更新日： 集計期間:2025年10月22日～2025年11月18日
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「代表的な混入異物の事例と対策」や「付着異物としてのカビ」などについて解説
必要な情報と交流の場をお届けするとともに、製品開発・人材育成のため の総合的なサポートを目指している株式会社R&D支援センターから、 株式会社R&D支援センターから、技術書籍『異物分析の基礎と応用事例集』の サンプル版を紹介させていただきます。 「異物はどこまで対策すべきか」や「代表的な混入異物の事例と対策」 「付着異物としてのカビ」などを掲載しております。 【掲載内容】 ■異物分析の目的および代表的な異物 ■異物分析前の情報収集と形態・性状の確認 ■異物分析の前処理およびサンプリング技術 ■異物分析手法 ■異物分析事例 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※ダウンロードいただけるPDF資料はサンプル版です。 完全版をご希望の方はお問い合わせ下さい。
適切なツールを適切なタイミングで多様なチームに提供できます！
『Altair RapidMiner』は、非常に困難な障害を克服するお手伝いをする データ分析＆AIプラットフォームです。 すでにデータ分析が確立されたチームには近代化への道を、 これからデータ分析を始めるチームには自動化への道を提供。 アルテアでは、組織に、人材、プロセス、コンピューティング環境、 既存のデータ環境の抜本的な変革を求めず、データ目標の達成を支援します。 【ターゲットに合わせた強力なデータおよび分析機能】 ■データの抽出と変換 ■データと機械学習のワークフローを構築 ■リアルタイムデータの処理と表示 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
弘輝（KOKI）の技術サポートについて動画で分かりやすく解説！！
弘輝（KOKI）は、はんだ付けにおける課題を解決するために、解析・最適化含めた技術的なサポートをご提供しております。 今回は、解析サポートのひとつの事例である「FT-IR分析」について 動画で分かりやすく解説しています。 当社は、はんだ付けに関連した様々な事柄について発信しておりますので ご興味ご関心のある方は、下記リンクまたはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せ下さい。 ‣関連リンク：https://www.ko-ki.co.jp/support/
熱重量分析装置 TGA801 型
最新のハードウェアとタッチスクリーン型インターフェイスを採用したTGA801は、石炭・コークス、セメント、触媒、食品、飼料および製粉製品など、様々な有機物、無機物および人工原料中の水分、灰分、揮発分および強熱減量などを重量法で高精度に分析します。 ■□■特徴■□■ ■試料量：1g ■試料数：1 〜 19 試料 ■精度：0.02%（1s，1g 不活性試料） ■ファーネス温度範囲：室温〜 1000℃ ■ファーネス温度精度：設定温度±2℃ ■天秤分解能：0.0001g ■最大昇温速度：50℃/分 ■雰囲気：空気 or 窒素 or 酸素 ■操作システム：Windows OS ■詳細は、お問い合わせ下さい。
複雑なサンプル中の微量成分の検出が可能！におい・香り分析をご紹介
当社では、「Pegasus BT GC-TOFMS」および「Pegasus BT4D GCxGC-TOFMS」を用いた においおよび香り成分のノンターゲット分析手法を提案しております。 高感度フルスペクトル取り込みにより、複雑なサンプル中の微量成分の検出が可能。 独自のデコンボリューションとGCxGCによる高い分離能により、 複雑な試料中の成分を容易に分離することができます。 また、メンテナンスフリーのイオンソースを備えており、 イオンソース洗浄に関わるダウンタイムがなく、より多くのサンプル分析が可能です。 【特長】 ■優れたデコンボリューションアルゴリズムによる自動ピーク検出 ■当社独自のGCxGCシステム ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小差異解析ワークフローを提案！膨大な成分の中から差の原因となる化合物を特定
材料分析における主な事例として、発生ガス分析、組成分析、分子構造 解析等があります。 当社では、高分子材料の発生ガス分析、熱分解生成物分析、添加剤分析、 劣化解析などに有用なGC-TOFMSを提供。分析目的に合わせた2つのシリーズを ラインアップしております。 お客様の様々なニーズに応じた材料解析手法をご提案しております。 【ラインアップ】 ■Pegasus BT ■Pegasus BT 4D ■Pegasus HRT+ ■Pegasus HRT+4D ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GC分離とフルスペクトルのTOFMSデータは香りの要因となっている化合物の同定に重要です！
GC-MS-Oは化合物の分離と同定を可能にし、サンプルの官能的特長に特に寄与 している化合物を決定することができます。 様々なサンプルが当装置により分析され、これらの情報を一緒に使う利点が 明らかにされました。 この装置の組み合わせはナツメグのエッセンシャルオイルの香りに特に影響を 与える成分のキャラクタリゼーション、シラントロの香りの感覚の違いの区別、 ビールの異臭の決定に有用でした。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
可搬型金属材料分析装置 belec compact port
ポータブル（モバイル）タイプながら、検出器に高感度のフォトマルチプライヤーを採用 抜群の安定性で、屋外でのPMI検査に最適な金属材料分析装置 【特徴】 ○実験室や研究室以外の場所で各種金属材料の定量分析が可能 ○材料の切り出し不要。プローブタイプながら優れた性能 ○専用カートで移動が可能な可搬型（船中、建設現場、各ヤード等) ○PMI検査に最適 ○タッチスクリーンにより操作が簡単 ○温度安定型分光器の採用により、温度変化の影響を受けず高精度で安定した分析が可能 ○高感度フォトマルチプライヤー搭載 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大36チャンネル、6ベース（マルチベース・アプリケーションに最適） ○オプションのバッテリーシステムや小型発電機を使用することで AC電源のない場所でも分析が可能 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア ○短時間での発光分光分析が可能
現地での材料判定で異材を間違えて使用する事故などを防ぐために、発光分光分析 と 蛍光X線分析 いずれかで計測できます。
現地での材料判定で異材を間違えて使用する事故などを防ぐために必要な計測技術です。 IHI検査計測（IIC）では、〈発光分光分析〉と〈蛍光X線分析〉の両方を実施することが可能です。
カーボンニュートラルに貢献するバイオマス燃料の各種分析を実施しております。
工業分析、元素分析、発熱量等の一般性状分析はもちろん、灰に特化した分析や、ペレット向けの分析項目など非常に多くの分析メニューを提供しております。 また、弊社独自技術の「膠着度」を用いた、粗悪バイオマスのアグロメ生成傾向や添加剤評価も好評をいただいております。お気軽にお問合せください。
SIMSによってシリコンへボロンをイオン注入したサンプル分析結果を紹介。
材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン質量 分析（SIMS）が好適です。 ここでは SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によってシリコンへボロンを 3keVのエネルギーでイオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 特に酸素リークによってボロンの深さプロファイルが正確に分析できている ことがわかります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。
当ページでは、SIMS (アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、シリコンへ 砒素をイオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 砒素（75As）はマトリックスであるシリコンと残留ガスである酸素あるいは 水素との複合分子（29Si30Si16O など）が干渉するため、質量分解能が 3190 必要です。 Q ポール型 SIMS では質量分解能が 200 程度しかなく、質量分離が困難です。 しかしシリコンと砒素の複合分子イオンを測定することによって検出下限を 2×1015 [atoms/cm3]に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー ：700 [keV] ■ドーズ量 ：1×1015 [atoms/cm2] ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiC基板へアルミニウムをBOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介。
SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、SiC基板へアルミニウムを BOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 SiC 基板は絶縁性が高いため、1次イオンビームを試料表面に照射すると 電荷が蓄積するため正確な測定が出来ません。そこで 1次イオンビーム 照射部分に低速電子ビームを同時照射し、電荷の蓄積を抑制することで 正確な測定が行えるようになりました。 アルミニウムの質量数(27)はマトリックスであるシリコン(28)と隣接して いるため、測定条件を最適化することによって検出下限を 6×1015 [atoms/cm3]にまで下げることが出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社のESCAは X 線プローブ径を5μmまで絞ることができます。
400LPI の銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）をマイクロ ESCA （Quantum-2000）により分析した例を紹介します。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行いましたが、 二次電子像に対応した銅の分布が得られました。 さらにこのデータから測長機能を利用してメッシュ間距離などを測ることが できます。 また、通常のESCAでは X 線プローブ径が1mm 程度ですが、当社のESCAは X 線プローブ径を5μmまで絞ることができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 X線光電子分光分析（ESCA・XPS）】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
