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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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【フィルム業界向け】ラインスキャン膜厚計

ラインスキャン方式でフィルムの膜厚を均一に測定

膜厚計
その他フィルム・シート

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

銅製品

株式会社富士精密

銅材の切削加工になります。

旋盤

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【ディスプレイ業界向け】SM-100 series

ディスプレイ製造における膜厚測定の課題を解決！

膜厚計
液晶ディスプレイ

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【電子材料向け】多検体ナノ粒子径測定システム

電子材料の性能向上に貢献する、使いやすい粒径・粒度分布測定装置

その他理化学機器
その他検査機器・装置
化粧品素材、原材料

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【インク業界向け】粒子径・粒子径分布測定装置

インクの発色を最適化する、使いやすさにこだわった粒径測定装置

その他理化学機器
その他検査機器・装置
インク・トナー

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【インク向け】ELSZneoによる顔料分散評価

希薄から濃厚溶液まで、インクの顔料分散を精密測定

インクジェットプリンター

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【半導体材料向け】ウェーハ表面のゼータ電位測定

ゼータ電位測定でCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

分析機器・装置

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【材料科学向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。

光学顕微鏡

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【化学分析向け】キャピラリ電気泳動システム

陽イオン・陰イオンなど、多様な成分を一台で分析！

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その他理化学機器

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【食品業界向け】キャピラリ電気泳動システム

食品中の異物分析を迅速に！定性・定量分析を一台で。

分離装置
その他理化学機器

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【ディスプレイ向け】ラインスキャン膜厚計

ラインスキャン方式でディスプレイの膜厚を均一に測定！

膜厚計

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【半導体向け】ラインスキャン膜厚計

ウェーハ基板上の薄膜を「抜け」なく全面測定！

膜厚計

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真鍮製品

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【包装業界向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

包装材のバリア性評価に！1秒測定＆最小3μm測定

膜厚計

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【エネルギー分野向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

薄膜の膜厚測定を1秒で！エネルギー分野の品質管理に貢献

膜厚計

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【電子部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！電子部品の品質管理を加速

膜厚計

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【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

コーティング膜厚測定を1秒で！光学部品の品質管理に貢献

膜厚計

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【半導体向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！半導体製造における膜厚測定を革新。

膜厚計

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【触媒研究向け】多検体ナノ粒子径測定システム

触媒反応の効率化をサポートする、使いやすい粒径・粒度分布測定装置

その他理化学機器
その他検査機器・装置

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【電子材料向け】ELSZneoによるデバイス性能評価

希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上

その他計測・記録・測定器

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【電池向け】ELSZneo：電極材料の粒子径・ゼータ電位測定

電極材料の品質管理に。粒子径、ゼータ電位、分子量を高精度測定。

その他計測・記録・測定器

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【セラミックス向け】ELSZneoによる焼結性評価

焼結体の品質向上に貢献する、粒子径・ゼータ電位測定システム

その他計測・記録・測定器

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冷却塔のスライム障害とは？【基礎知識】

トリイ株式会社

冷却水に蓄積するスライムの問題とは？

冷却装置
冷却機器
その他加熱・冷却機器

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【食品向け】ELSZneoによる乳化安定性評価

食品の品質と安全性を向上させる、粒子径・ゼータ電位測定システム

その他計測・記録・測定器

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分析機器の活用事例集│ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料　

全30事例！ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

分析機器・装置

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分析機器の活用事例集│高分子・無機粒子　

全25事例！高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

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分析機器の活用事例集│飲料・調味料・添加物等の食品類　

全25事例！食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

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分析機器の活用事例集│バイオ・医薬品分野　

全30事例！バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム　ELSZneo

希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定　さらに固体表面、分子量の評価まで

その他計測・記録・測定器

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ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series　

動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

その他理化学機器
分析機器・装置

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粒子径・粒子径分布測定装置　多検体ナノ粒子径測定システム　

使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

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キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100　　

簡単な前処理で定性・定量分析! 　陽イオン・陰イオン・有機酸・アミノ酸・金属・糖類などを一台の装置で分析可能

分離装置
その他理化学機器

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【WEB】改善につなげる　作業手順書の作り方セミナー

株式会社T.M.A.

標準作業で現場を変える｜作業手順書づくりと改善の実践セミナー

ビジネススキルセミナー

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【WEB】改善につなげる　作業手順書の作り方セミナー標準作業で現場を変える｜作業手順書づくりと改善の実践セミナー

【こんな方におすすめ】・改善をすすめたい方・作業手順書を作成・改訂する担当者・製造現場の標準化を担当している方・現場の教育・OJTを担当している方・現場リーダー、班長、職長、係長・作業者による品質・作業方法のばらつきを減らしたい方・「手順書はあるが、現場で活用されていない」と感じている方作業手順書は「作業を教えるための説明書」ではありません。特定の人に頼らない現場をつくり、改善を進めるためには「標準」が必要です。改善とは、標準を良い方向に変えること。標準がないところに改善はありません。まず、現場で行う作業の「手順」「やり方」「時間」を決め、それを標準として明確にすることから改善は始まります。標準と実際の作業を比較することで、問題やムダが見え、より良い標準へと変えていくことができ、動画による技能伝承も、「何が正しい作業なのか」という標準が必要です。本セミナーでは、改善の基礎となる作業手順書の作り方から、教育・技能伝承への活用、改善につなげる考え方まで、実践的に学びます。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。

Bio Fragment Analyzer Qsep Ultra

PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス

分離装置
その他増幅・PCR

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顕微分光膜厚計 OPTM series　

1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

膜厚計

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【医薬品向け】ELSZneo：製剤の安定性評価に

希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

その他計測・記録・測定器

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分光配光測定システム　GP series　　　

分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！　

分光分析装置

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紫外放射照度測定システム MCPD series　

紫外域でも高精度な測定を実現！

その他電子計測器
その他計測・記録・測定器
光源・照明

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全光束測定システム HM/FM series　　　

LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

分析機器・装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

分光全放射束測定システム HM/FM series　

IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応

分光分析装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

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高速LED光学特性モニター LE Series　

光ファイバーにより自由な測定系が可能　LED生産工程での光学特性を高速で評価

LED照明
光源・照明
光学測定器

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

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リポソームの粒子径とゼータ電位評価　

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

分析機器・装置

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分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3　　

各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！　

膜厚計

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

鉄材製品

株式会社富士精密

鉄材の切削加工になります。

旋盤

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リタデーション測定装置 RETS-100nx　