清浄度分析の受託サービス|JTL
ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します。
清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同様の方法で清浄度の評価が可能です。
- 企業:JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します。
清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同様の方法で清浄度の評価が可能です。
ICPによって不純物として含まれる無機物の測定を実施します。
不純物分析サービスでは、ICPを用いて不純物として試料に含まれる無機物を測定します。 不純物としての評価は製品や材料に対してだけでなく、作業工程上で使用される洗浄液なども対象とすることができます。 洗浄を行うことである元素が増加していく様子をモニターし、その結果から工程管理を行うことも可能です。
今後さまざまな分野での応用が期待されるプラズマ処理を、試作品のプラズマ商社から効果の評価まで、一貫してご提供します。
大気圧プラズマによる接着・接合の試作評価サービスとは、今後さまざまな分野での応用が期待されるプラズマ処理を、試作品のプラズマ照射から効果の評価まで一貫してご提供するサービスです。 プラズマ装置メーカー(株式会社FUJI)との提携により、特殊な条件へのご対応、設備導入まで見据えたサポートが可能です。 受託評価メーカーとして培ってきた技術力で、試作から評価までトータルサポートいたします。
当社はコーティングの製造受託を行っております。製造でのお困りごとがありましたら、ぜひお気軽にお問い合わせください。
コーティング技術でお困りでしたら、ぜひご相談ください。 こんなお悩みありませんか? ー ー ー トッパンインフォメディアなら解決できます! ー ー ー 【コーティング技術(塗布技術)】 ・塗料が均一に塗れない ・薄くコーティングしたい ・性能が安定しない ・小ロットで対応して欲しい ・クリーン環境で製造して欲しい ・塗膜の品質評価も実施して欲しい ⇩ 当社は最先端のエレクトロニクス製品のプロセスに必要不可欠な高性能精密研磨フィルムを長年製造してきた実績があり、高いコーティング技術を保有しております! ※当社HPに製造受託事例が記載されておりますので、ぜひご覧ください。
当社はマイクロスリット加工の製造受託を行っております。製造でのお困りごとがありましたら、ぜひお気軽にお問い合わせください。
マイクロスリット加工技術でお困りでしたら、ぜひご相談ください。 こんなお悩みありませんか? ー ー ー トッパンインフォメディアなら解決できます! ー ー ー 【マイクロスリット加工技術】 ・スリット時の加工歪みや端面のバリを軽減したい ・製品をキレイに巻きたい ・狭い幅でスリットしたい ・軟質材料をスリットしたい ・クリーン環境で製造したい ・梱包が崩れやすくて困っている ⇩ 当社のマイクロスリット加工は高い技術力を保有しており、フィルムの伸びやフィルム端面の歪みやバリを抑制いたします! ※当社HPに製造受託事例が記載されておりますので、ぜひご覧ください。
材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性、発光体の配光特性など、スタンダードな測定メニュをご用意しております。
「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性(透過散乱測定、反射散乱測定)を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定 「紫外可視近赤外分析光度計による分光透過率・反射率測定」 紫外可視から近赤外域までの測定範囲をカバーし、物性の分光特性を解析します。 ●測定応用例 ガラスやプラスチック材料を用いた光学部品の透過率、反射率、及び製品の光学特性の測定
ベアチップ実装・マイクロ接合技術のノウハウを活かした開発・試作・評価サービス
当社の実装技術を駆使し、商品開発における機能・性能評価サンプルや実装開発における工法・材料評価サンプル、特殊基板へのベアチップ実装、基板間マイクロ接合等の試作・評価を行っています。 試作時にお客様から支給された材料の組み合わせ以外にも、ご依頼いただいた製品に対してベストな工法や材料の組み合わせをご提案しています。 特殊基盤への実装も可能で、試作個数一つからお受けしています。
設計から中規模量産までトータルサポート!柔軟な生産体制で特定作業のみ・少量のご依頼も承っています!
ベアチップ実装、マイクロ接合技術による小型化・モジュール開発の設計から中規模量産までワンストップサポートしています。 月産数10個~10万個程度の中規模量産に対応。 ダイシング以降の作業をすべて社内工場で対応しているため、特定作業のみ・一点からのご依頼もご相談ください。
電動化・コネクテッド化を支援する試験技術【EMC試験・信頼性試験】
■1■ EV/HV向け車載部品 実負荷環境下でのEMC試験サービス 【規格】CISPR 25:2016 Ed.4 Annex I、ISO 11452-2 Ed.3 Clasue 8、GB/T 36262-2018 ●愛知県みよし市オートモーティブ テクノロジー センター「EHV Chamber」1基 、「リバブレーションチャンバー」1基 ●千葉県香取市鹿島EMC試験所「次世代モビリティ棟」「EHV Chamber」2基 ■2■ 建設機械などの大型機器に対応可能なEMC試験サービス 【規格】建機向け欧州規格「EN ISO 13766-1、2:2018」- 2021年強制化 ●電波暗室内寸法:縦18.2m x横23.2m x高さ11.0m ●入口寸法:幅8m x高さ8m ●耐荷重100t ●大型機器に対応する排気設備 ■3■ 車載機器に特化した信頼性試験 (環境試験・耐久性試験) サービス 【規格】IEC/ISO国際規格、日本自動車技術会の環境試験規格、国内外自動車メーカーの独自規格 ●温度湿度 ●冷熱衝撃 ●スプラッシュウォーター ●振動衝撃 ●塩水腐食 ●防水防塵 など。
半導体から医療まで様々な製品への注入が可能! Si SiC GaN等に好適!
弊社のイオン注入サービスは装置を多数所有しているため、多種多様なニーズにお応えすることが可能です。 【特徴】 ・約60種の多様なイオン種に対応 ・小片から300mm(12インチ)まで幅広いサイズに対応 ・半導体はもちろん有機物などへの対応も可能 ・室温~600℃までの高温注入へ対応 【その他】 ・イオン注入のシュミュレーションにも対応しております。 ・高温アニール含めイオン注入前後工程のご相談ください。 ・イオン注入評価を中心に受託分析も対応しております。
特殊ボルト、ギヤブランクなどを熱間据込み鍛造にすると大幅にコストダウンできます!
当社では、中少量品に対応した『熱間据込み鍛造』を行っております。 長尺ものに対応しており、フリクションプレスによる場合は、材料全長650まで、 電気アプセッターによる場合は、全長1500まで鍛造が可能です。 一般にプレスによる据込み鍛造の場合は、4.5倍が据込み比の限界ですが、 当社では、工程を工夫してより大きな据込み比を可能にしています。 【特長】 ■中少量品に対応(100個/ロット~) ■金型費用が安価 ■長尺ものに対応 ■据込み比の大きいものが鍛造可能 ■シャフトワークの各種形状が鍛造可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ESD/ラッチアップ試験受託サービス
半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合は、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。
半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気破壊)に対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。
デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESDに対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA(EIAJ)、AEC に対し ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM) の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。(要相談)