。

  • 環境試験装置
  • 強度試験装置

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ゴム・プラスチックの低温特性試験(耐寒性試験)に用いられる低温衝撃ぜい化試験装置(ぜい化温度試験装置)です。

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低コストで正確に作業時間を計測。負荷の偏りや無駄な作業を可視化し、改善活動に活用できるツールです。

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軽量・携帯性・高耐久性!取扱いが容易!一部モデルには本体にアンプ、サイン波発生器内蔵!複数のライナップを用意!

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◤新製品◢:小型加振器、慣性式タイプ:ISシリーズ

慣性式タイプは軽量でコンパクトなデザインとなっており、持ち運んでの振動試験が可能です。 加振器自体が振動をするため、構造体やテストサンプルに直接固定でき、とても使い易いものとなっております。 詳しくはカタログをダウンロードしてご覧ください。

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