その他 分析・評価受託の製品一覧

  • 分類:その他 分析・評価受託

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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粉砕~成形~物性測定を繰り返し行う事で、再生回数と物性強度低下の評価も可能!

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様々な試料の組成分析が可能!12種の定量も、一部の樹脂のみの定量もできます

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樹脂リサイクル材料の品質確認に関わる受託分析も実施!

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ガラス繊維入りのエンプラから汎用樹脂、試験片、シート等の幅広い素材、形状物を粉砕したものを提供可能!

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プラスチック容器の成分、層構成などを分析・解析致します!

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赤外分光分析とラマン分析での層構成の材質分析についてご紹介!

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ガラス繊維等を含む樹脂材料の残存繊維長の評価は、 適切なリサイクル方法の検討にも活用可能!

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スマホで簡易に劣化診断!オイルの劣化状況をその場で即判定。担当者に頼らず判定ばらつきを防ぎます。

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特殊ハイドロゲルを使⽤した独⾃のエクソソーム精製技術を開発!

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医療用洗浄装置の見えない超音波の力を可視化!「超音波キャビテーションインジケーター

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  • その他 医薬品・化粧品洗浄剤・メンテナンス
  • その他 計測・測定機器

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一長一短な特長があるためサンプル形態や観察範囲、目的などに応じて選択する必要があります!

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機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察

「機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察」についてご紹介いたします。 トラッキングカメラ部品構造について、部品を上から見るとレンズが確認でき X線像では明確には確認できないが凸部にレンズが組み込まれています。 また、断面構造はRGBセンサと同じく裏面照射型CMOS構造をしていますが、 トラッキングカメラに色情報は不要なため、カラーフィルタ層はなし。 フォトダイオード表層の形状にギザギザ状の凸凹形状が観察されました。

IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍!国際規格に則った観察のお手伝い

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実装基板の各種評価

株式会社アイテスでは、電子部品が搭載された基板(実装基板)の 評価テストについて多角的な技術サービスをご提供いたします。 信頼性試験をはじめ、はんだ接合部観察、ウイスカ観察、断面観察を実施。 IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に則った 観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応いたします。 その他、X線観察、外観観察、形状測定などのメニューもございますので、 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。

1H NMR,13C NMR、及びDEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介!

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液晶化合物のNMR分析

株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。

成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介!

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有機物の成分分析(FT-IRとGC/MS)

当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。

受託分析/分析コンサルタント

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ラボ用消耗品を製造元深江化成株式会社の設備やノウハウを使って行います:無菌試験、Human DNA Free、エンドトキシン試験

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アルフレッドのアスベスト分析をぜひ試しください。

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現場帰りにそのまま発送!

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開発用の評価データを解析・分析! 設計へのフィードバックをサポートします。業務フローの改善提案も実施!

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  • ビジネスインテリジェンス・データ分析

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検出深さが大きくなり、より深い領域の評価が可能になります!

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X線による物質への影響や耐性を評価するための手法!

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高い分解能で4インチ~6インチの大口径ウェーハ全面の欠陥評価を非破壊で可能!

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部品内部へ溜まった水分が熱ストレスにより気化!体積膨張する事により応力が発生

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赤外線加熱により、試料のみを加熱するため、低バックグラウンド化が可能!

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D-SIMSを用いてn-バッファ層厚・窒素(N)濃度を捉えることに成功!

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D-SIMSを用いてゲート酸化膜上層側からの不純物拡散を捉えることに成功!

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膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能!

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感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立!

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Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出!

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全反射条件ではX線の侵入長が光電子の脱出深さよりも短くなるためHAXPESの検出深さはX線の侵入長で決まる!

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