分析のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分析 - メーカー・企業500社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年10月22日~2025年11月18日
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分析のメーカー・企業ランキング

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  1. Tebiki株式会社 東京都/IT・情報通信
  2. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  3. フォス・ジャパン株式会社 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 ビーエルテック株式会社 東京都/試験・分析・測定
  5. 5 株式会社アイテス 滋賀県/電子部品・半導体

分析の製品ランキング

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  1. 事例で解説『トヨタ流「なぜなぜ分析」の実践方法とポイント』 Tebiki株式会社
  2. 醸造・蒸留アルコール飲料分析 製品カタログ フォス・ジャパン株式会社
  3. 脂肪酸分析 <少量サンプルも可能>【分析事例】 株式会社同仁グローカル
  4. 4 分析、精密天秤│EXPLORERシリーズ ※総合カタログ進呈中 オーハウス コーポレーション 日本支社
  5. 5 洗剤等粘性液体のpHって測定できるの? 株式会社分析センター 第一技術研究所

分析の製品一覧

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【特許調査で競合他社に差をつける(基礎編)】セミナー講演資料

こんな課題をお持ちの技術・開発部門の方へ、セミナー講演資料をご提供(無料)

●発明の先行特許を自分で探せるようになりたい ●特許に関する競合他社の動向調査をしたい ●技術・開発部門の特許調査力の向上によって、発明のレベルUPを図りたい 多くの方にご視聴いただいたWebセミナーにて、パナソニックの特許調査支援サービス「PatentSQUARE」を活用し、技術・開発現場における特許調査の効率化を実現する方法をお伝えしました。 ご好評いただいた当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発現場の特許調査を“AI”が変える! ~技術・開発現場における特許調査の効率化を実現する機能のご紹介~ ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。

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【AIを活用した“攻める”技術動向調査の3STEP】セミナー資料

先行技術を効率的に探したい、そんな課題をお持ちの技術・開発部門の方へ、セミナー講演資料・実践編をご提供(無料)

●技術者がAIを使って「特許調査」をやってみた ●専門スキル不要で本格的に特許調査する方法とは 多くの方にご視聴いただいたWebセミナーにて、「開発現場で使える実践編」として専門スキルを持たない技術者にもできる、「PatentSQUARE」を活用した具体的な特許調査方法をご紹介しました。 ご好評いただいた当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発部門で実践!専門スキル不要で本格的に特許調査する方法とは ~AI を活用した“攻める”技術動向調査 3STEP ご紹介~ 1. AI検索を使った調査の実例、検索条件文を書くコツ 2. 競合会社の技術動向がわかる、マトリクスマップの書き方 3. こうすればカンタン!知財向け調査ツールの使いこなし指南 ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。

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分析訪問セミナー

分析のセミナーを無償にて行います!

お客様のニーズに合わせた技術者訪問の分析セミナーを承っております。 お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。 訪問する技術者の人数・セミナー時間・内容は、ご希望に合わせてカスタマイズが可能です。 お気軽にご相談下さい。

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[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能 ・半導体のドーパント濃度分布計測に有効 ・半導体の極性(p型/n型)の判定は不可 ・定量評価は不可

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[FIB]集束イオンビーム加工

FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です

FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常加工サイズ:~20μm程度) ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製(特定箇所の断面出しが可能) ・微細パターン(数μm~数十μm)のデポジション薄膜形成が可能(C・W・Ptの成膜) ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM(Scanning Ion Microscope)像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒(Al、 Cu等)の観察が可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の主成分評価

実験セルを問わず解体し、分析します

GC/MS分析を用いて電解液の有機溶媒成分を評価した事例を紹介します。 リチウムイオン二次電池の電解液を測定した結果、有機溶媒はエチレンカーボネート(EC)、プロピレンカーボネート(PC)を主成分としていることが分かりました。 この他の成分としてジエチルカーボネート(DEC)、硫黄化合物が検出されていましたが、後者については添加剤由来の可能性が考えられます。

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【分析事例】毛髪内部の金属分布評価

TOF-SIMS分析を用いた毛髪断面の成分分布評価

毛髪を測定し、その内部における成分の分布を得ることは、ヘアケア・染色の影響を調べる際に有効です。 同一人物から白髪・黒髪を採取し、内部の成分分布を評価した事例をご紹介します。 毛髪の断面を作成し、TOF-SIMS測定を行いました。TOF-SIMSでは、金属などの無機物や有機分子の分布情報が得ることができます。今回は毛髪断面における金属の分布に着目して測定を行いました。

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【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

液晶パネルの量産化において、欠陥(異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm~cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。

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【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 1

各成分の毛髪への浸透状態を可視化

日常生活でヘアケア剤を用いていない毛髪であるヒゲを、コンディショナーもしくはトリートメントに浸し、各浸漬条件における成分の浸透状態について調査しました。 コンディショナーに浸漬したヒゲでは、シロキサンが浸漬時間と共に毛皮質まで浸透する一方、高級脂肪酸は抜けている様子が見られました。トリートメントに浸漬したヒゲでは、含窒素有機物は毛皮質には浸透せず毛小皮(キューテクル)周辺にのみ分布している様子が見られました。

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【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

ウェハ・チップを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。 さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。

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【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析

熱分解GC/MSによる有機成分の同定

リチウムイオン二次電池は、金属、無機から有機物質、固体から液体と多種多様な材料が使用されています。各材料の物性や組合せはデバイスの特性・信頼性に大きく反映されますので、材料の正確な解析・評価が必要となります。今回、リチウムイオン二次電池の負極を熱分解GC/MS(pyro-GC/MS)で測定した結果、本バインダ材料はSBR(スチレンブタジエンラテックス)系であることが分かりました。この他にバインダの分解物、反応生成物と推測される芳香族物質も検出されました。

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

リチウムイオン二次電池の電極は、正極・負極ともに活物質・導電助剤・バインダから構成されています。 電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このうち、充填度やボイドを観察する方法として完全ドライ雰囲気で加工・観察が出来るFIB-SEM観察が非常に有効です。更に三次元的な観察(Slice & View)を行うことで電極の様子を直接的に評価することが出来ます。

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【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価

大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います

容量低下が見られるリチウムイオン二次電池負極表面を大気非暴露で評価した結果、100~200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法:FIB‐TEM、 SEM 表面分析:SIMS、XPS、AES、TOF‐SIMS その他構造評価等も可能です。 測定法:SEM・FIB・TEM・XPS・EDX 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価・形状評価・組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

雰囲気制御下で有機EL素子の切削加工を行い、各層の定性スペクトルを抽出した結果を示します。 有機EL素子を雰囲気制御下において切削加工を行うことで、より真の状態に近い各層のスペクトルを取得することができました。

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【分析事例】SIMSによる有機EL素子中不純物の深さ方向分析

有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

有機EL素子の長寿命化には、エレクトロマイグレーションによる劣化の評価が必要なため、電極金属成分の有機層への拡散の状態を調べることが重要です。しかしながら、陰極側から直接分析しても、陽極側からSSDP法*により分析しても、深さ方向分解能が低下し、界面から有機層への拡散を評価することは困難でした。(*SSDP法:裏面側からの分析。分析手法詳細編B0013参照。) そこで、特殊加工によって、陰極/有機層界面および有機層/陽極界面を露出させ、そこから有機層を分析することにより、有機層中を高い深さ方向分解能で評価することが可能になりました。

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