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材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考察
ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン（HDPE）と 低密度ポリエチレン（LDPE）の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現象などを様々な分析手法から考察致します。 【事例内容】 ■FT-IRによる主骨格の比較分析 ■EGA-MSによる熱分解温度の比較分析 ■熱分解GC-MSによる熱分解生成物の比較分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
低分子シロキサンの確認手法！どの程度の発生量であるかなども分析可能
シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる アウトガス定量分析をご紹介。 HS-GCMS分析は、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを 発生させるような部材が無いか、またどの程度の発生量であるかの分析が 可能です。サンプルサイズや条件など、お気軽にお問い合わせください。 【シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析】 ■シリコーン系粘着剤を使用しているテープをバイアル瓶に封入 ■130℃で30分加温した後、発生したアウトガスをヘッドスペースGCMSにて分析 ■検出された低分子シロキサンについては、環状シロキサンD5換算にて 定量を行った ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ラマンスペクトルを測定！カーボン材料の構造や結晶性に関する情報を得る事が可能
カーボン材料はグラファイト、活性炭、カーボンファイバーなど様々な ものがあり、リチウムイオン電池の負極活物質や、導電性プラスチック用 添加剤、インク、CFRPなどの用途で幅広く使用されています。 当社では、ラマン分析によりカーボン材料の構造の違いを評価。 CB、活性炭ではグラファイトに比べGバンドのピークがブロードになり、 半値幅が大きくなりました。 これは、結晶子サイズが異なる事を示しており、グラファイトはCB、活性炭 より結晶子サイズが大きい事が分かります。 【カーボン材料によるラマンスペクトルの違い】 ■グラファイトは1580cm-1付近のGバンドが強くシャープに検出 ■グラファイトの単位格子である六員環構造の崩れや、積層状態の 網面がより無秩序に重なりあっている事を示す ■CB・活性炭では、グラファイトに比べGバンドのピークが ブロードになっており、半値幅が大きい ■グラファイトはCB、活性炭より結晶子サイズが大きい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度、湿度、光の影響でアルドール反応が進行！エタノール・アセトン中の不純物分析例
高純度品の溶媒を不適切な環境下にて保管した場合に、溶媒から確認された 不純物を液打ちGC-MSにて分析した例をご紹介します。 冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みのプラスチック 製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置。結果、ホウ酸トリエチル及び アルキルベンゼン類などの不純物が検出されました。 また、冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているアセトンを、遮光性の無い透明な ガラス瓶に入れ室温環境下で約一か月放置した結果、ジアセトンアルコールが 不純物として検出されました。 【エタノール中の不純物分析】 ■冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みの プラスチック製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置 （洗瓶の口は開いている為密閉はされていない） ■結果：ホウ酸トリエチル及びアルキルベンゼン類などの不純物が検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複数の手法で再⽣素材、原料の⽐較分析評価を⾏い、SDGsを視野に入れたモノづくり、研究開発をアシストします
環境に配慮、そして無駄のない開発製造という姿勢が、技術分野に 求められ、世界全体で地球規模の視点で技術貢献する必要があります。 本資料では、廃棄され浮遊するマイクロプラスチックの物質特定と ともに、リサイクル原料の劣化程度を⽐較分析した事例をご紹介し、 使⽤可否判断をアシストします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■マイクロプラスチック物質の特定分析事例 ■未使用ポリプロピレン原料と再生品(ペレット)の分子量分布の比較事例 ■顕微IR分析によるポリエチレンテレフタレート(PET)原料の比較分析事例 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
1試料、Refとの比較込み！候補となる分析手法をまとめて実施
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。 【特長】 ■結果が得られたデータのみ報告 ■結果報告は最大2手法まで ■3手法以上の結果報告をご希望の場合は、別途費用が発生 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FT-IRとSEM-EDXを用いて有機・無機複合材の分析を行った例をご紹介！
FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析についてご紹介いたします。 ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を 行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。 また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定を行い、EDXスペクトル と反射電子像を得たところ、光沢の無い部分は光沢部分と異なり硫黄(S)、 バリウム(Ba)が検出されました。 【分析内容】 ■FT-IRを用いる有機物分析 ・ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定 ■SEM-EDXによる無機物分析 ・光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
一長一短な特長があるためサンプル形態や観察範囲、目的などに応じて選択する必要があります！
当社にて、A社製のVRゴーグルに付随のCMOSイメージセンサ部品について、 部品状態のまま機械研磨にて断面を作製し、CMOSセンサ部品の構造観察を 行いました。 センサ部品構造及びセンサ表面観察では、ガラスフィルタを取り除き CMOSセンサ表面を観察すると、カラーフィルタの配置がベイヤーフィルタと 言われる配置であることが観察されました。 断面作製方法には機械研磨の他、FIBやCPなどイオンビームで加工する方法や ミクロトーム法などがあります。相談は無料ですので、断面作製方法に 迷ったらお気軽にご連絡ください。 【概要】 ■センサ部品構造及びセンサ表面観察 ■機械研磨による断面作製 ■センサチップ表層のSEM観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
1H NMR,13C NMR、及びDEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介！
株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【測定例】 ■1H NMR測定 ■13C NMR測定及びDEPT測定 ■その他のNMR測定手法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介！
当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。 【特長】 ＜FT-IR測定＞ ■有機物の主成分を分析することができる ■一部の無機物も分析することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
BCAの断面解析とX線透過観察
BGA・CSPやCOC微小なバンプや特殊なセンサー、 内蔵部品基板の指定箇所の断面研磨を X線観察により可能にしました。 【特徴】 ○一直線に並んだバンプを均一で水平な研磨に仕上げている顕微鏡の焦点を変えることなく観察が出来ます。 ○BGA等の小さな隙間に樹脂を完全に充填し、汚れ・ダレ・伸びのない断面試料を提供します。 ○X線透過装置は焦点寸法0.25?mによる微細なポイントの設定が可能で、130万画素検出器で動画撮影も出来ます。 ・詳細はお問い合わせ下さい
半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能！
『ELITE』は、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する発熱解析が可能な装置です。 最大約20cm角の広角カメラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますので、その経験を基に不良箇所の 特定や、断面解析による原因特定にも対応します。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■一般的なマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料に併せてカスタマイズ！様々な前処理を併用することで、幅広く分析可能
当社では、試料中の目的成分を薬液で抽出し、その薬液を分析することで 試料中の目的成分の分析(定性・定量)をします。 濃度を変えた既知試料を測定し、その検出強度と濃度から検量線を 作成して、未知試料の濃度測定が可能となります。 オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、 定量分析時の精度が良いです。 【特長】 ■常温粉砕：プラスチック材料の粉砕など ■凍結粉砕：ゴム系材料の粉砕など ■超音波抽出：粉砕後の試料からの抽出 ■遠心分離：～12000rpmまで対応 ■溶剤抽出：水系、有機溶剤系など ■固相抽出：C18系、陽・陰イオン系など ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Tenaxチューブを用いたTD-GC/MS法では、装置に導入される回収ガス量が多く、検出感度の面で有利！
当社で行う、TD-GC/MS(加熱脱着-ガスクロマトグラフ/質量分析装置)による 雰囲気中のガス成分分析についてご紹介いたします。 雰囲気中のガス成分の分析のご要望は多々ありますが、対象となるガス成分の 濃度が薄く、そのままでは分析することは困難です。 Tenaxチューブを用いたTD-GC/MS分析では「二硫化炭素に溶解するガスでないと 分析できない」「採取したガスを二硫化炭素で希釈するため、ガス濃度が薄いと 検出できない」といったことが改善され、より感度の高い測定が可能となりました。 【分析項目】 ■捕集したガス成分の分析 ■定量分析も可能(D8トルエン換算) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
