受託サービスの製品一覧

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小型化により、現場での取り回しやすい環境づくりに寄与

  • その他実装機械

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アイソレーターをお持ちの方へ。高い薬品耐性と作業性を実現。低価格、短納期も実現可能なグローブボックス・アイソレーター用グローブ

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  • TRON 5000.JPG
  • CSM.JPG
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  • 作業用手袋

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【2026年5月20日(水)~22日(金)】「インターフェックスWeek東京」出展のご案内

株式会社イトーは、幕張メッセで開催される「インターフェックスWeek東京」に出展致します。 当展示会は、世界25の国と地域から医薬品・化粧品・再生医療の研究・製造に関するあらゆる製品・サービスが出展する展示会として、日本最大の規模で開催。 世界中から医薬品・化粧品メーカー、再生医療企業が来場します。 当社ではTron Power社製「グローブボックス/アイソレーター用グローブ」を出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 蛍光X線分析、ICP-OES/ICP-MS、ICの原理と測定事例について解説

  • 受託検査
  • 技術セミナー

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形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差補正走査透過型電子顕微鏡、三次元TEMの原理や分析例を解説

  • 受託解析
  • 通信教育・Eラーニング

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検査技術に自信あり/偏心度測定、検査の外注先をお探しの方や品質保証込みの加工部品調達をお探しなら弊社にお任せ!

  • 受託測定

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  • 受託測定

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材料物性を基礎から学びたい方向きの講座です。材料物性・力学物性評価、材料試験、熱分析などの原理や測定方法について説明しています。

  • 通信教育・Eラーニング
  • 受託解析

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表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS、 XPSについて、原理・スペクトル例を解説しています。

  • 受託解析
  • 通信教育・Eラーニング

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初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型2次イオン質量分析法(原理、スペクトル例) RBS:ラザフォード後方散乱分析法(原理、スペクトル例) XPS:X線光電子分光法(原理、スペクトル例) 測定事例:有機EL素子 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原理について、理解を深めたい」、「測定事例について、不明な点があるので詳しく説明して欲しい」など、動画形式の講義ではお伝えするのが難しい事項について、分析の専門家が回答いたします。 ◎お申し込みのお手続きの詳細はこちらです。 https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/online/

有機組成分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 赤外分光、質量分析 、核磁気共鳴(NMR) の分析結果と解析について解説

  • 受託解析
  • その他高分子材料
  • 通信教育・Eラーニング

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ワイヤーロープの素線切れや形状変化診断、および天井クレーン走行レールの調査を、安全・迅速・正確に行います!

  • 受託検査

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電子部品やデバイスなどが高温/低温に繰り返しさらされることに対する耐久性を評価します

  • 衝撃試験
  • 受託測定

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電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動の影響や耐久性を評価します。

  • 受託測定

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電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃の影響や耐久性を評価します。

  • 受託測定

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中空構造部品などの封止状態の密閉性を評価・判定します。

  • 受託測定

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はんだ槽平衡法、はんだ小球平衡法、ソルダーペースト法の試験が行えます。

  • 受託測定

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実装工程における電子部品が受ける熱ストレスの影響を評価します。

  • 受託測定

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試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能

  • 受託測定

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中空構造内の微小な異物が壁面に衝突する際に発生する音を検出することで、ショート等のトラブルを未然に防ぐことが可能です。

  • 受託測定

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半導体や電子部品が静電気によるストレスを受けた際の影響、破壊耐量を評価します。

  • 受託測定

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TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

  • 受託測定
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ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

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【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ~加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能~ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です

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【MSTホームページ】分析事例「リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 ~加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能~ ◆測定法・加工法 TOF-SIMS・TEM・LC/MS/MS・FIB・μサンプリング・リフトアウト・解体・雰囲気制御 ◆製品分野 二次電池 ◆分析目的 組成評価・同定・化学結合状態評価・膜厚評価・劣化調査・信頼性評価 ◆概要 リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。 今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

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FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です

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株式会社日立ハイテクノロジーズ主催電子顕微鏡・FIBセミナー講演のお知らせ

株式会社日立ハイテクノロジーズ主催セミナー「日立材料解析セミナー 2012(名古屋)」にて、MST(財)材料科学技術振興財団が講師を務めます。 リチウムイオン二次電池の解析について、分析データを基にレビューを行います。 皆様のご参加をお待ちしております。 ●日時・会場 2012年02月03日(金) 13:00~17:40 愛知県名古屋市 瀧定ビル17階 ●聴講料・お申し込み 詳しくは日立ハイテクノロジーズウェブサイトをご覧ください。 ●MST講師の講座概要 ・タイトル 雰囲気制御下でのCryo FIB-TEM法 ~リチウムイオン二次電池への適用~ ・講師 (財)材料科学技術振興財団 分析評価部 TMG 江口 央

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

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試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る

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【MSTホームページ】分析事例「HF処理前後における骨の状態評価」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル HF処理前後における骨の状態評価 ~ラマン分析を用いた薬液処理前後の状態評価~ ◆測定法・加工法 Raman・薬液処理 ◆製品分野 医薬品・バイオテクノロジ ◆分析目的 化学結合状態評価 ◆概要 HF(フッ化水素)は、SiO2のウェットエッチング処理等で広く用いられており、半導体製造プロセスにおいて非常に重要な役割を果たします。 しかし、一方で皮膚に触れてしまうと浸透し、骨を侵してしまうため非常に危険な薬品であり取り扱いには注意が必要です。 このHFによる骨の侵食は、アパタイトとして骨中に存在するCaとHFが反応することでCaF2が生成してしまうことによるものです。この反応の変化をラマン分析で評価した事例を紹介します。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

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試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手法

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電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析

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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認

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  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました

取り扱い製品一覧に、PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

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特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。

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EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です

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TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です

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UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です

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絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

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C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

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ナノシミュレーションは物理・化学法則に基づいて原子・分子を取り扱う計算科学手法であり、多様な 現象を理解するために活用できます。

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物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます

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遺伝子解析とは、DNAの塩基配列を読み取り、遺伝子の変異や働きを調べる方法です。

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